MS46524Bは、4ポートPerformance ShockLineベクトルネットワークアナライザのシリーズです。クラス最高のダイナミックレンジをはじめ、これまでにない機能と性能を備えたPerformanceシリーズは、43.5 GHzまでのさまざまな試験用途で、試験コストを抑え、市場投入までの時間を短縮します。MS46524Bのアプリケーションには、マルチポートのモバイルネットワーク機器、モバイルデバイス、自動車用ケーブル、高速データインタコネクト、システム統合コンポーネントなどがあります。
オプション10、20 および43で構成されたMS46524Bは、Performance ShockLineシリーズにRFからマイクロ波周波数の能力をもたらし、パワフルなShockLineソフトウェアとの組み合わせでパッシブデバイスの試験にコスト効果の高いソリューションを提供します。
タイムドメイン解析を必要とするアプリケーションに、オプション2と22が利用可能です。オプション2を装備するMS46524Bにより、リアルタイムでバンドパスおよびローパスタイムドメイン機能を可能にします。ローパスタイムドメインは、距離や時間軸上で実際のインピーダンスを示す機能でTDRのような表示を可能にします。オプション22はシグナルインテグリティ問題のデバッグや回路モデルを有効にするファイルベース・シグナルインテグリティ（SI）ツールをMS46524Bに装備します。
MS46524B-010 は利用可能な追加オプションがあります。オプション51と61、アクセスループおよびバイアスティーは、カスタム・テスト・セットアップのために最大限の柔軟性を可能にします。アクセスループは機器のノイズフロアを下げレシーバ飽和ポイントを高くして広いダイナミックレンジのDUTの試験を可能にします。バイアスティーは試験中にバイアスが必要なデバイス試験にDC電源を提供します。
MS46524Bシリーズは3Uサイズの筐体で提供され、他のShockLineファミリと同じGUI、ソフトウェア、コマンド構文、ドライバ、およびプログラミング環境を使用しています。
- Specified performance to 43.5 GHz with Extended K™ ports
- パッシブマルチポートおよび差動デバイスのシグナルインテグリティ試験に最適
- アドバンスドタイムドメインオプションで、シグナルインテグリティ（SI）解析のためのツールを提供
- 優れたダイナミックレンジにより、フィルタなどの非常に大きな減衰量の測定が可能
- 優れた補正後の方向性により、測定不確実性が最小限
- SmartCal自動校正ユニットにより、校正および設定に要する時間を短縮
- タイムゲート付きタイムドメインオプションで、TDR同様の測定が可能
- GPIBより高速な、最新のLANインターフェイスによるリモート制御
- ShockLineファミリ共通のGUIおよびSCPIインターフェイス
- コンパクトな3U筐体、ラックスペースを有効に利用
- アクセスループとバイアスティーオプションで最大限のカスタム・テスト・セットアップが可能
- Universal Fixture Extraction (UFX) software option provides advanced de-embedding tools for test fixture extraction
精密自動校正モジュール
| 形名 |
説明 |
| MN25208A |
2ポートUSB SmartCalモジュール、300 kHz～8.5 GHz（コネクタオプション：-001 N、-002 K、-003 3.5 mm） |
| MN25408A |
4ポートUSB SmartCalモジュール、300 kHz～8.5 GHz（Nコネクタ） |
| MN25218A |
2ポートUSB SmartCalモジュール、1 MHz～20 GHz（Kコネクタ） |
| MN25418A |
4ポートUSB SmartCalモジュール、300 kHz～20 GHz（Kコネクタ） |
| 36585K-2M |
K精密AutoCalモジュール、70 kHz～40 GHz、K（m）～K（m） |
| 36585K-2F |
K精密AutoCalモジュール、70 kHz～40 GHz、K（f）～K（f） |
| 36585K-2MF |
K精密AutoCalモジュール、70 kHz～40 GHz、K（m）～K（f） |
| 2000-1809-R |
シリアル～USBアダプタ（36585 AutoCalモジュール使用時に必要） |
O/E校正モジュール
| 形名 |
説明 |
| MN4765B-0040 |
2ポート、800 nm～890 nm、O/E校正モジュール、70 kHz～40 GHz |
| MN4765B-0042 |
2ポート、800 nm～1700 nm、O/E校正モジュール、70 kHz～40 GHz |
| MN4675B-0043 |
2ポート、800 nm～1700 nm、1300 nm～1330 nm、および1530 nm～1620 nm、O/E校正モジュール、70 kHz～40 GHz |
| MN4765B-0070 |
2ポート、1480 nm～1620 nm、O/E校正モジュール、70 kHz～70 GHz |
| MN4765B-0071 |
2ポート、1300 nm～1330 nm、O/E校正モジュール、70 kHz～70 GHz |
| MN4765B-0072 |
2ポート、1530 nm～1620 nmおよび1300 nm～1330 nm、O/E校正モジュール、70 kHz～70 GHz |
メカニカル校正キット
| 形名 |
説明 |
| 3650A |
SMA/3.5 mm校正キット、スライディングロードなし、DC～26.5 GHz、50 Ω |
| 3650A-1 |
SMA/3.5 mm校正キット、スライディングロードあり、DC～26.5 GHz、50 Ω |
| 3652A |
Kコネクタ校正キット、スライディングロードなし、DC～40 GHz、50 Ω |
| 3653A |
Nコネクタ校正キット、スライディングロードなし、DC～18 GHz、50 Ω |
| OSLN50A-8 |
精密Nオス、オープン/ショート/ロードメカニカル校正ティー、DC～8 GHz、50 Ω |
| OSLNF50A-8 |
精密Nメス、オープン/ショート/ロードメカニカル校正ティー、DC～8 GHz、50 Ω |
| TOSLN50A-8 |
精密Nオス、スルー/オープン/ショート/ロードメカニカル校正ティー、DC～8 GHz、50 Ω |
| TOSLNF50A-8 |
精密Nメス、スルー/オープン/ショート/ロードメカニカル校正ティー、DC～8 GHz、50 Ω |
| OSLN50A-18 |
精密Nオス、オープン/ショート/ロードメカニカル校正ティー、DC～18 GHz、50 Ω |
| OSLNF50A-18 |
精密Nメス、オープン/ショート/ロードメカニカル校正ティー、DC～18 GHz、50 Ω |
| TOSLN50A-18 |
精密Nオス、スルー/オープン/ショート/ロードメカニカル校正ティー、DC～18 GHz、50 Ω |
| TOSLNF50A-18 |
精密Nメス、スルー/オープン/ショート/ロードメカニカル校正ティー、DC～18 GHz、50 Ω |
| TOSLK50A-20 |
精密Kオス、スルー/オープン/ショート/ロードメカニカル校正ティー、DC～20 GHz、50 Ω |
| TOSLKF50A-20 |
精密Kメス、スルー/オープン/ショート/ロードメカニカル校正ティー、DC～20 GHz、50 Ω |
| TOSLK50A-40 |
精密Kオス、スルー/オープン/ショート/ロードメカニカル校正ティー、DC～40 GHz、50 Ω |
| TOSLKF50A-40 |
精密Kメス、スルー/オープン/ショート/ロードメカニカル校正ティー、DC～40 GHz、50 Ω |
| TOSLK50A-43.5 |
精密Kオス、スルー/オープン/ショート/ロードメカニカル校正ティー S1Pデータベース校正データ付き、DC～43.5 GHz、50 Ω |
| TOSLKF50A-43.5 |
精密Kメス、スルー/オープン/ショート/ロードメカニカル校正ティー S1Pデータベース校正データ付き、DC～43.5 GHz、50 Ω |
検証キット
ケーブルとアダプタ
| 形名 |
説明 |
| N120-6 |
RFケーブル、セミリジッド、N（m）～N（m）、各0.01 GHz～18 GHz、50 Ω、15 cm（5.9 in） |
| NS120MF-6 |
RFケーブル、セミリジッド、N（f）～N（f）、各0.01 GHz～18 GHz、50 Ω、15 cm（5.9 in） |
| 1091-26-R |
SMA（m）～N（m）、DC～18 GHz、50 Ω |
| 1091-27-R |
SMA（f）～N（m）、DC～18 GHz、50 Ω |
| 1091-80-R |
SMA（m）～N（f）、DC～18 GHz、50 Ω |
| 1091-81-R |
SMA（f）～N（f）、DC～18 GHz、50 Ω |
| 71693-R |
高耐久化アダプタ、K（f）～N（f）、DC～18 GHz、50 Ω |
| 34NN50A |
精密アダプタ、N（m）～N（m）、DC～18 GHz、50 Ω |
| 34NFNF50 |
精密アダプタ、N（f）～N（f）、DC～18 GHz、50 Ω |
| 34NK50 |
精密アダプタ、N（m）～K（m）、DC～18 GHz、50 Ω |
| 34NKF50 |
精密アダプタ、N（m）～K（f）、DC～18 GHz、50 Ω |
| 34NFK50 |
精密アダプタ、N（f）～K（m）、DC～18 GHz、50 Ω |
| 34NFKF50 |
精密アダプタ、N（f）～K（f）、DC～18 GHz、50 Ω |
| K220B |
精密アダプタ、K（m）～K（m）、DC～40 GHz、50 Ω |
| K222B |
精密アダプタ、K（f）～K（f）、DC～40 GHz、50 Ω |
| K224B |
精密アダプタ、K（m）～K（f）、DC～40 GHz、50 Ω |
| 33KK50C |
校正グレードアダプタ、K（m）～K（m）、DC～43.5 GHz、50 Ω |
| 33KKF50C |
校正グレードアダプタ、K（m）～K（f）、DC～43.5 GHz、50 Ω |
| 33KFKF50C |
校正グレードアダプタ、K（f）～K（f）、DC～43.5 GHz、50 Ω |
| 34VFK50A |
精密アダプタ、V（f）～K（m）、DC～43.5 GHz、50 Ω |
| 34VFKF50A |
精密アダプタ、V（f）～K（f）、DC～43.5 GHz、50 Ω |
| 34VK50A |
精密アダプタ、V（m）～K（m）、DC～43.5 GHz、50 Ω |
| 34VKF50A |
精密アダプタ、V（m）～K（f）、DC～43.5 GHz、50 Ω |
テストポートケーブル、柔軟性、補強型、位相安定性
| 形名 |
説明 |
| 15NNF50-1.0B |
外装テストポートケーブル、N(m)-N(f)、DC～18 GHz、1.0 m(39.4”)、50 Ω |
| 15NNF50-1.5B |
外装テストポートケーブル、N(m)-N(f)、DC～18 GHz、1.5 m(59”)、50 Ω |
| 15NN50-1.0B |
外装テストポートケーブル、N(m)-N(m)、DC～18 GHz、1.0 m(39.4”)、50 Ω |
| 15LL50-1.0A |
外装テストポートケーブル、3.5 mm(m)-3.5 mm(m)、DC～26.5 GHz、1.0 m(39.4”)、50 Ω |
| 15LLF50-1.0A |
外装テストポートケーブル、3.5 mm(m)-3.5 mm(f)、DC～26.5 GHz、1.0 m(39.4”)、50 Ω |
| 15KK50-1.0A |
外装テストポートケーブル、K(m)-K(m)、DC～26.5 GHz、1.0 m(39.4”)、50 Ω |
| 15KKF50-1.0A |
外装テストポートケーブル、K(m)-K(f)、DC～26.5 GHz、1.0 m(39.4”)、50 Ω |
| 3671KFS50-60 |
フレキシブル位相安定ケーブル、K(f)-3.5 mm(m)、DC～26.5 GHz、63.5 cm(25”)、50 Ω |
| 3671KFK50-60 |
フレキシブル位相安定ケーブル、K(f)-K(m)、DC～40 GHz、63.5 cm(25”)、50 Ω |
| 3671KFKF50-60 |
フレキシブル位相安定ケーブル、K(f)-K(f)、DC～40 GHz、63.5 cm(25”)、50 Ω |
| 3671KFK50-100 |
フレキシブル位相安定ケーブル、K(f)-K(m)、DC～40 GHz、1.0 m(39.4”)、50 Ω |
| 806-304-R |
フレキシブル位相安定ケーブル、K(m)-K(f)、DC～40 GHz、1.0 m(39.4”)、50 Ω |
| 806-423-R |
フレキシブル位相安定ケーブル、K(f)-K(f)、DC～43.5 GHz、61 cm(24”)、50 Ω |
| 806-424-R |
フレキシブル位相安定ケーブル、K(m)-K(f)、DC～43.5 GHz、61 cm(24”)、50 Ω |
| 806-425-R |
フレキシブル位相安定ケーブル、K(f)-K(f)、DC～43.5 GHz、1.0 m(39.4”)、50 Ω |
| 806-426-R |
フレキシブル位相安定ケーブル、K(m)-K(f)、DC～43.5 GHz、1.0 m(39.4”)、50 Ω |
位相安定 18 GHz、40 GHz、および43.5 GHzセミリジッドケーブル（外装）
| 形名 |
説明 |
| 3670N50-1 |
セミリジットケーブル、N(m)-N(f)、DC～18 GHz、30.48 cm(1 ft)、50 Ω |
| 3670N50-2 |
セミリジットケーブル、N(m)-N(f)、DC～18 GHz、60.96 cm(2 ft)、50 Ω |
| 3670NN50-1 |
セミリジットケーブル、N(m)-N(m)、DC～18 GHz、30.48 cm(1 ft)、50 Ω |
| 3670NN50-2 |
セミリジットケーブル、N(m)-N(m)、DC～18 GHz、60.96 cm(2 ft)、50 Ω |
| 3670K50A-1 |
セミリジットケーブル、K(m)-K(f)、DC～43.5 GHz、30.48 cm(1 ft)、50 Ω |
| 3670K50A-2 |
セミリジットケーブル、K(m)-K(f)、DC～43.5 GHz、60.96 cm(2 ft)、50 Ω |
USB Power Sensors
| Model Number |
Description |
| MA24106A |
True-RMS USB Power Sensor, 50 MHz to 6 GHz
|
| MA24108A |
True-RMS USB Power Sensor, 10 MHz to 8 GHz
|
| MA24118A |
True-RMS USB Power Sensor, 10 MHz to 18 GHz
|
| MA24126A |
True-RMS USB Power Sensor, 10 MHz to 26 GHz
|
| MA24330A |
Microwave CW USB Power Sensor, 10 MHz to 33 GHz
|
| MA24340A |
Microwave CW USB Power Sensor, 10 MHz to 40 GHz
|
| MA24350A |
Microwave CW USB Power Sensor, 10 MHz to 50 GHz
|
Tools
| Model Number |
Description |
| 01-200 |
Calibrated Torque End Wrench, GPC-7 and Type N
|
| 01-201 |
Torque End Wrench, 5/16 in, 0.9 N·m (8 lbf·in)
(for tightening male devices, for SMA, 3.5 mm, 2.4 mm, K, and V connectors)
|
| 01-203 |
Torque End Wrench, 13/16 in, 0.9 N.m (8 lbf·in) (for tightening ruggedized SMA, 2.4 mm, K and V test port connectors)
|
| 01-204 |
End Wrench, 5/16 in, Universal, Circular, Open-ended
(for SMA, 3.5 mm, 2.4 mm, K, and V connectors)
|
Anritsu has partnered with the following industry-leading companies to provide a variety of proven material measurement capabilities that are compatible with the VectorStar and ShockLine vector network analyzer families.
Material Measurements
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AET, Inc
Providing Resonant Cavity and Open Coaxial Resonator material measurement solutions with MS46122B.
Microwave Dielectric Measurement System
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Compass Technology
Choose from off-the-shelf or custom-designed RF material measurement systems able to measure material properties from 100 MHz to 90 GHz. These solutions include: focused beam, resonant cavity, waveguides, spot probes, free space measurement systems, and more.
Anritsu and Compass Technology Group Material Measurements Solutions
Compass Technology Group VectorStar Integration [video]
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|
Keycom Technologies
Select from a variety of material measurement solutions that leverage various methods including: resonator, frequency change, probe type, co-axial tube and waveguide type S-parameter, free space, capacitance, epsilometery, and more.
Anritsu and Keycom Material Measurement Solution
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SWISSto12
Providing hardware and software technology capable of measuring: solid samples; soft sample and foam; liquid samples and powder; thin films; dielectric coatings and multilayer materials; alumina plate; and more.
Anritsu and SWISSto12 Material Measurement Solution
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Delta-L PCB insertion loss testing
