■ OTDRと可視光源を同時に使用可能
OTDRで試験を実施しながら、別のポート（可視光源ポート）で可視光源を使用した心線対照、および目視試験を実施できます。OTDRの測定画面のままワンボタンで可視光源のON/OFFの操作ができます。
■ 光源と光パワーメータを使用した光損失試験
MT9082B2シリーズのOTDRポートは、心線対照用の安定化光源としても使用できます。この光源に対し、3種類の光パワーメータのラインアップの中から用途に応じてオプション選択でき、高精度の損失試験を行えます。MT9082B2は、FTTHのトラブルシューティングにも威力を発揮します。
■ ファイバスコープ接続機能
光コネクタ端面のキズや汚れが原因により、大きな反射や損失が生じたり、コネクタ端面の焼損などの事故につながることがあります。ファイバスコープ（別売）をMT9082B2に接続することにより、ディスプレイ上で局舎内にある通信装置や光ファイバのコネクタ端面のチェックができます。
| Opt.
|
波長*1 |
被測定ファイバ |
パルス幅 |
ダイナミックレンジ*2、*3、*8、*9 |
デッドゾーン（フレネル反射）*4 |
デッドゾーン（後方散乱光）*5 |
| 053 |
1310 nm/1550 nm ±25 nm |
SMF（ITU-T G.652）:10 μm/125 μm |
3、10、20、50、100、200、500 ns、1、2、4、10、20 μs |
42 dB/41 dB |
≦1 m、≦0.8 m（代表値） |
≦5 m/5.5 m |
| 055 |
1310 nm/1550 nm ±25 nm、1645 nm～1655 nm*6 |
42/41/35 dB |
≦5/5.5/6.5 m |
| 057 |
1310/1550/1625 nm ±25 nm |
40/39/38 dB |
≦6/6.5/7.5 m |
| 063 |
1310 nm/1550 nm ±25 nm、850 nm/1300 nm ±30 nm |
SMF：上記に同じ
MMF：62.5 μm/125 μm *7 |
SMF：3、10、20、50、100、200、500 ns、1、2、4、10、20 μs
MMF：3、10、20、50、100、200、500、1000、2000、4000 ns （850 nmは、1000、2000、4000 nsを除く） |
42 dB/41 dB
29 dB/28 dB |
≦5 m/5.5 m、
≦4 m/5 m（3 m/4 m 代表値） |
| *1： |
パルス幅：1 µs（Opt.055、057、063、073の1.31 µm/1.55 µm）、100 ns（Opt.063の0.85 µm/1.3 µm）25°C |
*2：
|
パルス幅：20 µs（Opt.055、057、063、073の1.31 µm/1.55 µm）、4 µs（Opt.063の1.3 µm）、500 ns（Opt.063の0.85 µm）
距離レンジ：100 km（Opt.053、055、057、063の1.31 µm/1.55 µm）、25 km（Opt.063の0.85 µm/1.3 µm）
アベレージ：180秒、25°C |
| *3： |
ダイナミックレンジ（片道後方散乱光）、SNR=1：口元後方散乱光レベルとの差 |
| *4： |
パルス幅：3 ns（Opt.055、057、063、073の1.55 µm）反射減衰量：40 dB、25°C。反射波形のピークから1.5 dB下がったところの幅 |
*5：
|
パルス幅：10 ns、反射減衰量：55 dB、デビエイション：±0.5 dB、25°C（Opt.055、057、063、073： 850 nm/1300 nmの波長は除く。）パルス幅：3 ns、反射減衰量：40 dB、デビエイション：±0.5 dB、25°C（Opt.063の0.85 µm/1.3 µm） |
| *6： |
尖頭値から20 dB下の波長範囲。尖頭値+15 dBm以下 |
| *7： |
50 µm/125 µmのMMファイバ接続時は、ダイナミックレンジが約3 dB低下します。 |
| *8： |
1.65 µmのとき：背景光あり。1.31 µm/1.55 µm、-19 dBm CW光 |
| *9： |
代表値。保障値は、代表値から1 dB差し引いた値 |