AI・データセンタ時代の誘電率測定
高速インタフェースの信号品質を確保するための材料特性評価
AI・データセンタでは、PCIeやEthernetをはじめとする高速インタフェースの広帯域化・高周波化が急速に進んでいます。その結果、システム性能や消費電力は、プロセッサの演算性能だけでなく、電子回路基板（PCB）や、ICやコネクタなどのパッケージの材料が持つ電気特性に大きく左右されるようになっています。
誘電率測定システム
エーイーティー×アンリツ
キーコム×アンリツ
特に、高速伝送向けには、信号の伝送損失や伝搬遅延に直結する材料の比誘電率（Dk/εr）および誘電正接（Df/tanδ）が重要な指標の一つになります。これらの材料特性を正確に把握できていない場合、シミュレーション結果と実測結果の乖離（かいり）や設計後期での手戻りにつながるリスクが高まります。
今後さらなる伝送の高速化に伴い、基板材料（CCL）には、現在のDf = 0.0015〜0.0013程度から、2029年頃にはDf ≦ 0.001の超低損失特性が求められると見込まれています。材料に対する要求性能は年々厳しさを増しており、材料選定や評価には、より高い測定精度と再現性が求められています。
参考のため、下図に代表的な基板材料の特性を整理しています。
アンリツは、こうした高速インタフェース向け材料評価の要求に対応するため、材料の形態や求められる周波数帯・測定精度に応じた比誘電率測定システムを提供しています。
パートナー企業の各種測定治具・評価手法と、アンリツのベクトルネットワークアナライザを組み合わせることで、研究開発から材料選定、設計検証までを支援する最適な誘電率測定環境を提案します。
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