MP2110Aで光モジュール・光デバイスの生産効率向上・生産コスト削減を実現

アンリツ株式会社（社長 橋本 裕一）は、光モジュール・光デバイスの製造・検査用測定器であるBERTWave MP2110Aのサンプリングオシロスコープ機能を強化。新たに開発したオプションを、1月17日から販売いたします。

今回開発したオプションは次の3種類です。

• オプション054 波形解析用クロックリカバリ (電気/光)
• オプション095 PAM4解析ソフトウェア
• オプション096 Jitter解析ソフトウェア

これらのオプションをMP2110Aに搭載することにより、光モジュールや光デバイスの評価で必要とされる波形生成、 PAM4^[※1]信号の解析、ジッタの解析が1台の測定器で行え、検査時間の短縮、歩留まり向上、設備投資の低減に寄与します。

開発の背景

定額制の動画サービスやクラウドサービスの普及にともない、データ通信量は増大の一途にあります。このため、伝送装置の光インターフェースや光モジュール、光デバイスの高速化が必須となっています。

これら光部品の生産では、 BER測定^[※2]やサンプリングオシロスコープを用いた波形解析が行われています。

アンリツは従来からこの用途のための測定器として、BER測定器とサンプリングオシロスコープを一体化したBERTwave2110Aを提供しています。

さらに今回、サンプリングオシロスコープ機能を強化し、高速化のキーテクノロジーとなっているPAM4方式の信号解析を実現しました。またサンプリングオシロスコープの波形観測に必要なトリガ信号の生成や ジッタ^[※3]成分の分離解析も可能とし、お客さまの多様な測定ニーズに対応しました。

製品概要

BERTwave MP2110Aは、BER測定器とサンプリングオシロスコープを一体化した測定器です。今回の開発した次のオプションを使用することにより、従来のBER測定、 アイパターン解析^[※4]に加え、トリガ信号の生成、PAM4信号の解析、ジッタの解析が1台のMP2110Aで行えます。

オプション054 波形解析用クロックリカバリ (電気/光)

入力データ信号からトリガ信号を生成でき、クロック源のない伝送装置でも波形観測が可能になります。安価な測定系で NRZ^[※5]/PAM4両方のクロック再生に対応でき、設備投資費用の削減に貢献します｡また、MP2110A内部の分岐によるロスを減らしたことにより、波形観測を高感度に行えます。

オプション095 PAM4解析ソフトウェア

TDECQ^[※6]などPAM4光信号の解析が行えます。複雑な設定を行うことなく、簡単に評価結果を得ることができるとともに、測定時間を短縮でき、生産性向上に貢献いたします。

オプション096 Jitter解析ソフトウェア

TJ、DJ、RJなどジッタ成分の分離解析を高速かつ簡単に行えます。アイマスク試験も同時に行え、測定時間を短縮できます。

[ BERTWave MP2110Aについてもっと詳しく]

主な特長

PAM4光デバイス・モジュールの生産性向上に貢献

MP2110Aを使用することにより、PAM4方式の光モジュールや光デバイスの 評価が短時間かつ高感度に行え、歩留まり向上に貢献します。

設備コスト低減に貢献

1台のMP2110AでBER測定、アイパターン解析、PAM4信号解析、ジッタ解析が行えます。

対象市場・用途

対象市場：

光部品関連メーカー

用途：

光モジュール(CFP2/4/8、QSFP28、SFP28、OSFP、QSFP-DDなど)、光デバイス、Active Optical Cable、光デバイスの製造・検査