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4ch BERT + サンプリング・オシロスコープ:マルチチャネル光モジュール評価トータルソリューション

 

測定時間最大40%削減

*:MP2100Aとの比較

 

4ch BERTとサンプリングオシロスコープを一体化、測定速度の高速化により測定時間の短縮に貢献

 

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マルチチャネル光モジュールや光デバイスの開発・生産工程においては、製品評価のためにBER(ビットエラーレート)測定やアイパターン解析、ジッタ解析が必要となります。
BERTWave MP2100BはBERTおよびサンプリングオシロスコープを1台に内蔵しているため、製造ラインに設置する測定器の数や、実験場所に置く測定器の数を減らすことができます。
また、1台でBER試験とアイパターン解析の同時測定が可能なため効率的な測定が可能です。さらに、サンプリングオシロスコープにMX210001A ジッタ解析ソフトウェアを搭載することにより、ジッタ解析も同時に実施することができるため、製造から開発まで幅広い用途にご使用いただけます。BERTWave MP2100Bは、マルチチャネル光モジュールおよび光デバイスの測定効率化に貢献します。

 

fig3

 

 

Point1  マルチチャネル光モジュールの試験時間を大幅に短縮、検査効率を向上

BER測定、アイパターン解析、アイマスク試験、ジッタ解析を同時測定

BERTWave MP2100Bは、10Gbit/s帯域の光デバイスや光モジュールなどの開発・生産工程で必要とされるBER試験、アイパターン解析、ジッタ解析を1台で同時に実施することができます。複数の項目を並列で同時に測定することで、BER測定およびEye Pattern解析に必要となる測定時間を最大で80%短縮することができます。
また、 BERTWave MP2100Bはサンプリング・オシロスコープのサンプリング速度を150ksample/sに改善したサンプリング速度の高速化により、MP2100Aと比較して1.5倍高速なアイパターン解析が行えます。

 

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Point2  マルチチャネル光モジュールの評価のための測定器

クラウドコンピューティングの普及により、データセンターで使用される光モジュールのマルチチャネル化が進んでおり、マルチチャネル光モジュールの測定には以下の測定項目が必須となっています。BER測定、アイパターン解析、ジッタ解析を高速に同時に実施することができるMP2100BとMS9740A、G0344F 1ch 光スイッチおよびG0350F プログラマブル光減衰器を同時に使用することにより、トリプルトレードオフなどの規格で規定されている測定系を容易に構築でき、開発から製造で使用できるQSFP+のトータルソリューションを提供いたします。

マルチチャネル光モジュールの必須測定
BER解析 4ch全てのBER試験
アイパターン解析 Tr/Tf、振幅など
アイマスク試験 消光比、マスクマージン試験

 

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G0344F 1ch光スイッチおよびG0350F プログラマブル光減衰器を使用

 

 

Point3  4ch 高品質PPG、高感度ED

BERTのチャネルトラッキング機能を使用することにより、4chの設定を一括で行うことができます。また、測定結果を一括で取得する機能を標準で搭載しています。そのため、40GBase(10Gbit/s × 4)のQSFP+のBER測定時間を短縮します。また、BER測定結果のゲーティングタイムを10ms単位で取得できるため、測定時間を短縮できます。

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被測定物の特性を正確に試験するためには、高品質な信号が出力可能なPPGと高受信感度のEDが必要となります。MP2100BのPPGは、Tr/Tf:24ps、ジッタ:1psの高品質な信号出力が可能です。また、EDは、最小10mVp-pの高受信感度です。EDの感度については、下記のようにストレスを加えた信号に対してアイマスク規格を決めているので、より正確な被測定物の感度特性を測定することができます。

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 BERTWave MP2100B についてさらに詳しく
 
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