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10G/40G向けマルチチャネル光モジュール/デバイスの製造・開発に
BERTWave MP2100Bは、BER測定器（BERT）とサンプリング・オシロスコープを1台に搭載した測定器です。MP2100Bは、ビットエラーレート（BER測定）、アイマスク試験、アイパターン解析などの光モジュール評価を 1台で実施できます。
BER測定器（BERT）とサンプリング・オシロスコープは、光通信システムで用いられる光モジュール評価のために必須の測定器です。これまで、QSFP+やSFP+に代表される光モジュールの評価においては、BER測定器（BERT）とサンプリング・オシロスコープをそれぞれ1台ずつ用意する必要がありました。しかし、BERTWave MP2100Bは、最大4chのBER測定器（BERT）とサンプリング・オシロスコープを奥行き18 cmのコンパクトな1台の測定器に集約しました。これにより、測定器設備投資費削減に大きく貢献し、スペースコスト削減にも貢献します。 またBERTWave MP2100Bは、ケーブルのつなぎ変えをすることなくビットエラーレート測定（BER測定）とアイマスク試験、アイパターン解析を同時に実施可能であるため、測定時間を大きく短縮できます。 さらに、 BER測定器（BERT）のチャネル数を最大4chまで拡張できるため、4ch同時のビットエラーレート測定（BER測定）とアイマスク試験、アイパターン解析が同時に実施できます。 また、SFP+も搭載可能であり、光源を別途準備する必要はありません。
BERTWave MP2100BのBER測定器（BERT）は、最大で125 Mbit/sから12.5 Gbit/sまでのビットエラーレート測定（BER測定）が可能です。また、オプションにより4chのBER測定器（BERT）を搭載可能であるため、QSFP+やAOCなどのマルチチャネル光モジュールの試験系を容易に構築できます。さらに、差動信号はビットエラーレート（BER測定）だけでなく、アイマスク試験やアイパターン解析にも対応しています。
BERTWave MP2100Bのサンプリング・オシロスコープは、電気インタフェースの場合25 GHz（代表値）、光インタフェースの場合9 GHz（代表値）の帯域を持っています。 また、サンプリング・オシロスコープにて光信号を測定するために必要なベッセル･フィルタを最大6種類まで搭載できます。これらのベッセル・フィルタを使用することにより、1台でさまざまなアプリケーションの消光比測定、アイマスク試験、アイパターン解析を実施できます。 さらに、BERTWave MP2100Bのサンプリング・オシロスコープは、測定速度の高速化を図るため、Fast Sampling Modeを標準実装しました。このFast Sampling Modeを使用することにより、最大150 ksample/sのサンプリングスピード（従来機種の約1.5倍高速）を実現しました。そのため、高速なアイマスク試験、アイパターン解析を実施できます。
ジッタ解析ソフトウェア MX210001Aを使用することにより、ジッタ解析、アイパターンおよびアイマスク測定が1台で同時に測定でき、150 ksample/sの高速サンプリングを実現したため、測定時間の更なる効率化を実現できます。さらに、MATLAB®と組み合わせることによりWDP、TWDP、dWDPの測定に対応しているため、特定の信号の波形分散の測定ができます。
また、伝送解析ソフトウェア MX210002Aの追加により、デバイスの伝送解析（S21ゲインおよび位相）、リニアイコライザ・フィルタ・エンファシス演算を施した波形シミュレーション機能（De-Embedded）を提供します。波形サンプリングと同時に波形シミュレーションができ、アイパターンやアイマスク測定も同時にできます。さらに、MX210001Aと組み合わせることにより、シミュレーション後の波形においてジッタ測定も同時にできます。
MATLAB®は、The MathWoks Inc.社の登録商標です。
BERT
| 対応ビットレート |
MP2100B-092搭載時 |
MP2100B-092非搭載時 |
PPG、ED共通：可変ビットレート範囲（1 kbit/sステップ）
125 Mbit/s～12.5 Gbit/s |
PPG、ED共通：可変ビットレート範囲（1 kbit/sステップ）
8.5 Gbit/s～11.32 Gbit/s
1/N ビットレート動作範囲
N=2：4.25 Gbit/s～5.66 Gbit/s
N=4：2.125 Gbit/s～2.83 Gbit/s
N=8：1.0625 Gbit/s～1.415 Gbit/s
N=16：531.25 Mbit/s～707.5 Mbit/s
N=32：265.625 Mbit/s～353.75 Mbit/s
N=64：132.813 Mbit/s～176.875 Mbit/s
|
| テストパターン |
PRBS：27-1、29-1、215-1、223-1、231-1（インバートON/OFF）
ユーザデータ：1.3 Mbits プログラマブル（CJPATなどサンプルパターン標準装備） |
| 電気信号出力 |
Data、Xdata |
| 振幅 |
0.1 Vp-p～0.8 Vp-p |
| 電気信号入力 |
Data、Xdata |
| O/E 入力（オプション003） |
光信号 |
| 波長帯域 |
750 nm～1650 nm |
サンプリングオシロスコープ
| 帯域（-3 dB） |
電気：DC～20 GHz（最小）、DC～25 GHｚ（代表値）
光：DC～9 GHz（代表値、フィルタなしでの電気-3 dBカットオフ時） |
| 表示 |
アイパターン、パルスパターン、コヒーレントアイ |
| 測定機能 |
スタティスカル（NRZ）、ヒストグラム、マスクコンプライアンス |
| サンプリング速度 |
通常時：100 ksamples/s （代表値）
Fast Sampling Mode使用時：150 ksample/s（最大） |
| O/E入力（オプション023） |
光信号 |
| 波長帯域 |
750 nm～1650 nm |
| クロックリカバリ（オプション055） |
0.1 GHz～2.7 GHz、8.5 GHz～12.5 GHz |
ジッタ解析ソフトウェア MX210001A
| 動作条件 |
MP2100Bにインストールし、正しいライセンス情報を書き込んだ場合のみ動作可能
インストーラに関してはV3.00.00以降のみ動作可能
他使用条件は MP2100B シリーズに準拠
MATLAB R2010b SP1においてWDP等の動作可能 |
| 測定アルゴリズム |
ヒストグラム法、パターンサーチ法 |
| ヒストグラム法 |
測定項目 |
TJ（1.0E-12）、TJ（ユーザデファイン）、RJ（d-d）、DJ（d-d）、DDPWS、J2ジッタ、J9ジッタ、アイ開口 |
| パターンサーチ法 |
測定項目 |
TJ（1.0E-12）、TJ（ユーザデファイン）、RJ（d-d）、RJ（rms）、DJ（d-d）、PJ（p-p）、DDJ（p-p）、DCD、ISI（p-p）、アイ開口、J2ジッタ、J9ジッタ、DDPWS、PJ周波数 |
| WDP測定 |
WDP測定にはMath Works社製MATLAB® 2010bのインストールが必要 |
| 測定項目 |
WDP、dWDP、TWDP、dTWDP、WDPc、dWDPc、TWDPc、dTWDPc |
伝送解析ソフトウェア MX210002A
| 動作条件 |
MP2100Bにインストールし、正しいライセンス情報を書き込んだ場合のみ動作可能
インストーラに関してはV3.00.00以降のみ動作可能
他使用条件はMP2100Bシリーズに準拠 |
| 測定モード |
トランスミッションアナリシス/ウェーブフォームエスティメイションから選択 |
| トランスミッションアナリシス |
測定項目 |
ゲイングラフ、位相グラフ、グループディレイグラフ
（位相グラフとグループディレイグラフは切替表示） |
ウェーブフォーム
エスティメイション |
イコライザ設定 |
計算への反映・無反映を選択可能 |
| エンファシスフォーマット |
2Post/1Pre、3Post、1Post/1Pre、2Post、1Post |
| デバイス特性 |
拡張子 S2Pファイルを読み出し可能 |
| ジッタ解析 |
波形予測演算結果をMX210001Aに表示する機能
（MX210001Aがインストールされている場合のみ設定可能） |
