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アナログ試験:相互変調特性の測定

アナログ試験:相互変調特性の測定   広ダイナミックレンジ構成
ベースバンド信号加算機能を使用して2つの妨害波(CW)を1つのRFポートから出力する場合、妨害波のひずみ成分が希望波に重畳するため、ダイナミックレンジが制限されます。
左の構成図のように、1つのRFポートから1つの信号だけを出力することで広ダイナミックレンジが実現できます。

 


 

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