展示会
光通信技術展 FOE2011
2011/04/13 - 2011/04/15 , 東京ビッグサイト
アンリツが提案する測定ソリューションです。
40G/100Gテストソリューション
100GbE用EML/光デバイス評価
- 100GbE、25G×4λの評価を実現
- EMLの評価に最適な信号品質を提供
- スキュー、クロストークの影響確認
- Auto Search機能を標準装備
MP1800A シグナルクオリティアナライザ製品情報
40G/100G伝送装置の製造検査
40G/100Gネットワーク建設時のパフォーマンス検証
- イーサネット/IP試験(40GbE/100GbE):
スループット、フレームロス、統計(Statistics)、BER試験
- OTN試験(OUT3/4):
エラー/アラーム試験、BER試験
MD1260A 40/100G イーサネットアナライザ製品情報
光モジュールテストソリューション
- 光モジュール評価のトータルソリューション
BER試験とアイパターン解析、および光スペクトラム解析の検査時間を大幅に削減し、生産効率の改善に貢献します。
フィールドテストソリューション
増加するFTTHの施工、保守作業。アンリツはFTTH光ファイバの施工/保守作業を簡単、効率化するフィールド向け測定器をラインアップ。
FTTHの収容局からユーザ宅までの施工、保守、支障移転など、さまざまな作業分野で、作業者の測定ニーズに応えます。
光デバイスソリューション
高出力FP-LD(1.3µm、1.48µm、1.55µm、FBGタイプ)
アンクールドタイプ Max.150mW |
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用途
FP-LD製品情報
光ファイバセンシング
FBG光ファイバセンサは、センサへの給電が不要です。
本装置とFBGセンサによる光センシングにより、
従来の電気式センサで測定困難だった電磁ノイズ環境下や遠隔地における歪み/温度のリアルタイム計測ができます。
また、装置にはMEMSスキャニング方式の高速掃引光源を搭載することで、1.2kHzのサンプリング速度を実現しておりますので、振動計測にも
最適です。
32Gbps LNドライバ(参考出品)
40G DQPSK(×2) / 100G DP-QPSK(×4) 光変調器評価用
特長 |
| 高出力 | : | 8Vp-p typ. |
| 広帯域 | : | 500kHz ~ 40GHz |
| 出力振幅可変 | : | 4V ~ 8Vp-p |
| クロスポイント可変 | : | 45% ~ 55% |
| 消費電力 | : | 1.9W typ. |
| 入出力I/F | : | シングルエンド |
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| 32Gbps LNドライバ AH34152A |
※バイアスボードで楽々調整可能! | |
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AH34152A用バイアスボード | 32Gbps アイパターン |
■出展社技術プレゼンテーションのご案内
4月14日(木)技術プレゼンテーションを行います。受講無料・申込不要となっております。せひご聴講ください。
演題「40G/100G測定ソリューション(デバイスからネットワーク)」
- 日時:4月14日(木) 12:00~12:30
- 会場:展示会場内特設会場
当日の出展社技術プレゼンテーションを動画でご覧いただけます。
出展社技術プレゼンテーションの資料をダウンロードできます。
光通信技術展 FOE2011 オフィシャルサイト