VectorStar™シリーズは、アンリツ製VNAの中で最上位機種です。精錬されたプラットフォームで全ての項目において優れた性能を持っています。ベクトルネットワークアナライザ MS4640Bシリーズ［VectorStar］は70 kHz～70 GHzの広帯域を一台の測定器でカバーしています。
IMDView™は、メニューに表示される設定値のパラメータを変更しながら、リアルタイム測定ができます。オプションの内蔵コンバイナーを使用することにより、接続の切り替えをすることなく、SパラメータとIMD測定できます。
PulseView™は、2.5 nsのパルス分解能と100 dBのダイナミックレンジを保持しており、パルスのデューティーサイクルによるダイナミックレンジの性能劣化はありません。リアルタイムでパルス特性を測定、表示することで、設定パラメータの変更を行いながら特性の検証ができます。IFデジタイザーオプションと組み合わせて使用します。
DifferentialView™は、内蔵された2つの信号源間の位相差や振幅の変更ができ、差動デバイス、ドライバーアンプそしてコンポーネントの差動解析をリアルタイムで行えます。デュアルソースアーキテクチャオプションと組み合わせて使用します。
雑音指数測定オプションは、コールドソース法を用いて測定します。VectorStarは、70 KHz～125 GHzまでの雑音指数測定が可能な唯一のVNAで、雑音指数測定に最適化された専用の受信モジュールを使用することで、30 GHz～125 GHzまでの測定を行えます。 Additionally, VectorStar is the only VNA that offers a Differential Noise Figure option for characterizing the noise figure of differential devices.
広帯域アプリケーションには、ME7838シリーズが、1 mmの同軸テストポートにより70 kHz～110 GHz/125 GHz、0.8 mmコネクタにより70 kHz～145 GHzにおいて優れた性能を提供します。アンリツが開発したノンリニアトランスミッションライン（NLTL）を用いたコンパクトなミリ波モジュールにより、最大145 GHzまでの測定ができます。
ベクトルネットワークアナライザ MS4640Bは、デバイスの評価を正確かつ確実に行うのに苦労しているデバイスのモデリングエンジニア、最先端の設計で最後の微小な違いを追求しているR&Dエンジニア、精度を犠牲にすることなくスループットを最大化しようとしている製造エンジニアに最高レベルの性能を提供します。3年保証と迅速なサポートを有するMS4640Bは、技術レベルの高いエンジニアに選ばれるVNAです。
- 70 kHz～70 GHzの同軸測定に一筐体で対応、また70 kHz～145 GHzの広帯域構成が可能
- ユニバーサル・フィクスチャ・エクストラクション（UFX）ソフトウェアオプションは、テストフィクスチャ抽出用の高度なデエンベディングツールを提供します。
- 最大1.1 THzの測定に拡張可能
- IMDView™ソフトウエアと内蔵コンバイナーオプションは接続の切り替えをすることなく、SパラメータとIMD測定が可能
- 高性能のパルス測定： PulseView™による最小2.5 nsのパルス分解能と、100 dBのダイナミックレンジ
- DifferentialView™による4-portシングルエンド及び真の差動測定
- VNA内蔵のアイダイアグラムオプションを搭載することにより、タイムドメイン、Sパラメータ、およびアイダイアグラムの3つの解析が可能
- 優れたダイナミックレンジ：最大142dB（レシーバダイナミックレンジ）
- ハイパワー出力：最大+14 dBm（周波数により異なります）
- 優れたテストポート性能（方向性、ソースマッチ、ロードマッチ：50 dB）
- 優れたタイムドメイン解析能力
- MN4765B O/E校正モジュールによる、70 kHz〜40 GHz、70 GHz、110 GHzの850 nm、1060 nm、1310 nm、および1550 nmの高速かつ高確度なオプトエレクトロニクス測定
VectorStar Users Site
The VectorStar Users Site is a location where you can obtain Software, O/S Patches, and needed Utilities for your VectorStar instruments.
The following are various published works that have utilized the VectorStar vector network analyzer to conduct their measurements. These papers are the property of their authors who have given Anritsu permission to post these.
Extraordinary Permittivity Characterization of 4H SiC at Millimeter-wave Frequencies
Lei Li, Mohammad Javad Asadi, School of Electrical and Computer Engineering, Cornell University Steve Reyes, Anritsu Company Patrick Fay, Department of Electrical Engineering, The University of Notre Dame James C. M. Hwang, School of Electrical and Computer Engineering, Cornell University And Department of Materials Science and Engineering, Cornell University. 22 June 2023
Calibration, Repeatability and Related Characteristics of On-wafer, Broadband 70kHz-220 GHz Single-Sweep Measurements
Andrej Rumiantsev, MPI Corporation Jon Martens, Steve Reyes, Anritsu Company. 02 Nov 2020
Radio-Frequency Characteristics of Ge-Doped Vanadium Dioxide Thin Films with Increased Transition Temperature
Muller, Anrei A. et al; ACS Applied Electronic Materials. 16 Apr 2020
3D Smith charts scattering parameters frequency-dependent orientation analysis and complex-scalar multi-parameter characterization applied to Peano reconfigurable vanadium dioxide inductors
Mueller, Andrei A. et al; nature.com Scientific Reports. 04 Dec 2019
A novel reconfigurable CMOS compatible Ka band bandstop structure using split-ring resonators and Vadandium Dioxide (VO2) phase change switches
Muller, Anrei A. et al; Infoscience EPFL scientific publications. 22 Aug 2019
Anritsu has partnered with the following industry-leading companies to provide a variety of proven material measurement capabilities that are compatible with the VectorStar and ShockLine vector network analyzer families.
Material Measurements
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Compass Technology
Choose from off-the-shelf or custom-designed RF material measurement systems able to measure material properties from 100 MHz to 90 GHz. These solutions include: focused beam, resonant cavity, waveguides, spot probes, free space measurement systems, and more.
Anritsu and Compass Technology Group Material Measurements Solutions
Compass Technology Group VectorStar Integration [video]
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Keycom Technologies
Select from a variety of material measurement solutions that leverage various methods including: resonator, frequency change, probe type, co-axial tube and waveguide type S-parameter, free space, capacitance, epsilometery, and more.
Anritsu and Keycom Material Measurement Solution
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SWISSto12
Providing hardware and software technology capable of measuring: solid samples; soft sample and foam; liquid samples and powder; thin films; dielectric coatings and multilayer materials; alumina plate; and more.
Anritsu and SWISSto12 Material Measurement Solution
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