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MP2110A 기능

측정시간 단축

측정시간 단축

1 케이스에 BERT 및 샘플링 오실로스코프를 내장할 수 있기 때문에 측정 결과를 일괄 취득하며 아이 패턴과 동시에 표시할 수 있습니다.
따라서 멀티 채널 광모듈/장치의 평가에 필요한 모든 측정 결과를 한눈에 평가할 수 있어서 측정시간을 크게 단축할 수 있습니다.

고속 샘플링/고속 마스크 마진 시험

BERTWave MP2110A는 2ch 동시에 최대 250 k samples/s의 고속 샘플링이 가능합니다. 또한 자동 마스크 마진 시험 기능을 표준으로 탑재하고 있어서 25Gbit/s 신호를 1M 샘플하면 약 5초만에 측정을 완료할 수 있으며, 기존 기종에 비해 아이 패턴 해석 시간을 약 65% 줄일 수 있습니다.

Reducing Eye Pattern

 

100 Gbit/s (25 Gbit/s X 4 ch) QSFP28을 측정한 경우의 아이 패턴 해석시간 비교

Comparison of Sampling Speed

보다 정확한 성능 확인

샘플링 오실로스코프 성능

BERTWave MP2110A의 샘플링 오실로스코프는 100 GbE 및 OTU4 등의 광모듈 및 광모듈에 사용되는 광 디바이스의 측정에 충분한 성능을 가지고 있습니다.

  • 대역: SMF 35 GHz / MMF 25 GHz / 전기 40 GHz
  • 감도: -15dBm(대표값, SMF)
  • O/E 노이즈: 3.4 uW(대표값, SMF)
  • 잔류 지터: 200 fs rms(대표값, 고정밀도 트리거 옵션 사용시)
광대역 O/E는 기존 기종과 비교하여 직접 변조된 광신호 및 장거리용 광모듈의 특성을 보다 정확하게 그릴 수 있게 되었습니다.

Accurate drawing due to Optical Module characteristics

또한 -15dBm(대표값, SMF)의 고감도는 광 스위치 등으로 감소하는 것으로 예상되는 측정계에서도 피측정물의 아이 패턴/마스크 마진 측정을 할 수 있습니다. 또한 샘플링 오실로스코프의 샘플러는 3.4 μW(대표값, SMF)의 저 노이즈화를 실현했습니다. 또한 200 fs rms Typ.의 고정밀도 트리거 옵션을 탑재할 수 있습니다. 이러한 성능은 보다 정확한 측정이 가능하며, 생산 라인의 수율 향상에 공헌할 수 있습니다.

Mask Sensitivity
*: Estimated optical power when Mask Margin (Hit Count 0) reaches 0% (calculated from optical noise)

광신호의 대표 파형
Typical Optical Signal Waveform

25.78125 Gbit/s Optical (LN 변조기) (PRBS 31, 고정밀도 트리거 옵션 On)
광대역 작동 주파수

BERTWave MP2110A의 BERT는 표준에서 24.3 Gbit/s ~ 28.2 Gbit/s의 비트율로 작동합니다. 옵션을 탑재하여 9.5 Gbit/s ~ 14.2 Gbit/s의 비트율에 대응할 수 있으므로 10GbE 및 100GbE 등의 다양한 애플리케이션에서 사용할 수 있습니다.

PPG/ED Supported Bit Rates and Application Example

충분한 PPG/ED 성능

BERTWave MP2110A의 PPG는 600 fs rms(대표값)의 낮은 데이터 지터를 실현하여 광모듈/디바이스 등의 특성을 정밀하게 측정할 수 있습니다. 또한 25 mV(대표값)의 ED는 전송 손실로 인해 진폭이 작아진 신호의 BER 측정이 가능하며, 피측정물의 수율 향상에 공헌할 수 있습니다.


25.78125 Gbit/s Electrical Loop-back 파형 (PRBS 31, Amplitude 200mV, 고정밀도 트리거 옵션 ON)

다양한 측정 기능

진폭/시간 시험

0 레벨, 1 레벨, SNR, 아이 크로스 비율, 아이 진폭, 아이 높이, 아이 폭, 지터 p-p, 지터 RMS, 소광비, 상승 시간, 하강 시간, 듀티 사이클 왜곡, 평균 파워, OMA 측정이 가능합니다.

아이 마스크/마스크 마진 시험

마스크 마진 시험을 자동으로 수행할 수 있으므로 시험을 용이하게 할 수 있습니다. 또한 마스크 마진 시험에 필요한 시간은 약 1초이므로 규격에 대한 제품의 마진을 단시간에 측정할 수 있어, 수율 향상에 공헌할 수 있습니다.

  • 1 초 이내에 자동 측정
  • 실시간 마진 측정
  • 마스크 히트에 카운트와 레이트 선택 가능

히스토그램

설정한 영역 내의 데이터 분포를 평균값·표준 편차·산란 폭을 측정하여 파형 데이터의 성분 해석이 가능하여 문제 해결에 공헌할 수 있습니다.

레퍼런스 트레이스 기능

측정 파형 데이터를 보존할 수 있기 때문에 저장되어 있는 파형 데이터와 측정 중인 파형을 비교할 수 있습니다.

간편한 조작성

BERTWave MP2110A는 각 채널이 동기화되어 있기 때문에 1채널만 설정하면 모든 채널을 동시에 설정할 수 있습니다. 테스트 패턴은 채널마다 변경할 수도 있기 때문에 Active Optical Cable(AOC)및 Direct Attach Cable(DAC)등의 다중 채널 전송에 필요한 크로스토크 간섭 시험을 할 수 있습니다. 또한 광의 아이 패턴 해석은 최대 2ch을 측정할 수 있습니다.
또 BERTWave 시리즈의 모든 모델에서 계승되고 있는 설정 항목을 단순화하여 조작하기 쉬운 유저 인터페이스를 채용하고 있기 때문에 쉬운 조작이 가능합니다. 원격 명령에 관해서도 MP2100B과 호환성을 가지고 있기 때문에 측정기의 업그레이드를 용이하게 할 수 있습니다. 또한 PC를 내장하여 안정된 작동을 실현함과 동시에 작업 환경에 의존하지 않는 성능을 보장합니다.

효율적인 측정계의 구축

기존에는 신호원인 BERT 및 아이 패턴 해석용 샘플링 오실로스코프는 다른 케이스를 사용하고 있었기 때문에 측정계가 매우 복잡했습니다. 그래서 BERTWave는 BERT 및 샘플링 오실로스코프를 1대에 탑재하여 심플한 측정계의 구축을 실현했습니다.
1케이스에 최대 4ch BERT 및 2ch 광 샘플링 오실로스코프가 탑재 가능하기 때문에 측정계의 구축과 제어를 용이하게 하여 멀티 채널화된 QSFP28 등의 광모듈과 광 디바이스의 송수 동시 측정을 실현합니다. 채널 수의 증가로 측정 시간의 증가가 예상되는 멀티 채널 광모듈/디바이스의 측정시간을 크게 단축할 수 있습니다.

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