Double Data Rate (DDR)
DDR 메모리 테스트 최적화
Double Data Rate (DDR)은 클럭 신호 상승 및 하강 에지 모두에서 데이터를 전송하기 위한 기술 사양으로, 컴퓨터 주 메모리로 사용되는 RAM의 표준 중 하나입니다.
JEDEC(국제반도체표준협의체)는 서버와 PC를 위한 표준 DDR, 모바일 및 차량용 DDR, 데이터 센터와 AI 등의 고속 데이터 처리를 위한 그래픽 DDR의 세 가지 DDR 표준을 정의합니다. 그러나 JEDEC에는 인증 기관이 없기 때문에 각 메모리 공급업체는 JEDEC 준수 테스트를 수행해야 합니다.
DDR R&D 과제
메모리는 당연히 JEDEC 사양을 충족해야 하며, 메모리를 제어하는 장치와 RAM을 사용하는 시스템의 상호 연결성이 보장되어야 합니다. 클록 신호, 데이터 신호 전압 변화, 상승 및 하강 에지 타이밍, 지터 등과 같은 전기적 특성을 테스트하고 설계자에게 결과를 피드백하는 것도 무시할 수 없는 부분입니다.
DDR 솔루션
송신기(Tx) 및 수신기(Rx) 테스트는 모두 RAM PHY 계층에서 디지털 신호 품질을 개선하고 보장하는 데 사용됩니다.
송신기 및 수신기 테스트
Tx 테스트는 실시간 오실로스코프(Real-Time Oscilloscope, RTO)를 사용하여 메모리에서 출력되는 데이터 신호의 특성을 평가하여 레퍼런스 클럭의 상승/하강 시간, 전압 변화, 아이 패턴, 지터 등을 평가하고 USB 장치에서 출력되는 데이터 신호의 특성을 평가합니다. 또한 펄스 패턴 발생기(Pulse Pattern Generator, PPG)를 신호 소스로 사용하여 RTO에서 (Phase Locked Loop, PLL) (위상 고정 루프) 대역폭을 측정합니다.
Rx 테스트는 PPG 및 비트 오류율(Bit Error Rate, BER) 테스터를 사용하여 전기 신호에 노이즈 및 지터와 같은 스트레스를 가하여 RAM 지터 허용 오차, 크로스토크, 동작 마진 등을 평가합니다.
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