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Measurement Solutions for Semiconductors

Measurement Solutions for Semiconductors - Efficient, Scalable and Reliable Solutions for 5G, IoT and High-Speed Communication Technologies

How to Assure “Communications Quality” of Semiconductor?

다음은 최종 디바이스의 성능에 대한 통신 품질을 보장하는 데 있어 몇 가지 일반적인 문제와 고려 사항입니다.

Challenges for Leading Edge Technologies

반도체 설계는 종단 디바이스의 우수한 성능을 보장하는 데 필수적이며 첨단 기술이 필요할 때도 있습니다.

Cellular

Cellular5G 기술 출시는 IoT 애플리케이션을 위한 셀룰러 디바이스의 사용 사례를 확대합니다. 안리쓰는 2G 시대부터 시작된 무선 테스트에 대한 광범위한 경험과 다용도의 효율적인 솔루션을 통해 테스트 요구 사항을 지원할 준비가 되어 있습니다.
현재의 “5G” 이후의 미래 기술에 대해서는 안리쓰가 이미 연구를 시작했습니다.

Short Range Wireless

Short Range WirelessWi-Fi 및 Bluetooth® 기술은 특히 IoT 디바이스에 널리 사용되며 새로운 사양이 시장에 출시되었습니다. 안리쓰는 이전사양에서 최신 사양에 이르는 다양한 테스트 솔루션을 통해 테스트 요구 사항을 효율적으로 지원할 준비가 되어 있습니다.

Bluetooth® 워드 마크 및 로고는 Bluetooth SIG, Inc. 소유의 등록 상표이며 안리쓰는 라이선스 하에 이러한 마크를 사용합니다. 기타 상표 및 상호는 해당 소유자의 것입니다.

High-Speed Test Solution

High-Speed Test Solution5G 서비스의 출시와 IoT 애플리케이션의 확산으로 인한 데이터 트래픽의 엄청난 증가를 지원하기 위해 전 세계적으로 데이터 센터의 수가 증가하고 있습니다. 대용량 데이터를 사용하여 고속 통신을 향상시키기 위해서는 데이터 트래픽이 필요합니다. 이를 통해 PCI Express®를 업그레이드하여 더 큰 데이터 트래픽을 더 빠르게 전송할 수 있습니다. 안리쓰는 귀하의 테스트를 효율적으로 지원할 준비가 되어 있습니다.

Manufacturing Stage Challenges

디바이스 개발의 모든 단계를 지원하는 전체 범위의 테스트 솔루션

Research and development
Design Verification
Intergration/Evaluation Equipment
Compliance
Production

RF parametric and Telecommunication Protocol, From Pre-Silicon to Post-Silicon

The phases ranging from Pre-Silicon to Post-Silicon development테스트 환경은 RF 파라 메트릭 및 통신 프로토콜 모두에 필요하며 안리쓰는 Pre-Silicon에서 Post-Silicon 개발에 이르기까지 단계별로 지원할 준비가 되어 있습니다.

Use Case Challenges

완성된 디바이스의 여러 사용 사례에 대해 어떤 종류의 문제와 고려 사항이 있는지 살펴보겠습니다.

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추가 정보는 메뉴에서 추가 리소스를 확인하십시오.

추가 리소스

DSS Guide Technology and Device Testing for Engineer
DSS Guide Technology and Device Testing for Engineer

So what is Dynamic Spectrum Sharing (DSS) and why is it necessary as 5G is rolled out? The integration of the latest wireless technology into commercial networks is creating a mix of 4G LTE and 5G New Radio (NR).

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PCIe 5.0 SerDes Test and Analysis
PCIe 5.0 SerDes Test and Analysis

This paper examines the crucial PCIe 5.0 serializer/deserializer (SerDes) tests.
The key test equipment consists of a bit error ratio tester (BERT) and an oscilloscope.

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White paper
A Bottom-Up Approach to 5G Network Slicing Security in User Equipment

5G 네트워크 인프라 장비와 이를 사용하는 모바일 디바이스는 특히 네트워크 슬라이싱을 구현할 때 안정적이고 사이버 공격에 매우 강해야 합니다. 이 백서에서는 더 많은 정보를 소개합니다.

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Poster Key Technical Aspects of 5G-NR
Poster
Key Technical Aspects of 5G-NR

현재 전 세계적으로 5G가 출시됨에 따라 이 포스터는 5G 기술의 주요 측면과 최신 동향을 설명합니다.

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White paper
Poster
Key Technology and Physical layer Test Specifications for IoT

IoT는 광범위한 애플리케이션을 지원할 것으로 예상됩니다. 이 포스터는 IoT 사용 사례를 지원하는 각 표준에 대한 핵심 기술 및 RF 측정을 설명합니다.

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Anritsu Measurement Solutions

5G

FR1(~ 7.125GHz) 및 FR2(밀리미터파) 대역에서 RF 매개변수 및 통신 프로토콜 테스트를 모두 테스트하기 위한 올인원 솔루션입니다.

Radio Communication Test Station MT8000A >
Introduction of Radio Communication Test Station MT8000A 5G Entry Model (PDF) >
Learn more about 5G Single Box Solution (PDF) >

MT8000A 5G Entry Model

GCF 및 PTCRB에서 인증한 3GPP 프로토콜 및 사업자 승인 테스트(CAT)를 지원하는 적합성 테스트 시스템입니다.

5G NR Mobile Device Test Platform ME7834NR >

5G NR Mobile Device Test Platform ME7834NR

GCF 및 PTCRB에서 인증한 3GPP RF 적합성 테스트를 지원하는 테스트 시스템입니다.

New Radio RF Conformance Test System ME7873NR >

New Radio RF Conformance Test System ME7873NR

설치된 Plug-in Unit을 선택하여 다양한 무선 통신 규격을 지원하여 대용량 양산 라인에 대한 고속 TRx 테스트를 수행합니다.

Universal Wireless Test Set MT8870A >

LTE, LTE Cat-M1, NB-IoT

사용하기 쉬운 측정 기능으로 LTE, LTE Cat-M1, NB-IoT R&D 제품을 모바일 디바이스로 개발하기 위한 RF TRx 특성을 검증합니다.

Radio Communication Analyzer MT8821C >
4G MT8821C/MD8475B

설치된 Plug-in Unit을 선택하여 다양한 무선 통신 규격을 지원하여 양산 라인에 고속으로 TRx 테스트를 수행합니다.

Universal Wireless Test Set MT8870A >
MT8870A

Wireless LAN (Wi-Fi)

6GHz 대역 제품 지원 등 무선랜 제품 개발을 위한 RF TRx 특성을 검증합니다.

Wireless Connectivity Test Set (for WLAN measurement) MT8862A >
WLAN (WiFi6E) MT8862A

설치된 Plug-in Unit을 선택하여 다양한 무선 통신 규격을 지원하여 양산 라인에 고속으로 TRx 테스트를 수행합니다.

Universal Wireless Test Set MT8870A >
MT8870A

Related Pages
Advantages and challenges of 6-GHz band >

Advantages and challenges of 6-GHz band

Bluetooth®

R&D에서 제조 테스트에 이르는 광범위한 응용 분야에서 Bluetooth® 모듈 및 디바이스의 RF 테스트를 지원합니다.

Bluetooth Test Set MT8852B >
Bluetooth Test Set MT8852B

Performs TRx tests at high speed for mass-production lines with support for various wireless communications standards by selecting installed plug-in units.

Universal Wireless Test Set MT8870A
Universal Wireless Test Set MT8870A

Related Pages
Bluetooth® v5.1 Test Solution >

Bluetooth® 워드 마크 및 로고는 Bluetooth SIG, Inc. 소유의 등록 상표이며 안리쓰는 라이선스 하에 이러한 마크를 사용합니다. 기타 상표 및 상호는 해당 소유자의 것입니다.

General Purpose

첨단 개발 및 범용을 위한 벡터 네트워크 분석기/스펙트럼 분석기/신호 분석기/신호 생성기

다중포트 VNA는 최대 43.5GHz의 수많은 테스트 애플리케이션에서 테스트 비용을 낮추고 출시 시간을 단축합니다.

ShockLine™ 4-Port Performance VNA MS46524B >
ShockLine™ 4-Port Performance VNA MS46524B

단일 기기에서 가장 광범위한 적용 범위와 함께 최신 플랫폼에서 최고의 전체 성능을 제공하는 프리미엄 VNA 라인

VectorStar Family of RF, µW, mmW VNAs MS4640B Series >
VectorStar Family of RF, µW, mmW VNAs MS4640B Series

신호 분석기는 차세대 광대역 및 다중 반송파 통신 시스템을 지원합니다.

Signal Analyzer MS2850A >
Signal Analyzer MS2850A

RF 및 기저대역 성능이 우수한 동급 최고의 다기능 신호 발생기

Vector Signal Generator MG3710E >
Vector Signal Generator MG3710E

Spectrum Analyzer/Signal Analyzer with top-class measurement speed despite medium-class cost. Various optional functions are available.

Signal Analyzer MS2830A >
Signal Analyzer MS2830A

High-Speed Test Solution

비트 오류율 테스터(BERT)/오실로스코프

고속 이더넷 및 PCI Express 인터페이스 테스트를 위한 올인원 지원

Signal Quality Analyzer-R MP1900A >
Signal Quality Analyzer-R MP1900A

고비용, 저잡음 샘플링 오실로스코프와 함께 NRZ 및 PAM4 신호가 있는 최대 4ch용 BERT 및 샘플링 오실로스코프가 하나의 장비에 설치되어 있습니다.

BERTWave™ MP2110A >
BERTWave™ MP2110A

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