腐食性ガスによる環境試験
腐食性ガス対策試験について
一般的に腐食性ガス対策としてはJEITA※（電子情報技術産業協会規格）にて規定がございます。当社製品もそれに準拠しております。
※JEITA IT-1004 産業用情報処理・制御機器設置環境基準 8. 腐食性ガスより
8.4.1 腐食性ガス環境のクラス分け
腐食性ガス環境のクラス分けは、待機腐食の相互作用因子である腐食性ガス、温度、湿度、汚損度を含めて行う。これら因子のレベルに評価点を与え、その合計評価点により以下のように分類する。
表8.2 腐食性ガス環境のクラス分け
| 環境 |
クラス |
合計評価点 |
| 温度、湿度が低くガスが検知されない良好な環境 |
Class A |
≦9 |
| 湿度が比較的低くガスが少ない一般的な環境 |
Class B |
10～25 |
| 湿度がやや高くガスが少ない環境 |
Class S1 |
26～36 |
| 温度、湿度が高くガスが若干ある環境 |
Class S2 |
37～50 |
| 温度、湿度が高くガスが多い環境 |
Class S3 |
≧51 |
また各因子の評価点を以下に示す。
表8.3 各環境因子、区分と評価点一覧
| 環境因子 |
区分 |
| 1 |
2 |
3 |
4 |
| 測定値 |
評価点 |
測定値 |
評価点 |
測定値 |
評価点 |
測定値 |
評価点 |
| 年平均温度（℃） |
A |
≦20 |
1 |
≦25 |
2 |
≦30 |
4 |
＞30 |
8 |
| 年平均湿度（％） |
B |
≦50 |
1 |
≦60 |
8 |
≦75 |
16 |
＞75 |
24 |
| ガス（ppm） |
SO2 |
C1 |
≦.04 |
1 |
≦.08 |
3 |
≦.2 |
6 |
≦5 |
9 |
| NO2 |
C2 |
≦.02 |
1 |
≦.05 |
3 |
≦.1 |
6 |
≦5 |
9 |
| H2S |
C3 |
≦.003 |
1 |
≦.01 |
8 |
≦.1 |
14 |
≦10 |
20 |
| Cl2 |
C4 |
≦.002 |
1 |
≦.01 |
10 |
≦.1 |
20 |
≦1 |
30 |
| NH2 |
C5 |
≦.1 |
1 |
≦1 |
2 |
≦10 |
4 |
≦100 |
8 |
| 汚損度（等価塩分量）（mg/cm2） |
D |
≦.03 |
1 |
≦.06 |
8 |
≦.12 |
16 |
＞.12 |
24 |
合計評価点＝A＋B＋C1＋C2＋C3＋C4＋C5＋D
当社での試験内容と結果
一般社団法人 電子情報技術産業協会（JEITA）が規定する「JEITA IT-1004 産業用情報処理・制御機器設置環境基準」の腐食性ガス環境条件で合計評価点が82点であり、温度・湿度が高くガスが多い環境Class S3（合計評価点51点以上）の性能を有しております。
環境試験成績書
試験内容
| 順番 |
試験条件（ガス2種混合） |
試験結果 |
| 項目 |
内容 |
JEITA評価点 |
動作 |
外観 |
| 1 |
硫化水素（H2S） |
20ppm |
20点 |
7日、14日、21日間のガス試験後、検査装置で動作確認を行い全ての項目で異常なし。 |
21日間のガス試験後、通常運用ができなくなる腐食問題がプリント基板と機構部品に発生しない。 |
| 2 |
塩素（Cl2） |
1ppm |
30点 |
| 3 |
温度 |
40℃ |
8点 |
| 4 |
湿度 |
90% |
24点 |
| 5 |
期間 |
21日間 |
－ |
JEITA 腐食性ガス環境のクラス分け
| 環境 |
クラス |
合計評価点 |
| 温度、湿度が低くガスが検知されない良好な環境 |
Class A |
≪9 |
| 湿度が比較的低くガスが少ない一般的な環境 |
Class B |
10～25 |
| 湿度がやや高くガスが少ない環境 |
Class S1 |
26～36 |
| 温度、湿度が高くガスが若干ある環境 |
Class S2 |
37～50 |
| 温度、湿度が高くガスが多い環境 |
Class S3 |
≧51 |
腐食性ガス対策製品ラインナップ
当社では、下記2製品が腐食性ガス対策製品となっております。
