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Co-packaged Optics

共同封裝光學 (Co-Packaged Optics)

實現未來網路的關鍵裝置

隨著生成式 AI 與雲端運算等服務的廣泛應用,資料中心必須支援更高的傳輸速度與更大的容量,進而導致電力消耗持續攀升。部分研究預估,若依目前的發展速度,資料中心的用電量將在 2030 年約占全球總用電量的 10%。因此,資料中心的綠色節能轉型已成為刻不容緩的議題。光電融合 (Photonics-Electronics Convergence) 技術被視為解決此問題的方案之一。透過將光電元件整合至電子裝置中,並以光纖佈線取代電氣佈線,不僅可提升網路容量並降低延遲,亦可大幅降低網路系統整體功耗。

Evolution steps of photonics-electronics convergence technology

光電融合技術演進

處理電訊號與光訊號之電路的整合稱為光電融合 (Photonics-Electronics Convergence)。目前多個世代的相關技術正處於研究與開發階段,例如 LPO、CPO 以及 NPO*1。第一世代為「光學模組型」,其作法是將微型化的光收發器 (光引擎;Optical Engine) 配置於如 ASIC 等邏輯晶片附近,並整合成單一模組。次世代則是採用 Chiplet*2 的「高效能半導體封裝型」架構。

 

*1:LPO:Linear Drive Pluggable Optics(線性驅動可插拔光學), CPO:Co-Packaged Optics(共同封裝光學), NPO:Near-Packaged Optics(近封裝光學)
*2:Chiplet:為特定功能而採用最佳製程所製造的小型裸晶 (Die)。

Communication between packages with optical signal

晶片之間的光纖佈線

Optical engines mounted in a package

晶片內部核心與記憶體之間的光學佈線

Optical signal communication within a package

封裝內不同裸晶 (Die) 之間的光學佈線

測試挑戰

Thermal problems for CPOs

光電融合裝置同時交換電訊號與光訊號。因此,為了確保裝置品質,必須從多個面向進行評估,包括電氣特性、光學特性以及數位訊號品質。

 

光學特性:

在光學佈線中,插入損耗、反射 (S 參數) 等因素,以及因光源發熱導致的光輸出衰減,皆可能造成光傳輸效能劣化。

 

電氣特性:

高頻電路的傳輸/反射特性 (S 參數) 及其電氣特性,可能導致訊號品質下降。

 

數位訊號品質:

眼圖、抖動、位元錯誤率 (BER) 及雜訊容限,皆是評估光電融合裝置中數位訊號品質的關鍵指標,並對整體裝置效能產生重大影響。

 

對上述特性的全面性評估,有助於提升光電融合技術的可靠性。

測試解決方案

Anritsu安立知提供用於評估光電融合裝置的測試解決方案,可評估光學特性與電氣特性,並支援數位訊號品質測試。

 

光學特性:

透過 Anritsu安立知的光電網路分析儀 (Opto-Electronic Network Analyzer) ME7848A,可評估光學佈線中的插入損耗與反射 (S 參數)。此外,利用光譜分析儀 MS9740B,可進一步分析並確認光波長與輸出功率之特性。

 

影片:

Anritsu 110 GHz Opto-electronic Network Analysis system (ONA) solution

 

電氣特性:

Anritsu安立知的寬頻向量網路分析儀 ME7838A/D/G 系列,可在高達 220 GHz 的寬廣頻率範圍內量測高頻電路的 S 參數。此外,透過選配功能,亦可進行眼圖的可視化。

 

Leaflet介紹:

Vector Network Analyzer: Selecting the Appropriate Measurement Frequency Bandwidth in the Evaluation of High-Speed Digital Circuits

 

數位訊號品質:

Anritsu安立知的訊號品質分析儀‑R MP1900A是一款高性能的 8 插槽模組化誤碼分析儀 (BERT),可用於評估數位訊號抖動、誤碼率 (BER) 以及雜訊容限。

此外,Anritsu 安立知的取樣示波器 BERTWave MP2110A 則是評估 10G 至 1.6T 光電融合裝置的理想選擇。單一儀器即可支援 PAM4 等眼圖的振幅、抖動與偏移 (Skew) 量測。

該儀器具備同時處理高達四個通道的能力,能大幅提升生產效率並降低製造成本。

 

透過整合上述測試解決方案,製造商可有效確保其光電融合裝置的品質與可靠性。

 

Leaflet介紹:

Performance test of co-packaged optics

相關資料

專訪 (PDF):

Synergy between Nanophotonics and Terahertz with Advanced Electromagnetic Field Analysis
– Interview with Professor Jun Shibayama, Hosei University –

Anritsu 安立知專訪了日本法政大學的柴山純教授 (Prof. Jun Shibayama),探討奈米光子學與太赫茲領域中功能性裝置的開發,以及光學感測技術於太赫茲領域之應用等前沿研究。

白皮書:
The Pluggable Coherent Revolution: 400ZR and 100ZR Bring Operational Efficiency and Flexibility

本白皮書介紹可插拔相干技術(pluggable coherent technology)的最新趨勢,並說明 100ZR、400ZR 及 OpenZR+ 等技術的使用案例。

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