最理想的光譜分析儀，快速完成光學模組評估

使用多重應用程式，以提高測量處理速度，並縮短裝置評估時間。

光譜分析儀 MS9740A 從波形掃頻到分析與資料傳輸所需要的整體時間比舊機型減少 80%。

[波形掃頻] 具有即時掃頻速度 0.2 s/5 nm 的頻譜測量。

快速的波形掃頻與範圍處理，支援波形掃頻速度 0.2 s/5 nm 的頻譜測量。

即時監控頻譜與雜訊等級的波動。
輕鬆確認光源波長的變動狀態。

[分析] 八種內建分析功能表，可用來評估光學裝置

八種分析應用範例

在同一個簡單易用的畫面上一次針對所有應用設定所有必要測試項目

LD 模組測試項目

LD Module
OSNR (Measured Value)
OSNR (Noise Figure per 1 nm)
OSNR 雜訊等級可指定為 Higher、Left、Right 和 (L+R)/2，或可指定為與峰值波長間的距離。
SMSR
Side-Mode Peak Wavelength and Level
Spectrum Width (n dB Method, RMS Method, Standard Deviation)

[資料傳輸] 資料傳輸零等待