網路分析儀
支援毫米波的廣泛產品組合
兩大類解決方案
桌上型
- VectorStar™ 系列
此系列包括多功能及高性能向量網路分析儀，頻率範圍涵蓋 70 kHz 至 220 GHz（使用擴展器可達 1.1 THz）。Anritsu 安立知也提供適用於 O/E、E/O 和 O/O 設備量測的光電網路分析儀。 - ShockLine™ 系列（經濟型）
此系列為經濟型向量網路分析儀，頻率範圍涵蓋 50 kHz 至 43.5 GHz 或 55 GHz 至 92 GHz。 由於測量埠可以自由放置，2 埠 VNA 解決方案支援長距離穩定測量。
頻率
桌上型 – VectorStar™ 系列
| 型號 | 頻率 |
|---|---|
| MS4647B | 70 kHz 至 70 GHz |
| MS4644B | 70 kHz 至 40 GHz |
| MS4642B | 70 kHz 至 20 GHz |
| ME7838G | 70 kHz 至 220 GHz |
| ME7838G4 | 70 kHz 至 220 GHz |
| ME7838D | 70 kHz 至 145 GHz |
| ME7838D4 | 70 kHz 至 145 GHz |
| ME7838AX | 70 kHz 至 110 GHz |
| ME7838A4X | 70 kHz 至 110 GHz |
| ME7848A | 70 kHz 至 40 GHz/70 GHz |
桌上型 - ShockLine™ 系列
| 型號 | 頻率 |
|---|---|
| MS46522B | 50 kHz 至 8.5 GHz/20 GHz/43.5 GHz, 55 GHz 至 92 GHz |
| MS46524B | 50 kHz 至 8.5 GHz/20 GHz/43.5 GHz |
| MS46322B | 1 MHz 至 8 GHz/20 GHz/43.5 GHz |
| ME786xA | 1 MHz 至 8 GHz/20 GHz/43.5 GHz |
| MS46122B | 1 MHz 至 8 GHz/20 GHz/43.5 GHz |
| MS46131A | 1 MHz 至 8 GHz/20 GHz/43.5 GHz |
| MS46121B | 150 kHz 至 6 GHz |
手持式 - Site Master 系列
| 型號 | 頻率 | ||
|---|---|---|---|
| 電纜與天線分析儀 | 向量網路分析儀 (選用) | 頻譜分析儀 (選用) | |
| MS2089A | 5 kHz 至 4 GHz/6 GHz | 5 kHz 至 4 GHz/6 GHz | 9 kHz 至 4 GHz/6 GHz |
| MS2085A | 5 kHz 至 4 GHz/6 GHz | 5 kHz 至 4 GHz/6 GHz | 不支援 |
| S820E | 1 MHz 至 8 GHz/14 GHz/20 GHz/30 GHz/40 GHz | 1 MHz 至 8 GHz/14 GHz/20 GHz/30 GHz/40 GHz | 不支援 |
案例分享
Electronics and Telecommunications Research Institute (ETRI)
毫米波 (mmWave) 與次太赫茲 (sub-THz) 元件評估：一家在次世代通訊與半導體技術領域居於領先地位的研究機構，採用向量網路分析儀 (VNA) 建立了寬頻晶圓上 (On-Wafer) 量測平台。
Meiko Electronics Vietnam Co., Ltd.
一家全球高效能 PCB 製造商在工廠內完成高頻 PCB 的評估與驗證。透過應用向量網路分析儀 (VNA)，進一步強化了產品可靠性，並提升技術提案的競爭力與說服力。
Qualitas Semiconductor Co., Ltd.
高速互連 IP 開發領域的領導廠商，透過導入 Anritsu 安立知的向量網路分析儀，提高了其驗證能力與開發效率。
微星科技股份有限公司
因應 AI 與高速傳輸需求，全球領先的電腦硬體品牌強化時域與頻域測試工具，有效提升 PCIe 5.0 與高速 PCB 的驗證效能。
Junkosha Inc. (潤工社)
了解向量網路分析儀 MS46122 系列搭配相位穩定的毫米波電纜，如何實現精確測量。 本案例研究展示了不受電纜干擾的 OTA 測試途徑。
相關資料
白皮書:
Evaluating Signal Quality to Ensure THz Communication System Performance
在太赫茲 (THz) 通訊系統中，對支援寬頻訊號與高階調變技術之收發器而言，進行效能評估至關重要。然而，當實際通訊性能無法達到預期時，往往難以判定問題的根本原因。
本白皮書說明可透過 EVM、相位雜訊、頻率響應及 S 參數量測所獲得的資訊，整理出影響因素所需進行的關鍵評估項目。
白皮書:
Factory Separation and Evaluation Design for Terahertz Sensing: Measurement Requirements and Condition Design
在此領域的研發過程中，如何區分由待測物所造成的變異，以及量測條件與環境因素所引入的變異，仍是重要的技術挑戰。
本白皮書說明太赫茲頻段量測中各項變異來源的區分方法，以及在環境條件、量測系統與訊號特性均可能顯著影響量測結果的情況下，如何確保評估具備再現性。
