Skip to main content
ME7838

VectorStar 寬頻向量網路分析儀 ME7838/AX/EX/D/G

ME7838 Series
VectorStar ME7838 系列寬頻網路分析儀提供了從 70 kHz 到 110、125、145 和 220 GHz 最寬的 2 端口單頻率掃描,並具有高達 1.1 THz 的毫米波頻段。
Overview

VectorStar ME7838 寬頻系列系統採用 Anritsu 安立知的非線性傳輸線 (NLTL) 技術,提供高性能的微波模組,涵蓋範圍從 70 kHz 到 110、125、145 和 220 GHz。ME7838 系列是唯一在多個頻段具有正原始指向性的寬頻系統,其具有明顯較長的校準間隔時間,以進行準確的測量和提高工作效率,提供更好的校準和測量穩定性。

VectorStar ME7838 VNA 系列在 110 GHz 提供 109 dB 的動態範圍,在 220 GHz 提供 102 dB 的動態範圍,並在整個頻段範圍內具有出色的雜訊性能,可進行高靈敏度的測量。穩定的寬頻性能意味著您可以整天進行高精度的測量,並可確保您的校準保持穩定,從而減少校準時間,增加測量時間。

VectorStar ME7838G VNA 滿足了在晶片上測量的市場需求,其涵蓋了次太赫茲區域,以進行更準確的儀器表徵。該系統提供了前所未有的寬頻覆蓋範圍,從 70 kHz 到 220 GHz ,並針對使用 MPI 公司的 TITAN T220 探針進行晶片上測量的優化。創新的設計允許 220 GHz 探針直接連接到微波模組,以進行準確、穩定的晶片上測量,避免了螺紋連接器的限制。

VectorStar ME7838 系列寬頻網路分析儀提供了從 70 kHz 到 110 GHz (ME7838AX/ME7838EX to 125 GHz),到 145 GHz,以及 220 GHz 的最寬單頻率掃描,並且支援毫米波頻段達到 1.1 THz。

  • ME7838AX 或 ME7838EX 版本可輕鬆升級至 145 GHz 和 220 GHz
  • 全系列型號皆可配置毫米波模組,頻率高達 1.1 THz
  • 業界最佳校準與量測穩定度:0.1 dB vs 0.6 dB (超過 24 小時)
  • 全系列版本均支援用於雜訊指數測量的 3744x-Rx 接收機,包括評估可達到 125 GHz 的差動雜訊指數
  • 輕巧型毫米波模組 (重量為 0.6 磅,體積為 1/50)為低安裝成本的小型探針台

以下是利用 VectorStar 向量網路分析儀進行測量的各種發表作品。這些論文屬於作者的財產,其皆已授權 Anritsu 安立知發布這些作品。

Extraordinary Permittivity Characterization of 4H SiC at Millimeter-wave Frequencies
作者:Lei Li、Mohammad Javad Asadi (康乃爾大學電機與電腦工程學院) 、Steve Reyes (Anritsu Company)、Patrick Fay (聖母大學電機工程系)、James C. M. Hwang (康乃爾大學電機與電腦工程學院,以及材料科學與工程學系) 發表日期:2023 年 6 月 22 日


Calibration, Repeatability and Related Characteristics of On-wafer, Broadband 70kHz-220 GHz Single-Sweep Measurements
作者:Andrej Rumiantsev (MPI Corporation)、Jon Martens、Steve Reyes (Anritsu Company) 發表日期:2020 年 11 月 2 日


Radio-Frequency Characteristics of Ge-Doped Vanadium Dioxide Thin Films with Increased Transition Temperature
作者:Muller, Anrei A. 等人;《ACS應用電子材料》 發表日期:2020 年 4 月 16 日


A novel reconfigurable CMOS compatible Ka band bandstop structure using split-ring resonators and Vadandium Dioxide (VO2) phase change switches
作者:Muller, Anrei A. 等人;《Infoscience EPFL 科學出版物》 發表日期:2019 年 8 月 22 日


3D Smith charts scattering parameters frequency-dependent orientation analysis and complex-scalar multi-parameter characterization applied to Peano reconfigurable vanadium dioxide inductors
作者:Mueller, Andrei A. 等人;《自然科學報告》 發表日期:2019 年 12 月 4 日

Anritsu 安立知與下列業界領先的公司合作,提供各種與 VectorStar 和 ShockLine 向量網路分析儀系列相容的測量功能。

Material Measurements

Compass Technology Group logo
Compass Technology
從現有或客製化設計的射頻材料測量系統中進行選擇,能夠測量 100 MHz 至 90 GHz 的材料屬性,這些解決方案包括:聚焦光束、諧振腔、波導、點探針、自由空間測量系統等。

Anritsu and Compass Technology Group Material Measurements Solutions
Compass Technology Group VectorStar Integration [video]
KEYCOM Characteristic Technologies logo
Keycom Technologies
從利用各種方法的不同材料測量解決方案中進行選擇,包含:諧振器、頻率變化、探針類型、同軸管和波導類型 S 參數、自由空間、電容、測量法等。

Anritsu and Keycom Material Measurement Solution
Swiss to 12 logo
SWISSto12
提供能夠測量軟硬體的技術,包含:固體樣品、軟樣品和泡沫、液體樣品和粉末、薄膜、介電塗層和多層材料、氧化鋁板等。

Anritsu and SWISSto12 Material Measurement Solution
選項

頻譜分析儀選項:

MS4642B-049 70 kHz to 20 GHz Spectrum Analyzer option
MS4644B-049 70 kHz to 40 GHz Spectrum Analyzer option
MS4647B-049 70 kHz to 70 GHz Spectrum Analyzer option
MS4640B-049 SPA options for all broadband and banded solutions

寬頻 VNA 配置:

型號 說明
ME7838AX 70 kHz to 125 GHz, (with guaranteed specifications) broadband VNA , 1mm coax output
ME7838EX 70 kHz to 110 GHz, Broadband VNA, 1 mm coax output
ME7838D 70 kHz to 145 GHz, Broadband VNA, 0.8 mm coax output
ME7838G 70 kHz to 220 GHz, Broadband VNA, 0.6 mm/G output



資料庫
影片
相關產品