Anritsu 安立知與 Y.I.C. Technologies 合作開發創新工具，支援業界廠商預先執行電磁相容性 (EMC) 測量。Anritsu 安立知的新型 Field Master 頻譜分析儀具有一流的掃描速度和連接介面，能與 Y.I.C EMScanners 和 EMViewer 應用軟體相輔相成，提供完全整合的解決方案。

開發先進電子產品的設計工程師面臨著許多來自高速數據電路和射頻 (RF) 元件的 EMC 挑戰。高效的設計流程需要盡早瞭解電路的 EMC 性能。Y.I.C 的掃描儀和 EMViewer 軟體搭配 Anritsu 安立知的頻譜分析儀，可提供所有輻射訊號的獨特三維 (3D) 熱圖；在提交產品給認證測試機構之前，可以先對電路佈局和屏蔽材料進行最佳化，從而最大限度地提高首次通過的機率，減少重覆提交。

Y.I.C. Technologies 全球業務與通路經理 Cornelle Roberts 說：「我們的工作熱情在於幫助工程師縮短排除 EMC 挑戰的時間。我們的解決方案現可相容於 Anritsu 安立知 Field Master 頻譜分析儀，透過與 Anritsu 安立知相容的解決方案，我們共同提供了一種獨特的方式來審視您的設計，並讓您有機會在近場修復所有問題，這將確保在電波暗室中一次性通過測試。我們對此次合作感到非常興奮，期待迎接所有 Anritsu 安立知用戶加入我們的 EMC 大家庭。 」

EMC 測試是產品開發中日益重要的一部份，尤其是在航太、國防和醫療電子市場。高效的產品開發需要專業的設計工具，Anritsu 安立知很高興能與 Y.I.C Technologies 合作，為這一市場提供高效的解決方案。

Anritsu 安立知頻譜分析儀產品經理 Angus Robinson 說：「Anritsu 安立知很榮幸能與 Y.I.C Technologies 合作，幫助他們將創新解決方案推向市場。EMC 測試是測試產業市場日益重要的一部份，而EMScanner 和 EMViewer 產品為我們共同的客戶提供了前所未有的深度見解和速度。」