网络分析仪
支持毫米波的广泛产品组合
两类解决方案
台式
- VectorStar™ 系列
该系列包括多功能和高端矢量网络分析仪，频率范围从 70 kHz 到 220 GHz（使用扩频方案可高达 1.1 THz）。安立还提供适用于测量 O/E、E/O 和 O/O 设备的光电网络分析仪。 - ShockLine™ 系列（经济型）
该系列包括经济型矢量网络分析仪，频率范围为 50 kHz 至 43.5 GHz 或 55 GHz 至 92 GHz。双端口 VNA 解决方案可自由放置测量端口，从而支持长距离稳定测量。
频率
台式 - VectorStar™ 系列
| 型号 | 频率 |
|---|---|
| MS4647B | 70 kHz至70 GHz |
| MS4644B | 70 kHz至40 GHz |
| MS4642B | 70 kHz至20 GHz |
| ME7838G | 70 kHz至220 GHz |
| ME7838G4 | 70 kHz至220 GHz |
| ME7838D | 70 kHz至145 GHz |
| ME7838D4 | 70 kHz至145 GHz |
| ME7838AX | 70 kHz至110 GHz |
| ME7838A4X | 70 kHz至110 GHz |
| ME7848A | 70 kHz至40 GHz/70 GHz |
台式 - ShockLine™ 系列
| 型号 | 频率 |
|---|---|
| MS46522B | 50 kHz至8.5 GHz/20 GHz/43.5 GHz, 55 GHz至92 GHz |
| MS46524B | 50 kHz至8.5 GHz/20 GHz/43.5 GHz |
| MS46322B | 1 MHz至8 GHz/20 GHz/43.5 GHz |
| ME786xA | 1 MHz至8 GHz/20 GHz/43.5 GHz |
| MS46122B | 1 MHz至8 GHz/20 GHz/43.5 GHz |
| MS46131A | 1 MHz至8 GHz/20 GHz/43.5 GHz |
| MS46121B | 150 kHz至6 GHz |
手持式 - Site Master 系列
| 型号 | 频率 | ||
|---|---|---|---|
| 电缆和天线分析仪 | 矢量网络分析仪 (选件) | 频谱分析仪 (选件) | |
| MS2089A | 5 kHz至4 GHz/6 GHz | 5 kHz至4 GHz/6 GHz | 9 kHz至4 GHz/6 GHz |
| MS2085A | 5 kHz至4 GHz/6 GHz | 5 kHz至4 GHz/6 GHz | 不支持 |
| S820E | 1 MHz至8 GHz/14 GHz/20 GHz/30 GHz/40 GHz | 1 MHz至8 GHz/14 GHz/20 GHz/30 GHz/40 GHz | 不支持 |
Case Study
Electronics and Telecommunications Research Institute (ETRI)
毫米波和亚太赫兹器件评估：处于新一代通信与半导体技术前沿的研究机构利用矢量网络分析仪（VNA）构建了宽带在片测量平台。
Meiko Electronics Vietnam Co., Ltd.
一家全球高性能PCB制造商在工厂内完成了高频PCB的评估与验证。通过矢量网络分析仪（VNA）的应用，进一步提升了产品可靠性，并增强了技术方案的竞争力与说服力。
Qualitas Semiconductor Co., Ltd.
一家在高速互连 IP 开发领域处于领先地位的公司，通过采用安立（Anritsu）的矢量网络分析仪，提升了其验证能力和开发效率。
Micro-Star International Co., Ltd.
为应对 AI 和高速传输的需求，全球领先的电脑硬件品牌强化了时域与频域测试工具，有效提升了 PCIe 5.0 和高速 PCB 的验证效能。
Junkosha Inc.
了解矢量网络分析仪 MS46122 系列如何与相位稳定的毫米波电缆搭配使用，为精确测量打开大门。本案例研究揭示了摆脱电缆干扰的 OTA 测试之路。
相关资料
白皮书:
Evaluating Signal Quality to Ensure THz Communication System Performance
在太赫兹通信系统中，对于支持宽带信号和高阶调制方案的收发器而言，性能评估至关重要。然而，当无法实现预期的通信性能时，往往难以确定其根本原因。
本白皮书介绍了通过 EVM、相位噪声、频率响应和 S 参数测量能够获得的信息，并梳理了为识别性能劣化影响因素而需要开展的关键评估项目。
白皮书:
Factory Separation and Evaluation Design for Terahertz Sensing: Measurement Requirements and Condition Design
在该领域的研发中，将由物体本身引起的变化与由测量条件和环境因素引起的变化区分开来，仍然是一项关键挑战。
本白皮书阐述了在太赫兹波段测量中，如何隔离这些因素并确保评估的可重复性。在此测量领域，环境条件、测量系统和信号特性对结果有着强烈的影响。
