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安立在DesignCon 2022上主办技术会议和测试演示以推进高速设计创新

2022/4/18

PAM4, USB Type-C®, PCIe® 6.0 等技术将由测试领导者在领先设计会议上讨论

安立公司作为钻石赞助商,在DesignCon 2022(首屈一指的高速通信和系统设计会议)期间重点介绍了推动新兴高速设计创新的技术和测试解决方案。芯片、电路板和系统设计工程师参加安立公司测试讲座、观看交互式测试解决方案演示,还可以从演讲中学习下一代高速技术和测试需求,这有助于验证复杂的设计。

教育技术会议

安立公司于4月5日~7日参加了一系列教育演讲和现场演示。重点放在新兴和下一代高速技术以及验证前沿组件、设备和系统相关测试要求上。

PAM4 技术 – 安立公司高级业务开发经理Hiroshi Goto参与到《The Case of the Closing Eyes: PAM-N, What Can be Tested?》会议,会议详细介绍物理层验证技术,这些技术具有足够的决定性,可以广泛、无错误地采用。课程参与者将了解与半导体开发和测试解决方案相关的新通信系统设计方法的挑战。

USB Type-C® 标准物理层测试 – Teledyne LeCroy的高速示波器方案产品经理Mike Engbretson讨论了USB4™ 和DisplayPort™ 2.x的最新物理层发射机和接收机测试方法。他还将触及最新的用于USB Type-C系统集成的PHY逻辑层(PHY Logic)调试工具。

VNA的时域反射计应用 – 安立公司VNA高级产品经理Michael Yang主持会议,与会者可以学习如何在发生快速上升的信号事件时,使用矢量网络分析仪(VNA)更经济高效地进行测量。时域反射计(TDR)测量传统上要求信号发生器将入射信号传输至导体,并要求示波器及时测量反射,这增加了成本和测试时间。

针对PCIe 6.0及未来的PAM4 BER & JTOL 测试方案 – 除了PAM4会议之外,Hiroshi Goto还主持一场关于32 Gbaud及以上PAM4 BER测试和抖动容限测试的会议。它还包括前向纠错(FEC)和突发错误分析,为参与PCIe 6.0或400/800GE应用的工程师提供见解。

现场测试演示

4月6日安立公司在会场现场演示了验证高速设计的测试解决方案。其中包括PAM4误码率(BER)和抖动容限(JTOL)测试;FEC和突发错误分析;信号质量分析仪MP1900A PAM4 BERT能力;以及PCIe® 5.0接收机LEQ一致性、RX LEQ和JTOL,以及TX LEQ响应时间测试。

RoBAT公司在DesignCon 2022上推出信号完整性测试系统。这一新系列包括手动、半自动和全自动版本,带有集成的TDR和VNA,包括使用安立ShockLine™ ME7868A双端口VNA创建N x N S参数矩阵的能力。RoBAT的系统能够对任何裸露和组装的PCB进行高速测试,从原型和小批量到大规模量产都可对应。

技术演讲

PCIe 6.0 & Beyond – 继续保持PCIe 6.0的领先地位,Hiroshi Goto讨论了FEC对于确保高速大容量数据传输中传输质量的重要性。技术演讲重点介绍收发器使用的SERDES、DSP和CDR的PAM4误码率和抖动容限测试,其中需要对误码率性能进行FEC预评估,以及可纠正/不可纠正的FEC符号错误性能。


关于安立

安立公司是一家拥有126年历史的创新通信解决方案供应商。公司的测试和测量解决方案包括无线、光通信、微波/射频和数字仪器,支持了系统以及研发、制造、安装和维护的解决方案。安立还为通信产品和系统提供精密微波/射频元件、光器件和高速器件。安立通过增加用于网络监控和优化的多维服务保证解决方案为现有和下一代有线和无线通信系统以及服务供应商提供完整的解决方案。安立业务遍布 90 多个国家,拥有约4,000名员工。

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