安立公司将携PCIe 4.0/PAM4等高速测试方案出席DesignCon2018
2018/1/15
全球最知名的信号完整性和电子设计峰会DesignCon2018即将于2018年1月30日至2月1日在美国加利福尼亚圣克拉拉的圣克拉拉会议中心举行。
作为高速信号测试方案的有力提供者之一，安立公司近年来每年都会作为赞助商参与峰会，今年也不例外，安立公司再次作为白金赞助商，携其最新的PAM4 BER测试、PCIe 4.0接收机测试、100G测试等方案亮相DesignCon2018大会。
热诚地欢迎各界人士光临安立公司位于DesignCon的展位：#741号
在展台上展示的内容将包括：
- 200/400G PAM4 BER测试 (IEEE 802.3, CEI, IBTA)
- 100G AOC抖动容限测试
- 一体化可携带25G/100Gbase-CR4/KR4误码率+RS-FEC测试方案
- 高速串行接口接收机测试 (PCIe 4.0, Thunderbolt™, USB 3.0)
- PCIe 4.0接收机一致性测试
- 70 GHz 4端口VNA信号完整性
- 43.5 GHz 4端口VNA信号完整性
- 自动化VNA SI一致性
另外不要错过我们与合作伙伴（Teledyne LeCroy及GRL）一起举行的技术会议！
听取业内专家对最新测试方案的介绍
日期：2月1日 周四
地点：Great America Meeting Room 2.
时间
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题目
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演讲人
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10:15 AM – 10:55 AM
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200/400G PAM4 BER测试方案(IEEE 802.3, CEI, IBTA)
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Hiroshi Goto
(Anritsu)
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11:05 AM – 11:45 AM
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56G PAM4 BER测试现场演示
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James Morgante
(Anritsu)
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2:00 PM – 2:40 PM
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PCI EXPRESS GEN3, GEN4 和GEN5物理层测试要求与测试流程
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Patrick Connally
(Teledyne LeCroy)
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2:50 PM – 3:30 PM
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高速串行总线接收机测试方案(PCIe Gen4, Thunderbolt, USB 3.0)
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Mike Engbretson
(Granite River Labs)
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产品比特误码率测试(BERT)/眼图仪（采样示波器）无线通信测试仪器
