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业界首创的LTE Category M整套测量解决方案,以更低的成本获得大规模生产效率

2017/12/14

MT8870A的LTE Category M测量软件发布

Universal Wireless Test Set MT8870A

安立公司12月14号发布针对Category M技术的FDD上行链路测量软件MX887065A、下行链路波形文件MV887065A以及全自动测量程序,以支持LTE Category M类终端设备的射频测试。

MT8870A上安装这些软件包,可以实现业界第一个适用于产线大批量生产,支持多达4个Category M类设备或模块同时进行射频TRx指标测试的全套自动测量解决方案。拥有这套自动测量程序将无需再次开发控制程序,将开发时间缩短至零。LTE Category M是基于授权频段并与NB-IoT并行的LPWAN无线技术。除了预期的智慧城市和物流跟踪应用场景外,由于它还支持语音通讯,所以Category M技术还将被紧急预警系统所采用。

【开发背景】
LTE Category M是LTE-Advanced Pro中包含的蜂窝物联网标准。北美和欧洲的通信运营商已经开始提供这项技术的服务,日本预计将从2018年开始部署。顺利推广这项技术服务的一个关键问题是确保终端产品高质量、高效率的大规模批量生产,从而降低终端设备成本。
LTE Category M类设备的测量可以使用程序来自动控制内置在终端设备中的芯片组,但是到目前为止,这些程序必须由每个客户自行开发,不同的芯片类型都需要不同的程序来控制,这将需要耗费大量的时间来完成这项工作。安立公司开发了广受欢迎的通用无线测试仪MT8870A,其支持从传统到最新设计的各种无线设备终端的批量生产测量。安立公司还与芯片供应商携手合作,共同为LTE Category M类设备制定测试与测量方案。基于这项工作,安立开发了支持自动测量的整套解决方案,支持多达四个LTE Category M类终端或芯片组并行测量,实现业界领先的测量效率,无需客户开发控制程序。

【产品概述】
MT8870A是一种用于产线批量生产各种无线通信设备和模块的通用测量仪表。在主机框中安装了4个高性能测试单元,每个单元支持并行独立测量,从而支持4个无线设备或模块的并行测试。
安装支持LTE Category M的FDD上行链路发射测量软件MX887065A、FDD下行链路波形文件MV887065A和全自动测量程序,就能支持依据LTE Category M技术涉及的3GPP规范进行自动并且快速的测量,其中包括发射功率、频率、调制精度、调制灵敏度等射频指标。

【关键特性】

  • 高质量的生产效率
    可同时支持四个LTE Category M类设备或模块的自动测量,业界领先的测量效率,从而确保高效率的生产力。
  • 降低控制程序开发成本
    传统LTE Category M类设备的测量,需要花费时间去专门开发用于控制DUT的程序,实现测量过程中射频信号输出和频率切换等。使用安立公司的这套全自动测量程序,可以降低测量控制程序的开发成本。
  • 高可靠性的评估
    为了保证良好的可靠性,LTE Category M技术测量软件是与客户合作开发的,特别关注与实际芯片组的互连性测试。
  • 有效的评估
    MT8870A已经完全支持2G / 3G / LTE / LTE-Advanced / NB-IoT,WLAN /蓝牙,GPS和FM等技术指标的测量。这一新的软件版本将LTE Category M测试技术加到MT8870A测试仪表中,将进一步拓展其测试能力,同时将进一步降低客户生产测量成本。

【目标市场和应用】

  • 目标市场:Category M芯片制造商,模块制造商和终端产品供应商
  • 应 用:Category M类设备物理层射频指标测试

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