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LTE-Advanced Pro信令测试仪MD8430A 增加千兆LTE和蜂窝物联网功能

2017/11/6

MD8430A发布支持千兆LTE选件(DL 5CA和UL 3CA IP数据通信,SCME*3 Fading*4)以及蜂窝物联网选件(Cat-M1*1, NB-IoT*2

Signalling Tester Base Station Simulator MD8430A

安立公司(总裁桥本裕一)宣布,公司将于2017年11月6日发布MD8430A信令测试仪LTE-Advanced Pro相关测试选件,其中包括:LTE DL 5CA选件、LTE UL 3CA选件、SCME Fading选件、eMTC和NB-IoT选件,具体内容如下:

- LTE DL 5 Carrier Aggregation*6 Option   MD8430A-089
- LTE UL 3 Carrier Aggregation OptionMD8430A-045
- SCME Fading OptionMD8430A-053
- LTE Enhanced MTC OptionMD8430A-062
- Narrow Band IoT OptionMD8430A-063

MD8430A信令测试仪作为一款基站仿真器可支持LTE-Advanced Pro相关协议标准,并且为芯片和终端的开发搭载台式模拟网络。另外,配置模拟衰落环境用于支持LTE-A Pro数据传输速率测试。增加这些选件是为了LTE-A Pro 测试终端能够在MD8430A上进行DL 5CA和UL 3CA IP数据传输测试、SCME衰落环境下的传输速率测试,以及Cat-M1和NB-IOT协议测试。安立公司会在MD8430A信令测试仪上进一步发展LTE-A新功能

[开发背景]
LTE-A Pro通过使用载波聚合扩大通信带宽以及多天线技术,使移动终端在快速移动时可以达到1 Gbps 数据下载传输速率。另外,3GPP Release 13也定义了蜂窝物联网的相关标准。

在移动通信中引进LTE-A Pro技术需要以下评估项目:

  • - 通过组合载波的测试环境提供更高的吞吐量
  • - Cat-M1 和 NB-IoT终端的协议测试
  • - 协议测试使用OTA无线信道建模方式评估LTE-A Pro终端在实际网络的性能

安立公司在信令测试仪MDM8430A上增加了以上功能。

[产品概述]
MD8430A信令测试仪是一款基站模拟器,可支持3GPP LTE-A Pro相关标准。该功能可以支持LTE-A Pro终端进行DL 5CA和UL 3CA IP数据传输测试、SCME衰落环境下的传输速率测试,以及Cat-M1和NB-IOT协议测试。此外,如果输出信号是在同一频段,那么,仪表的一个射频端口可以输出多个同频信号,这样就可以通过增加载波的方式来减少MD8430A数量

MD8430A衰落功能可在实验室复现实际环境中的基带衰落场景,此外,它还支持低时钟测试方式用于芯片初级调试阶段。并且该仪表搭配Rapid Test Designer (RTD) MX786201A测试工具,可提供图形化的脚本编译界面,可以创建MIMO测试环境、多种接入场景,以及各种在现网中难以实现的异常流程。最后,MD8430A内置基带衰落模块,可以在同样的RTD接口上控制相关的基带衰落功能。

[技术术语]

*1 Cat-M1 (也称 LTE-M)
物联网设备类型,通过1.4 MHz有限带宽、扩大传输间隔和节电模式来控制通讯速率实现设备低功率损耗。最大下行速率达1 Mbps。

*2 NB-IoT
类似于Cat-M1,物联网标准使用极窄频带100 kHz支持低通信速度,约为100 kbps

*3 SCME
扩展OTA信道模型(SCM),参考3GPP TS25.996协议。

*4 Fading
在无线通信中,由于地面障碍物以及电离层的干扰导致传输过程中信号幅度发生变化而产生的现象叫做衰落。

*5 Carrier Aggregation (CA)
通过组合载波方式增大传输带宽,得以增大传输速率。5CA表示5个LTE载波聚合

*6 Relative Level Accuracy
相对电平精度表示多个可靠信号的实际功率和理论值水平差异。

*7 Slow Clock Test
当基带信号频率低于成品终端时,在测试过程中通过设置较低参考时钟频率手段达到测试相应的效果。

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