BERTWave™ MP2110A是整合了BERT和取樣示波器（其中一種或兩種作為選配）的多合一儀器，是您用於光學模組和元件產線的最佳選擇。藉由以下五種特色，取樣示波器增加了產線吞吐量和生產率。
特色1：各種光學模組的無觸發訊號評估
根據應用提供兩個可選配的內建時脈還原單元。 安裝這兩個選項後，可以評估各種類型的光學模組，而無需觸發信號。 此外，與 4 通道示波器結合使用時，可以同時測量多個通道。
MP2110A Optical Module Measurement Solution using Clock Recovery Options
特色2：高取樣速度帶來更高的測量吞吐量
檢查測試光學模組及元件需要數量夠大的樣本以擷取穩定光學模組的輸出波形，但增加樣本數會拉長測量時間，因此取樣速度就成為關鍵的性能因素。
光學模組製造步驟
- (1) 初始化測量環境設定
- (2) 調整產品以符合標準
- (3) 進行相容性測試以確認產品沒有問題
以250千個樣本/秒的取樣速度（較舊型的儀器快上六倍）進行，當擷取100萬個取樣點時，MP2110A取樣示波器能夠在5秒內完成測量。
*1: 從開始到完成測量所經過的時間
特色3：縮短了得到結果所需的時間，使初始設定到檢查測量之間的時間變短
調整光學模組和元件時，會重複調整消光比和平均功率值，直到其數值符合標準。因此，減少取樣開始到擷取結果之間的時間對於製造時間的減少和生產率的增加相當重要。MP2110A能夠在0.5秒內擷取到所需的結果。*2
*2: 一般擷取消光比測量結果所需的時間
光學模組製造步驟
- (1) 初始化測量環境設定
- (2) 調整產品以符合標準
- (3) 進行相容性測試以確認產品沒有問題
特色4：內建PC使其能確保性能穩定無需外接控制器
MP2110A具備內建PC以進行測量處理，因此不需要外接PC控制器。
此外，還可支援任何外接PC控制器規格的高速處理。
特色5：高靈敏度O/E帶來高的產線產能
BERTWave™ MP2110A取樣示波器的光學介面擁有–15 dBm*3（一般SMF）的高靈敏度，因此還能夠在通過光學開關等裝置後，從衰減信號擷取到低雜訊眼圖的測量結果，進而增進生產線產量。此外，它也支援過去儀器較難測量到的閉眼眼圖的測量。
*3: 當遮罩餘裕（點擊數0）達到0%時的預估光學功率值（由光學噪聲計算）
新增功能升級的選項
PAM4分析(Option 095)
- 除了NRZ信號，還可以分析包括TDECQ*在內的PAM4信號，支援100G / 200G / 400G光模組的一體化測量。
* TDECQ：表示PAM4信號品質以及與NRZ眼罩相當的測量項目
NRZ抖動分析(Option 096)
- 在總抖動測量中，抖動組件（如DJ及RJ）可以單獨測量。抖動生成源亦可由此推斷。
53 Gbaud PAM 4 TDECQ測量
NRZ/PAM4 Differential Electrical Signal Evaluation (Option 098) NEW
The Eye pattern of differential electrical signals can be analyzed using the Differential Electrical Channel Oscilloscope (Option 021) and Signal Processing Option (Option 098).
- A standards-compliant band filter and equalizer, such as CTLE, can be applied.
- The measurement system, such as cables, can be calibrated using the De-embedding function.
Additionally, installing the Clock Recovery Unit (CRU, Opt-054) eliminates the need to provide a trigger signal.
