VectorStar ME7838A4 寬頻系統利用簡約的毫米波模組和業界最佳的校準穩定性,提供了高性能的 4 埠測量。市場上的其他寬頻系統仍然只提供原始性能和關鍵頻帶上的負向性,而包含 ME7838A4 4 埠系統的 ME7838 系列是提供所有頻帶原始正向性的唯一寬頻系統。因此這一系列會有更好的校準穩定性和更好的測量穩定性,並且大幅延長了校準間隔時間,提高了測量準確度和生產力。新款 ME7838A4 透過並入 Anritsu 3743A mmWave 模組,將高性能 4 埠頻寬測量提升到了新高度。3743A 模組在簡約小巧的高性能毫米波模組中結合了 Anritsu 開發的非線性傳輸線 (NLTL) 技術。
所有 VectorStar ME7838 寬頻系統均包含一個 RF VNA 架構,使用橋代替耦合器,將頻率向下擴展到 RF 頻帶(運行至 40 kHz),以在優異的動態範圍內實現接近直流的分析。
AWR ™與 Anritsu VectorStar 連接
Anritsu 推出的 VectorStar 向量網路分析儀 (VNA) 內置 AWR 的 Microwave Office ®設計軟體,將設計與測量功能完美結合,使其成為該儀器的一項標準功能,同時可將其作為桌面上的一款獨立應用程式。
您現在擁有執行高頻 IC、PCB 和模組設計所需的所有關鍵設計工具,就在您的向量 VNA上運行即可,包括:
- 線性電路模擬器
- 電磁 (EM) 分析工具
- 整合式電路圖和佈局圖
在高性能 VNA 中集入高頻設計工具是未來發展的方向 - 但在目前,只有 Anritsu 和 AWR 已實現此整合。
VectorStar ME7838 系列寬頻 VNA 提供了最寬的單頻掃描,從 70 kHz 至 110、125 和 145 GHz,mmWave 頻帶至 1.1 THz。
- ME7838A4 系統是 4 埠 70 kHz — 110/125 GHz 寬頻系統。
- 可以對系統進行配置,使頻段毫米波模組的頻率高達 1.1 THz
- 至業界最佳的校準與測量穩定性:0.1 dB vs 0.6 dB,24 小時。
- 系統還支援 3744x-Rx 接收器,以測量最高 125 GHz 的雜訊指數
- 簡約、輕巧的 mmWave 模組(0.6 lb vs 7+ lbs 和 1/50 體積)為小型探針台提供了低成本安裝。
Anritsu has partnered with the following industry-leading companies to provide a variety of proven material measurement capabilities that are compatible with the VectorStar and ShockLine vector network analyzer families.
Material Measurements

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Compass Technology
Choose from off-the-shelf or custom-designed RF material measurement systems able to measure material properties from 100 MHz to 90 GHz. These solutions include: focused beam, resonant cavity, waveguides, spot probes, free space measurement systems, and more.
Anritsu and Compass Technology Group Material Measurements Solutions
Compass Technology Group VectorStar Integration [video]
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Keycom Technologies
Select from a variety of material measurement solutions that leverage various methods including: resonator, frequency change, probe type, co-axial tube and waveguide type S-parameter, free space, capacitance, epsilometery, and more.
Anritsu and Keycom Material Measurement Solution
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SWISSto12
Providing hardware and software technology capable of measuring: solid samples; soft sample and foam; liquid samples and powder; thin films; dielectric coatings and multilayer materials; alumina plate; and more.
Anritsu and SWISSto12 Material Measurement Solution
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