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Anritsu 安立知針對 VectorStar™ VNA 推出差動雜訊指數量測選項以滿足高效能測試需求

2018/6/19

業界領先的 VNA 推出新選項打造首款對於 5G、微波系統之元件的差動雜訊指數進行全面特性分析

Vector Network Analyzer 70GHz MS4647B

Anritsu 安立知推出業界首款差動雜訊指數測試解決方案,可針對高速無線通訊系統之差動元件進行全面的特性分析。該解決方案在 Anritsu 安立知的 VectorStar™ 向量網路分析儀 (VNA) 中整合了新差動雜訊指數選項,使研發工程師能驗證低雜訊放大器 (LNA) 及其他用於 5G 前端與微波回程系統之元件的接收器性能。Anritsu 安立知頻率範圍 70 kHz 至 20 GHz、40 GHz、70 GHz 及 110 GHz 之 VectorStar 機型均提供此一新選項。

新型差動雜訊指數選項強化了 VectorStar 的 2-port 單端雜訊指數測量能力,並使 VNA 可透過多種處理選項來測量單端、差動及共模操作模式的 3-port 及 4-port 元件。Anritsu 安立知的差動雜訊指數選項包含與其 2-port 方法類似的 cold-source 量測技術,相較於傳統的 Y-factor雜訊源方法,其可將 mismatch 誤差降至最小以提高精度。新的強化型雜訊指數選項增加了在 2 埠及多埠元件中執行向量校正的能力,以提高準確度,尤其是在 mismatch 顯著時,效果更為明顯。

透過新的差動雜訊指數技術可對相關雜訊及不相關雜訊進行測量分析,以達到對於實際元件性能更全面性的特性分析,進而提高設計可信度。這是一種優於傳統方式的方法,傳統方式包括僅具有 S 參數描述的 RF 平衡-不平衡轉換器,或忽略待測元件輸出埠之間的相關性,皆會導致差分元件的不正確特性分析。為因應隨著 5G 時代而持續上升的通訊頻率,如何更精準進行元件特性分析效能的能力亦愈趨重要。

VectorStar 網路工具的延展範圍進一步確保了準確性,例如,VNA 可以在 on-wafer 雜訊指數測量過程中嵌入或解嵌入單端及差動探針與其他網路,並針對其他設定之更改修正接收器校準,使得在 on-wafer 環境中,達到更精準的差動元件雜訊指數特性分析。

Anritsu MS4640B VectorStar VNA 具備在 70 kHz 至 70 GHz 之單一儀器中最廣泛的覆蓋範圍。 寬頻配置的覆蓋範圍可擴展到 145 GHz 及 1.1 THz。VectorStar 系列是唯一能夠量測 70 kHz 至 125 GHz 單端及差動雜訊係數的 VNA 平台;MS4640B VNA 系列致力於為元件建模工程師提升準確度及可靠性分析,亦協助研發工程師精進其頂尖設計,更為製造工程師保證在不犧牲精準度的情況下達到最高處理能力。

關於 Anritsu

Anritsu 集團創建於 1895 年,目前是國際上最主要的量測儀器製造商之一。全球總部設於日本厚木市,研發單位及製造工廠位於日本、美國、英國及丹麥等,Anritsu 產品包括無線通訊測試、微波射頻元件測試、數據通信測試、光元件特性測試等,其測試系統在行動通訊領域,更具國際領先地位。Anritsu 產品包括:頻譜分析儀、網路分析儀、訊號產生器、無線通訊綜合測試儀、通訊協定分析儀、藍牙測試儀、數據品質分析儀、光時域反射儀及各類手持式分析儀,產品跨及商用、民生、國防領域。Anritsu 還提供精密微波/RF 元件、光學元件、通訊系統的高速電子元件。Anritsu 的辦事處遍佈全世界,在 90 多個國家銷售產品,擁有大約 4,000 名員工。
安立知股份有限公司為 Anritsu (安立知) 集團在台灣之分支機構。除台北總公司外,在新竹亦設有服務據點,為客戶提供產品、技術應用及售後服務等全方位服務。

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