歡迎報名-安立知LTE市場趨勢與測試應用研討會
2011/6/16
安立知(Anritsu)將於2011年7月12日及14日分別在新竹科技生活館與台北集思台大會議中心，辦理「LTE市場趨勢與測試應用研討會」，歡迎踴躍報名參加。
時間：
新竹場次-2011 年7月12日(週二)
台北場次-2011 年7月14日(週四)
地點：
新竹場次-科技生活館 202會議室 (新竹市科學園區工業東二路1號) 地圖
台北場次-集思台大會議中心 蘇格拉底廳 (台北市羅斯福路四段85號B1 國立台灣大學第二活動中心內) 地圖
主辦單位：台灣區電機電子工業同業公會(TEEMA)、安立知股份有限公司(ANRITSU)
參加費用：免費
本研討會提供：精美課程講義、精緻餐點，會後將進行抽獎活動。
內容簡介：
長程演進計畫(LTE)的發展聲勢日益高漲，是最被看好的行動通訊系統，在3G與4G技術的世代交替之際，正是群雄競逐商機的最佳時機。LTE量測設備領導品牌- 安立知(Anritsu)深知您在測試上的需求，在LTE FDD/TDD上皆推出從RF到Protocol最穩定的解決方案，而承襲MD8470A新品MD8475A訊令測試儀，將首次在台灣亮相；想知道LTE測試是可以多麼簡單容易上手嗎？安立知竭誠邀請您報名參加，每場次僅限120位貴賓，欲報從速！
報名方式：
線上報名，請至http://tinyurl.com/4xy6kal 填妥表格後送出，即可完成報名。
聯絡電話：(02)8792-6666-233鄭先生
議程：
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時 間
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主 題
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講 師
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13:10~13:20
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報到
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13:20~13:30
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開場
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13:30~14:00
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LTE Requirements for GCF and PTCRB
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台灣檢驗科技股份有限公司
電子通訊實驗室行動通訊部門經理 郭金興 Ben Kuo
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14:00~14:30
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LTE FDD/TDD訊令測試解決方案
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台灣安立知 產品技術副理
薛伊良 Petrushka Hsueh
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14:30~15:00
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All in One 人性化的手機應用測試解決方案
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15:00~15:30
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Coffee Break
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15:30~16:10
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LTE連網展示- MD8475A
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台灣安立知 產品技術副理
薛伊良 Petrushka Hsueh
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16:10~16:40
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LTE FDD/TDD射頻量測與自動化測試
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台灣安立知 技術副理
吳錫坤 Howard Wu
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16:40~
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Q&A及抽獎活動
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*主辦單位保留活動議程更動權利，若有變更將另行通知。
*若遇不可抗拒之因素如颱風、地震等，將以氣象局公告為基準，取消或延後本次研討會。