歡迎報名-安立知LTE市場趨勢與測試應用研討會

2011/6/16

安立知(Anritsu)將於2011年7月12日及14日分別在新竹科技生活館與台北集思台大會議中心，辦理「LTE市場趨勢與測試應用研討會」，歡迎踴躍報名參加。

時間：

新竹場次-2011 年7月12日(週二)　

台北場次-2011 年7月14日(週四)

地點：

新竹場次-科技生活館 202會議室 (新竹市科學園區工業東二路1號) 地圖

台北場次-集思台大會議中心蘇格拉底廳 (台北市羅斯福路四段85號B1 國立台灣大學第二活動中心內) 地圖

主辦單位：台灣區電機電子工業同業公會(TEEMA)、安立知股份有限公司(ANRITSU)

參加費用：免費

本研討會提供：精美課程講義、精緻餐點，會後將進行抽獎活動。

內容簡介：

長程演進計畫(LTE)的發展聲勢日益高漲，是最被看好的行動通訊系統，在3G與4G技術的世代交替之際，正是群雄競逐商機的最佳時機。LTE量測設備領導品牌- 安立知(Anritsu)深知您在測試上的需求，在LTE FDD/TDD上皆推出從RF到Protocol最穩定的解決方案，而承襲MD8470A新品MD8475A訊令測試儀，將首次在台灣亮相；想知道LTE測試是可以多麼簡單容易上手嗎？安立知竭誠邀請您報名參加，每場次僅限120位貴賓，欲報從速！

報名方式：

線上報名，請至http://tinyurl.com/4xy6kal 填妥表格後送出，即可完成報名。

聯絡電話：(02)8792-6666-233鄭先生

議程：

時　間	主　題	講　師
13:10~13:20	報到
13:20~13:30	開場
13:30~14:00	LTE Requirements for GCF and PTCRB	台灣檢驗科技股份有限公司電子通訊實驗室行動通訊部門經理郭金興 Ben Kuo
14:00~14:30	LTE FDD/TDD訊令測試解決方案	台灣安立知產品技術副理薛伊良 Petrushka Hsueh
14:30~15:00	All in One 人性化的手機應用測試解決方案	台灣安立知產品技術副理薛伊良 Petrushka Hsueh
15:00~15:30	Coffee Break
15:30~16:10	LTE連網展示- MD8475A	台灣安立知產品技術副理薛伊良 Petrushka Hsueh
16:10~16:40	LTE FDD/TDD射頻量測與自動化測試	台灣安立知技術副理吳錫坤 Howard Wu
16:40~	Q&A及抽獎活動

*主辦單位保留活動議程更動權利，若有變更將另行通知。

*若遇不可抗拒之因素如颱風、地震等，將以氣象局公告為基準，取消或延後本次研討會。

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