Anritsu在CTIA展示其專利申請中的無源互調測量技術

2011/3/28

不管來自天線系統還是周圍的環境,新的測試功能幫助現場工程師準確定位PIM來源

摩根希爾，美國加利福尼亞州 – 即時發佈 – 3月22-24日, Anritsu在佛羅里達奧蘭多的CTIA展場（(#2234）上展示其正在申請專利的Distance-to-PIM™ (PIM)測量技術.這是Anritsu新產品MW8219A PIM Master™上的一個選項,不管來自天線系統還是週遭的環境,DTP可以精確定位PIM 故障.該選項指向了一個不斷出現的由於數據服務擴展,移動視頻使用的增加以及其他應用所導致的帶給無線網路驚人的頻寬壓力的問題.

此次展示將著重在DTP的簡單,直接和準確度.其展示顯示出DTP如何在同時間內通知遠程用戶以及所有PIM來源的相對值. DTP和Distance-to-Fault (DTF)相似,後者是Anritsu 1997年針對Site Master™所推出的產品,顯示了距離和阻抗變化. DTP使用運算法則與DTF類似,都顯示了距離與非線性故障的嚴重程度.

“DTP顯示了天線系統內PIM問題的位置,以及天線系統外到外部PIM來源的距離.這是改善所接收現場PIM測試信息質量的一個令人難以置信的進步.”Anritsu Field Solutions Business Unit產品經理Nick Cannon如此介紹到.

DTP測試所提供的信息遠遠超過傳統的PIM測試所能獲得的信息.所獲取的信息可以促進維修, 控制維修成本, 幫助計畫精確的預算. 隨著時間比較PIM的價值可以知道,是否會隨著年齡而老化.此特點使得故障校準之前失敗的原因下降或阻塞調用.

PIM Master將提供DTP選件. PIM Master可以和Anritsu的S332E/S362E Site Master™, MS2712E/MS2713E Spectrum Master™, MT8212E/MT8213E Cell Master™ 手持式分析儀, 以及MT8221B/MT8222A/MT8222B BTS Master™ 手持式分析儀一起工作.

現場工作人員可以使用PIM Master在一個基站傳輸帶生成兩個高功率音調,並使用任何一種這些手持式分析儀去測量同一電纜中在接收帶中的3^rd, 5^th, 或7^th互調產品.使用所有分析儀上配置的GPS選件還可以紀錄測量的位置.

相比其他可選的20W的測量方法, Anritsu MW8219A的核心功能可達到40W測試.使用雙電源使得PIM Master可以在輕腐蝕, 高流量負荷, 或不斷變化的天氣條件下定位間歇式故障.它還允許用戶在多載波系統中查找天線系統故障,或在連接器中發掘微觀電弧.

關於 Anritsu

Anritsu Company (www.us.anritsu.com) 屬於 Anritsu Corporation 的美國子公司，Anritsu Corporation 是創新的通信測試與測量解決方案的全球供應商，已有 110 多年的歷史。Anritsu 為現有的及下一代有線和無線通訊系統和運營商提供解決方案。Anritsu 的產品包括無線、光學、微波/RF 和數位儀器，還包括研發、製造、安裝和維護等運營支援系統。Anritsu 還提供精密微波/RF元件、光學器件及通信產品和系統的高速電子器件。Anritsu 的辦事處遍佈全世界，在 90 多個國家銷售產品，擁有大約 4,000 名員工。

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