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High Speed PAM4 BER 측정 솔루션

One Box Over 400G Testing

【Video】Signal Quality Analyzer-R MP1900A PAM4 Solution Duration: 00:03:18
안리쓰는 32G/64G NRZ/PAM4용 MP1900A 테스트 솔루션에서 비트 오류율(BER) 측정, 누화 테스트(Crosstalk Test), Jitter Tolerance 테스트 등과 같은 보다 정확한 신호 무결성 테스트를 구현했다.

Three Features Supporting PAM Measurement

High-Quality

Expandability

All In One

What’s New
2021/3/15 ー "FEC Analysis - PAM4 ED MU196040B" is launched

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PAM 측정을 위한 모든 기기를, 하나의 장치로
고품질 출력 파형을 이용한 효율적인 측정

PAM4 Test Solution

고 품질

고속 Tr/Tf 및 낮은 Intrinsic Jitter로 고품질 데이터 출력

PAM4 PPG MU196020A는 8.5ps의 높은 Tr/Tf 속도(20~80%)와 170fs rms의 낮은 intrinsic jitter, 그리고 넓은 개방형 Eye PAM4 파형 및 높은 재현성 측정을 위한 높은 아날로그 대역폭을 가진 저잡음(low-noise) 및 저왜곡(low-distortion) 고품질 데이터 신호의 출력을 지원한다.

NRZ waveform
Typical 58 Gbps PRBS15 Output Waveform
(J1789A 40 cm Cable and 1400 mV Differential)
PAM4 waveform
53.125-Gbaud PRBS15 Output Waveform
(J1789A 40 cm Cable and Differential)

4Tap Emphasis Output at 20 dB Max

MU196020A에 내장된 옵션 4Tap Emphasis 기능은 64.2G의 최대 속도에 대해 각 표준에서 요구하는 Pre-Emphasis 및 De-Emphasis 신호를 생성할 수 있다. 각 탭은 최대 20dB까지 독립적으로 변경할 수 있으므로 다양한 전송 경로에 대해 수정된 파형을 우수한 재현성으로 출력할 수 있다.

PAM4 Emphasis

고입력 감도 기능을 사용한 116Gbps PAM4 Signal Error-Free BER 측정

PAM4 ED MU196040B를 PAM4 PPG와 결합하면 116Gbps(58Gbaud) PAM4 신호의 BER 측정을 지원한다. 오류가 없는(Error-free) BER 측정은 23mV @ 26Gbaud 및 36mV @ 53Gbaud의 업계 최고의 고감도 성능으로 달성된다. 그 결과 높은 정확도의 BER 측정을 통해 이전에는 분석하기 어려웠던 PAM4 디바이스의 문제를 쉽게 해결할 수 있다. 또한, CEI-112G-VSR에서 정의한 최악의 스트레스 신호(Stressed signals)도 사양을 초과하는 낮은 오류율(<E-8)로 수신할 수 있으므로 실제 DUT 성능을 검증할 수 있다.

Error-Free Measurement of PAM3 Signals at 23 mV @ 26 Gbaud, and 36 mV @ 53Gbaud
Error-Free Measurement of PAM3 Signals at 23 mV @ 26 Gbaud, and 36 mV @ 53Gbaud
CEI-112G-VSR-defined Worst-Case Stressed PAM4 Signal
CEI-112G-VSR-defined Worst-Case Stressed PAM4 Signal
PAM4 BER Measurement Screen
PAM4 BER Measurement Screen

자동 검색 기능

Upper Eye, Middle Eye 및 Lower Eye 측정 포인트(전압 Threshold 값 및 페이즈) 외에도 최적의 이퀄라이저 자동 설정은 최상의 BER 결과에 필요한 조건을 만족한다. 또한, PAM4 Symbol Logic 및 Gray Coding 조건의 자동 감지는 PAM4 심볼 코딩 입력에 대한 패턴 조건의 자동 평가를 지원하여 더욱 효율적인 측정 환경을 제공한다.

MP1900A_ Auto-Search Function

확장성

MP1900A 시리즈는 8슬롯, 모듈식, 고성능 BERT이다. 따라서 슬롯에 64G PAM4 PPG 모듈 보드를 여러 개 설치하면 400GbE 시스템뿐만 아니라 미래의 800GbE 시스템도 측정할 수 있는 성능을 제공한다. 이러한 유연한 확장성을 통해 고객은 제품 개발 비용 효율성을 극대화하고 제품을 조기에 출시할 수 있다.

NRZ Solution
PAM4 Solution
PAM3 Solution
 

All-In-One

올인원 64 Gbaud BER 측정 솔루션

8슬롯 메인 chassis는 PPG/ED, 기존 신디사이저, Jitter modulation(변조) 소스, 노이즈 발생기 등과 같은 다양한 모듈 조합을 수용할 수 있다. 컴팩트하고 비용 대비 성능이 뛰어난 차세대 올인원 측정 솔루션은 다른 외부 기기 없이 구성할 수 있다.

All-in-One 64Gbaud BER Measurement Solution

하나의 MP1900A를 사용한 PAM4 신호 Jitter Tolerance 테스트

PAM4 Jitter Tolerance Test

실시간 FEC Symbol Error 및 FEC 표준 Jitter Tolerance 측정 기능

수정 불가능한 코드워드(Codeword) 및 FEC Symbol Errors는 비트 오류 측정과 동시에 실시간으로 한 화면에 측정 및 표시될 수 있다. 수정 가능/수정 불가 FEC를 기반으로 한 코드워드 분포별 Jitter Tolerance및 FEC Symbol Error 측정이 지원된다(MU196040B-042). 비트 오류와 FEC Symbol Error는 모두 고속으로 측정된다.

MP1900A, Real-time FEC Symbol Error and FEC Standard Jitter Tolerance Measurement Functions FEC Analysis (Leaflet) >

FEC Symbol Errors 감지 및 분석 지원

FEC symbol error 수가 Threshold 값 설정을 초과하면 입력 데이터가 캡처되며, FEC 수정 불가 오류의 원인은 캡처된 데이터에서 분석할 수 있다.

Supports detection and analysis of FEC Symbol Errors

Eye Contour Margin 테스트 지원

입력 신호 Eye opening은 Bathtub 추정치를 기반으로 고속으로 측정된다. NRZ 외에도 PAM4 Symbol Upper, Middle, Lower Eye 오프닝이 측정되어 최대 E-20까지의 BER 추정에서 Eye Margin 특성의 더욱 정확한 평가를 지원한다.

MP1900A_ Eye Contour Margin test

올인원 이더넷/PCIe® 측정

이 올인원 테스트 솔루션을 사용하여 PAM4와 빨라지는 PCIe 1.0 ~ 5.0 인터페이스를 모두 측정할 수 있다. Protocol Aware Link training*1 은 차세대 PCIe 6.0 표준에 정의된 PAM4 Symbol Error 측정 및 Jitter Tolerance 테스트와 함께 PCIe 5.0까지 지원되어 1단계 PCIe 인증*2에서 중요한 역할을 한다.

MP1900A_ All-in-One Ethernet/PCIe Measurement

*1: 자세한 내용은 Selection Guide (MP1900A-E-Z-1)를 참조하십시오.
*2: PCIe 6.0 Link training과 관련된 자세한 내용은 비즈니스 섹션에 문의하십시오.

Jitter/Noise Types*      *: The upper noise addition rate is 32.1G.

Sine Wave Jitter (SJ)
Sine Wave Jitter (SJ)
Random Jitter (RJ)
Random Jitter (RJ)
CM/DM Noise
CM/DM Noise
White Noise
White Noise

Jitter Tolerance 테스트 기능(MX183000A-PL001)

  • 손쉬운 Jitter Tolerance 측정
  • SJ/RJ/BUJ를 사용한 PHY 디바이스 Jitter Tolerance 테스트
  • 다양한 표준을 지원하는 마스크(Mask) 측정
  • 낮은 오류율(1E-12, 1E-15 등) 추정 기능을 사용하여 측정 시간 단축
  • Binary, Upward, Downward 및 Binary + Linear의 4가지 측정 방법을 사용하여 디바이스 특성에 대한 Tolerance 측정
  • IEEE 802.3, CEI 등을 포함한 200/400G용 내장 Jitter Tolerance Mask 표준
  • 사용자 정의 마스크 및 새로운 표준 모두 지원

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