VectorStar 4 포트 광대역 VNA ME7838E4/A4/D4

ME7838A4

The VectorStar series of broadband Vector Network Analyzers offer the widest available 4-port single sweep measurements from 70 kHz to 110, 125, 145, and 150 GHz with mmWave bands up to 1.1 THz

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VectorStar ME7838A4 광대역 시스템은 업계 최고의 보정 안정성을 자랑하는 소형 밀리미터파 모듈을 활용하여 고성능 4 포트 측정을 제공합니다. 다른 광대역 시스템들은 중요 주파수 대역에서 네거티브 지향성을 보이는 원시 성능 제공의 한계를 벗어나지 못하고 있지만, ME7838A4 4 포트 시스템을 포함한 ME7838 시리즈는 모든 대역에서 포지티브 원시 지향성을 제공하는 유일한 광대역 시스템입니다. 그 결과 보정 안정성과 측정 안정성이 개선되었고, 정확한 측정과 높은 생산성 유지에 필요한 보정 주기가 현저하게 길어졌습니다.새로운 ME7838A4는 Anritsu 3743A 밀리미터파 모듈을 도입하여 고성능 4포트 광대역 측정의 수준을 새롭게 정의합니다. 3743A 모듈에는 하나의 작은 고밀도 고성능 밀리미터파 모듈에 Anritsu에서 개발한 비선형 송신 라인(NLTL) 기술이 결합되어 있습니다.

모든 VectorStar ME7838 광대역 시스템에는 커플러 대신 브리지를 사용한 RF VNA 아키텍처가 포함되어 있어 주파수를 RF 대역까지 확장하므로(40 kHz까지 작동) 뛰어난 다이나믹 레인지의 DC에 가까운(near-DC) 분석이 가능합니다.

AWR Connected™ -Anritsu VectorStar
Anritsu의 VectorStar VNA(Vector Network Analyzer)는 데스크탑의 개별 애플리케이션으로서, 기기 내 표준 기능으로 AWR의 Microwave Office® 설계 소프트웨어를 포함시킴으로써 설계와 측정을 고유하게 결합합니다.

이제 사용자는 손가락으로 간단히 누르기만 하면 VNA에서 고주파 IC, PCB 및 모듈 설계에 필수적인 모든 설계 도구에 바로 액세스할 수 있습니다. 이러한 설계 도구에는 다음이 포함됩니다.

선형 회로 시뮬레이터
전자기(EM) 분석 도구
통합된 도식도 및 레이아웃

고성능 VNA 내에 고주파 설계 도구를 통합하는 것은 미래 지향적인 방식으로, 현재 Anritsu와 AWR에서만 구입할 수 있습니다.

VectorStar ME7838 시리즈 광대역 VNA는 70 kHz부터 110, 125 및 145 GHz까지의 대단히 넓은 가용 단일 주파수 스위프를 제공하며 mmWave 대역은 1.1 THz에 이릅니다.

ME7838A4 시스템은 4 포트 70 kHz — 110/125 GHz 광대역 시스템입니다.
이 시스템은 최대 1.1 THz까지의 대역화된 밀리미터파 모듈을 포함하도록 구성할 수 있습니다.
업계 최고의 보정 및 측정 안정성을 보장합니다: 24시간 동안 0.1dB 대비 0.6dB.
이 시스템은 또한 3744x-Rx 수신기를 지원하여 125 GHz까지의 잡음 지수 측정에 사용할 수 있습니다.
작은 크기의 경량 밀리미터파 모듈(0.6 lb 대 7+ lbs 및 볼륨의 1/50)은 작은 프로브 스테이션에서 설치 비용을 줄입니다.

옵션

광대역 VNA 구성:

모델	설명
ME7838A	70 kHz — 110 GHz, 작동 범위 40 kHz ~ 125 GHz, 광대역 VNA, 1 mm 동축 출력
ME7838E	70 kHz — 110 GHz, 광대역 VNA, 1 mm 동축 출력
ME7838D	70 kHz — 145 GHz, 광대역 VNA, 0.8 mm 동축 출력
ME7838A4	70 kHz — 110 GHz, 작동 범위 40 kHz — 125 GHz, 4 포트 광대역 VNA, 1 mm 동축 출력

관련 링크

라이브러리

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기사

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Introducing Cutting-edge Pulse Measurement Capability with Anritsu's new VectorStar B Series VNAs equipped with PulseView

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Testing radar sub-systems and components. On-wafer device characterization. Analysis tools.

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