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기능

측정 시간 단축

BER과 아이 패턴을 1대로 동시 측정

 

fig1

1대로 BER과 아이 패턴 분석을 동시에 할 수 있기 때문에 측정 기기 설비 투자를 절반으로, 측정 시간도 절반으로 줄을 수 있습니다. 트래킹 기능을 탑재함으로써 BERT부의 설정과 아이 펄스 스코프 기능부를 쉽게 설정할 수 있습니다.

 

4ch 동시 BER 측정

 

fig2

표준 탑재되어 있는 All BER Result 기능을 사용함으로써 4ch의 BER 측정을 동시에 할 수가 있어 종래 기종에 비해 측정 시간을 1/3 이하로 단축합니다.

 

고속 마스크 테스트

 

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Fast Sampling Mode고속 샘플링은 약 8초* 내에 빠른 마스크 테스트를 지원하여 측정 시간을 줄입니다.
(*) 연속된 PRBS31테스트 패턴과 함께 10.3125 Gbit/s의 비트율에서 106 개의 샘플을 포착할 때

 

고속 마스크 마진 테스트

 

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마스크 마진 측정을 자동으로 측정해서 거의 실시간으로 마스크 마진을 확인할 수가 있기 때문에 측정 시간의 단축에 공헌합니다.

 

측정 시간의 단축

 

4ch BER 측정 및 Fast Sampling Mode를 사용함으로써 측정 시간을 종래 기종에 비해 최대 80% 절감할 수가 있습니다.

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종래 기종 1은 2ch BERT 및 샘플링 오실로스코프의 조합
종래 기종 2는 2ch BERT와 샘플링 오실로스코프를 일체화한 기종
MP2100B는 4ch BERT와 샘플링 오실로스코프를 일체화한 기종
비교 조건은 10 Gbit/s × 4ch의 신호에 대해 1E-3, 1E-5, 1E-7, 1E-8, 1E-9, 1E-10의 각각에서 3포인트 BER을 취득
1Msample의 파형을 취득한 경우의 비교

 

 

다양한 측정 기능

폭넓은 동작 주파수 범위

 

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BBERT 기능은 125 Mbit/s부터 12.5 Gbit/s(옵션 092 포함)의 비트율을 지원하므로 100BASE-FX, GE-PON, CPRI, 10GFC, OTU2 등 다양한 어플리케이션에서 사용할 수 있습니다.

 

아이 패턴 분석

 

샘플링 오실로스코프는 전기; DC~25GHz, 광; DC~9GHz까지 대응하고 있기 때문에 많은 어플리케이션에서 아이 마스크 분석을 실현할 수 있습니다.

시간 및 진폭 테스트
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이 테스트는 0과 1 레벨, SNR, 크로스포인트 비율, 아이패턴 진폭,아이패턴 높이, 아이패턴 폭, 지터 p-p 값, 지터 RMS, 소광비, 상승 및 하락 시간, 듀티 사이클 왜곡, 평균 전력의 측정을 지원합니다. 또한, 광 모듈의 특성 확인에 필요한 소광비 측정에 대해 고정밀하고 뛰어난 결과를 제공합니다.

히스토그램
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지정된 영역의 평균값, 표준편차, 데이터 분산 측정은 파형 데이터 구성요소 분석 및 문제해결을 지원합니다.

 

 

고품질 파형(PPG), 고감도 입력(ED)

고품질 파형(PPG), 고감도 입력(ED)

 

fig1

지터 1ps(대표값)의 고품질 파형 PPG 및 10mVp-p의 고감도 ED를 탑재할 수가 있기 때문에 피측정물의 특성을 정확하게 측정할 수가 있습니다.

 

 

지터 분석 기능

MX210001A 지터 분석 소프트웨어

 

기본적인 지터 분석을 위한 히스토그램 모드 또는 상세한 지터 분석을 위한 패턴 검색 모드 중에서 용도에 따라 적절한 측정 방법을 선택할 수 있습니다.

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전송 분석 기능

MX210002A 전송 분석 소프트웨어

 

전송 분석(S21 게인, 위상), 선형성, 필터링, 엠퍼시스 계산을 포함한 파형 시뮬레이션은 동시 파형 샘플링 및 시뮬레이션을 지원합니다. 아이 패턴 측정과 아이 마스크 테스트 기능도 동시에 사용할 수 있습니다.

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