特長1     トリガ信号なしで、さまざまなタイプの光モジュールを評価できる  NEW

内蔵可能なクロックリカバリユニットは、用途に応じた2種類のオプションが用意されており、自由に組み合わせ可能です。両方のオプションを搭載すると、さまざまなタイプの光モジュールをトリガクロックなしに1台で評価できます。また4チャネルのオシロスコープと組み合わせて、マルチチャネル一括測定もできます。

特長2     サンプリング速度が速いため、測定スループット向上が実現できる

光モジュール/デバイスの検査段階では、安定した光モジュールの出力波形を得るためには十分なサンプル数を取得する必要がありますが、サンプル数を増やせば増やすほど測定時間は長くなります。このため、サンプリングスピードが重要となります。

1. ① 測定環境の初期設定
2. ② 製品を規格範囲に収める調整
3. ③ 製品として問題ないことを確認する本測定

MP2110Aのサンプリングオシロスコープのサンプリングスピードは250 ksamples/s（従来機種の約6倍）と高速であり、サンプル数が1Mの場合は約5秒^＊1で測定を完了できます。

＊1：測定開始停止にかかる時間を含む

特長3     測定結果取得時間が短いため、初期設定から本測定に入るまでの工程時間を短縮できる

光モジュール/デバイスの調整段階では、消光比や平均パワーの値が規格値を満足するまで何度も測定を繰り返します。そのため、サンプリングを開始してから測定結果を取得するまでにかかる時間が短いほど工程時間を短縮できます。MP2110Aはこれらの値を約0.5秒^＊2と高速に取得できます。

＊2：消光比の測定結果取得時間における代表値

1. ① 測定環境の初期設定
2. ② 製品を規格範囲に収める調整
3. ③ 製品として問題ないことを確認する本測定

特長4     PC内蔵のため、外部からの制御不要で安定したパフォーマンスを発揮

MP2110Aは測定処理を行うPCが内蔵されているため、外部に制御用PCを用意する必要がありません。また、外部制御用PCのスペックに依存しない高速処理ができます。

特長5     高感度O/E採用により、歩留り向上が期待できる

BERTWave™ MP2110Aのサンプリングオシロスコープの光インターフェースは、-15 dBm^＊3（代表値、SMF）の高感度を実現しています。これにより、光スイッチなどで減衰した信号でもノイズの少ないアイパターン測定結果を得ることができるため、歩留り向上が期待できます。また、従来よりもEye開口が狭い場合の測定もできます。

オプション追加でさらに機能UP！

• NRZ信号に加え、TDECQ^＊をはじめとしたPAM4信号の評価ができます。
• 100G/200G/400Gの光モジュールを一台で測定できます。

＊ TDECQ: NRZのアイマスク試験に相当するPAM4光信号品質の代表的な測定項目

• トータルジッタを測定したり、ジッタ成分を分離してDJ、RJなどを測定できます。
• ジッタの発生原因を推定できます。

53 Gbaud PAM4 TDECQ測定