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機能

測定時間の短縮化

BERとアイパターンを1台で同時測定

fig1

1台でBER測定とアイパターン解析を同時に行えるため、測定器設備投資額を半分に、測定時間も半分に抑えられます。また、トラッキング機能の実装により、BERT部の設定とアイ/パルススコープ機能部の設定が容易に行えます。

 

4ch同時BER測定

fig2

標準搭載されている、All BER Result機能を使用することにより、4chのBER測定を同時に測定することが可能となり、従来機種と比べて測定時間を1/3以下に短縮します。

 

高速アイマスク試験

fig3

Fast Sampling Modeを使用することにより、約8秒という短時間でアイマスクテストが実行できるため、測定時間の短縮に貢献します。
* ビットレート:10.3125 Gbit/s、Test パターン:PRBS 31、Back-to-Back時に100万サンプル取得したときの代表値

 

高速マスクマージン試験

fig4

マスクマージン測定を自動的に測定し、ほぼリアルタイムにマスクマージンを確認することができるため、測定時間の短縮に貢献します。

 

測定時間の短縮

4ch BER測定およびFast Sampling Modeを使用することにより、測定時間を従来機種と比較して最大80%削減できます。

fig5

従来機種1は、2ch BERTおよびサンプリングオシロスコープの組み合わせ
従来機種2は、2ch BERTとサンプリングオシロスコープを一体化した機種
MP2100Bは、4ch BERTとサンプリングオシロスコープを一体化した機種
比較条件は、10 Gbit/s × 4chの信号に対して1E-3、1E-5、1E-7、1E-8、1E-9、1E-10のそれぞれで3ポイントBERを取得
1Msampleの波形を取得した場合の比較

 

 

多彩な測定機能

広帯域な動作周波数

fig6-3

BERT機能は、125 Mbit/sから12.5 Gbit/sまで対応(Option 092搭載)しているため、本機器1台で100BASE-FX、GE-PON、CPRI、10GFC、OTU2などのさまざまなアプリケーションで使用できます。

 

アイパターン解析

サンプリングオシロスコープは電気;DC~25 GHz、光;DC~9 GHzまで対応しているため、多くのアプリケーションでアイマスク解析を実現できます

時間、振幅試験
fig7

0レベル、1レベル、SNR、アイクロス比率、アイ振幅、アイ高さ、アイ幅、ジッタp-p、ジッタRMS、消光比、立ち上がり時間、立ち下り時間、デューティサイクルひずみ、平均パワーの測定ができます。また、光モジュールの特性確認に必要な消光比測定に対して、高精度で優れた結果を提供します。

ヒストグラム
fig8

設定した領域内のデータ分布を平均値・標準偏差・散らばりの幅を測定することにより、波形データの成分解析ができ、トラブルシューティングに貢献します。

 

 

高品質波形(PPG)、高感度入力(ED)

高品質波形(PPG)、高感度入力(ED)

fig1

ジッタ1 ps(代表値)の高品質波形のPPGおよび10 mVp-pの高感度EDを実装することができるため、被測定物の特性を正確に測定できます。

 

 

ジッタ解析機能

ジッタ解析ソフトウェア MX210001A

基本的なジッタ測定を提供するヒストグラム法と、詳細なジッタ測定を提供するパターンサーチ法の2種類の測定が実施できるので、用途に応じて適切な測定方法を選択できます。

fig9

 

 

伝送解析機能

伝送解析ソフトウェア MX210002A

伝送解析(S21ゲインおよび位相)、リニアイコライザ・フィルタ・エンファシス演算を施した波形シミュレーション機能を持っているため、波形サンプリングと同時に波形シミュレーションでき、アイパターンやアイマスク機能も同時に実施できます。

fig10

以下のお住まいの国をご確認の上、最寄りのイベント、連絡先情報、特別キャンペーンをご覧ください。