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複数XFP製造ソリューション

低価格、低消費電力、テスト時間短縮、そして製品品質向上のために

光トランシーバモジュール試験構成

 

光トランシーバモジュール試験構成

 

ソリューションの特徴

高品質測定

モジュール内クロストークを考慮した測定
Tx/Rx 間でビットレートを100 ppm 変化させ、最悪条件下で試験を行い、フィールドでのトラブルを回避

 

テスト時間削減

4モジュールのTx / Rx を同時測定
テスト時間を1/8 に短縮

 

低消費電力

600VA以下

 

測定器スペースの削減

PPG 2つとED 4つを1Box に
同構成だと他社では、4boxで1,000VA以上

 

 


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