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XFP製造ソリューション

低価格、低消費電力、テスト時間短縮、そして製品品質向上のために

光トランシーバモジュール試験構成

 

光トランシーバモジュール試験構成

 

ソリューションの特長

高品質測定

モジュール内クロストークを考慮した測定
Tx/Rx 間でビットレートを100 ppm 変化させ、最悪条件下で試験を行い、フィールドでのトラブルを回避

 

テスト時間削減

Tx / Rx を同時測定
テスト時間を1/2 に短縮

 

測定器スペースの削減

PPG 2つとED 1つを1Box に

 

 

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