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BER測定(高速メモリ)

BER測定(高速メモリ)

デジタル機器の高速化・高密度化に伴い、オシロスコープでの波形確認に加えて、 ビットエラーレート測定器による伝送品質評価が必要になってきています。
シグナルクオリティアナライザMP1800Aシリーズは、 パルスパターン発生器（Pulse Pattern Generator：PPG）と 誤り検出器（Error Detector：ED）を一筐体に同時に搭載できるビットエラーレート測定器です。

 

BER測定

 

ソリューションの特長
  • 柔軟な拡張性、研究の進捗にあわせて機能UPが可能：
    研究用途や研究段階ごとにPPGを買い直していませんか？また、EDを追加したいのに本体ごと新規に買い直していませんか？
    MP1800Aシリーズは、モジュール単位で必要な機能を搭載できるため、研究費用の有効利用ができます。


  • ジッタ耐力測定も1筐体構成で実現：
    ジッタ付加オプションを搭載することにより、1筐体でジッタ耐力測定が可能です。


  • 干渉試験も容易に試験可能：
    PPGをマルチチャネル構成にすることで、チャネル間のデータ位相可変機能を使ったクロストーク評価が可能です。


  • PPGから、低ジッタで高品質な波形や、高振幅な波形を出力可能：
    PPGは、低ジッタで高品質な出力オプションや、高振幅な出力オプションをアプリケーションに応じて選択できます。
    例えば、任意パターン発生機能を使うことで、DDR2 SDRAMへのクリーンなリファレンスクロック信号として使用することもできます。
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