Skip to main content
MENU
ホーム
製品 / ソリューションサービス / サポートその他の事業サービスアンリツについてお問い合わせ
製品 / ソリューション
ホーム
電子計測器RF/マイクロ波コンポーネントサービス アシュアランス異物・質量検査、計量機器情報通信機器 光デバイス、高速電子デバイスパートナーソリューション事業
電子計測器
前のメニューに戻る
製品カテゴリから探すテクノロジーで探す購入情報ビデオギャラリーサービス・サポート製造中止機種アンリツについてお問い合わせ
テクノロジーで探す
前のメニューに戻る
5G, 4G and 3G Testing with Anritsu基地局試験Bluetoothイーサネットファイバチャネル干渉波の探索IoT (Internet of Things)LTEOTDROTN、SDH/SONET、PDH/DSnSyncETD-SCDMAW-CDMA/HSPA/HSPA EvolutionWiMAXWLAN
購入情報
前のメニューに戻る
見積請求フォームキャンペーンのご案内 デモ機・再生品の購入光フィールド計測器販売店レンタル会社 購入お問い合わせ窓口
サービス・サポート
前のメニューに戻る
修理・校正テクニカルサポート試験サービスダウンロードセンター製品の輸出管理についてMy Anritsuについて製品に関する重要なお知らせアンリツカスタマーサポート株式会社
修理・校正
前のメニューに戻る
修理・校正のご依頼（We-Mec）修理・校正サービスの可否検索（We-Mec）保証期間検索修理・校正に関するお問い合わせ先修理・校正に係わるその他の情報
修理・校正に係わるその他の情報
前のメニューに戻る
校正サービス修理サービス試験サービスその他のサービス
アンリツカスタマーサポート株式会社
前のメニューに戻る
保守サービス試験サービスサポートサービス信頼できるワケ会社紹介お知らせお問い合わせ
保守サービス
前のメニューに戻る
校正サービス修理サービスWe-MeCその他のサービスサービス可否と料金サービスの保証サービスの依頼方法
校正サービス
前のメニューに戻る
校正サービスの特長校正の内容校正証明書の発行エクスプレス校正サービスお得な校正サービスCal割不具合時の対応
We-MeC
前のメニューに戻る
ご利用方法（ログイン）
試験サービス
前のメニューに戻る
EMC試験サービスHALT試験サービス振動試験サービス
EMC試験サービス
前のメニューに戻る
EMC試験サービスの特長EMC試験内容EMC試験設備EMC試験設備の予約状況EMC試験提供機材その他のEMC関連サービスアンテナ校正サービスEMC試験・アンテナ校正 ご利用料金EMC試験・アンテナ校正 ご利用概要EMC試験・アンテナ校正 お申し込み
HALT試験サービス
前のメニューに戻る
HALT試験とはHALT試験の効果HALT試験 改善事例HALT試験設備HALT試験 ご利用料金HALT試験 ご依頼・お申込み
振動試験サービス
前のメニューに戻る
振動試験設備振動試験 ご利用料金振動試験 ご依頼・お申込み
サポートサービス
前のメニューに戻る
計測テクニカルサポートサービス
信頼できるワケ
前のメニューに戻る
高い技術に支えられた校正アンリツ以外の製品サポートお客さまのご都合に合わせたサービスお得な割引サービス便利なWebサービスサービスメニュー以外の対応お役立ち情報
会社紹介
前のメニューに戻る
会社概要社長メッセージ事業内容採用情報
お知らせ
前のメニューに戻る
計測器・災害ホットラインに関するお知らせ過去のお知らせ
お問い合わせ
前のメニューに戻る
よくあるご質問校正・修理に関するお問い合わせフォームEMC・HALT・振動試験に関するお問い合わせフォームメルマガ配信 変更・停止フォーム
よくあるご質問
前のメニューに戻る
We-MeCに関するFAQ修理に関するFAQ校正に関するFAQ料金に関するFAQその他のFAQ
RF/マイクロ波コンポーネント
前のメニューに戻る
ハイリターンロスコネクタおよびケーブル計測グレードアダプタ精密終端器測定コンポーネントおよび付属品製造中止製品お問い合わせ
サービス アシュアランス
前のメニューに戻る
eoSight Big Data AnalyticsvProbeeoLive Real-time AnalyticseoMind Streaming AnalyticsMasterClaw Monitoringお問い合わせアンリツについて
お問い合わせ
前のメニューに戻る
お問い合わせフォーム
異物・質量検査、計量機器
前のメニューに戻る
製品・ソリューションサポートアンリツインフィビスについてNewsイベント情報お問い合わせナレッジセンタービデオギャラリー
情報通信機器
前のメニューに戻る
帯域制御装置／ネットワークコントローラIPソリューション遠隔監視システム映像情報システム
光デバイス、高速電子デバイス
前のメニューに戻る
光デバイス高速電子デバイス会社紹介お問い合わせ
会社紹介
前のメニューに戻る
会社概要社長メッセージアクセス
お問い合わせ
前のメニューに戻る
お問い合わせフォーム
パートナーソリューション事業
前のメニューに戻る
計測分野から探す製品から探す取扱メーカーから探すパートナーソリューション事業についてお知らせお問い合わせ
計測分野から探す
前のメニューに戻る
熱・温度音・振動ひずみ・応力膜厚・組成
製品から探す
前のメニューに戻る
音源探査システムサーモグラフィカメラ振動コントローラデータ収集システム・ロガーパワーアナライザ膜厚測定・組成分析装置
取扱メーカーから探す
前のメニューに戻る
Brüel & Kjær Sound and VibrationFischer InstrumentsFLIR Systems, Inc.Hottinger Baldwin MesstechnikVibration Research Corporation
お問い合わせ
前のメニューに戻る
お問い合わせフォーム
サービス / サポート
ホーム
電子計測器異物・質量検査・重量選別機器情報通信機器光デバイス、高速電子デバイス
その他の事業サービス
ホーム
ソフト・ハードの設計、開発計測器・情報通信機器の製造切削加工品・板金加工品の設計、製造、販売ドキュメントデザイン・冊子印刷
ソフト・ハードの設計、開発
前のメニューに戻る
提供サービス会社紹介採用情報お知らせお問い合わせ
提供サービス
前のメニューに戻る
製品情報コンサルティングエンジニア技術支援ソフトウェア設計請負ハードウェア設計請負
製品情報
前のメニューに戻る
CE7051A Wi-SUN プロトコルテストセットCE7052A Wi-SUN プロトコルモニタセットCE7054A G3-PLCプロトコルモニタセットME7052A G3-PLC PHYテストシステムMX707801A 自動制御ソフトウェアMX702150B DS-CDMA端末認定支援 ソフトウェアMX702350A LTE端末認定支援ソフトウェアMX702910A ネットワーク エミュレータMX703720A LTE基地局自動測定ソフトウェアMX703721A LTE基地局自動測定ソフトウェア
CE7051A Wi-SUN プロトコルテストセット
前のメニューに戻る
HEMSコントローラ評価ソリューション
MX702150B DS-CDMA端末認定支援 ソフトウェア
前のメニューに戻る
自動試験実施手順
MX702350A LTE端末認定支援ソフトウェア
前のメニューに戻る
報告書作成手順
MX702910A ネットワーク エミュレータ
前のメニューに戻る
特長試験実施手順導入効果適用事例ホームネットワーク機器の通信試験SIP端末の試験IPv6基本試験IP電話端末認定支援シナリオパッケージIoT製品開発向けソリューション固定網製品開発向けソリューションテレマティクス製品開発向けソリューション通信試験効率化ソリューション
ハードウェア設計請負
前のメニューに戻る
ユニット開発電子回路設計プリント配線板設計FPGA設計機構設計
FPGA設計
前のメニューに戻る
FPGA検証手法FPGA設計プロセス
会社紹介
前のメニューに戻る
会社概要社長メッセージ経営理念・行動指針組織図マネジメント体制アクセス
マネジメント体制
前のメニューに戻る
品質管理
採用情報
前のメニューに戻る
アンリツエンジニアリングで働こう新卒採用キャリア採用採用情報に関するソーシャルメディア運営ポリシー
アンリツエンジニアリングで働こう
前のメニューに戻る
会社概要事業内容教育研修制度福利厚生ライフワークバランスとダイバーシティ先輩社員紹介
ライフワークバランスとダイバーシティ
前のメニューに戻る
女性活躍推進活動
新卒採用
前のメニューに戻る
求める人財像募集要項選考プロセス会社説明会FAQ
キャリア採用
前のメニューに戻る
募集要項選考プロセス
お知らせ
前のメニューに戻る
過去のお知らせ
お問い合わせ
前のメニューに戻る
お問い合わせフォーム
計測器・情報通信機器の製造
前のメニューに戻る
主要製品生産体制会社紹介お問い合わせ
会社紹介
前のメニューに戻る
会社概要社長メッセージアクセス
お問い合わせ
前のメニューに戻る
お問い合わせフォーム
切削加工品・板金加工品の設計、製造、販売
前のメニューに戻る
製品サンプル会社紹介お問い合わせ
会社紹介
前のメニューに戻る
会社概要社長メッセージアクセス
お問い合わせ
前のメニューに戻る
お問い合わせフォーム
アンリツについて
ホーム
会社紹介グループ会社研究開発活動グループ会社採用情報投資家のみなさまへサステナビリティ品質と製品安全アンリツのブランドビデオギャラリーニュース
会社紹介
前のメニューに戻る
会社概要トップマネジメントメッセージ経営理念コーポレート・ガバナンス未来創造の軌跡沿革
経営理念
前のメニューに戻る
アンリツグループ企業行動憲章アンリツグループ行動規範
コーポレート・ガバナンス
前のメニューに戻る
企業統治の体制の概要内部統制システム及びリスク管理体制の整備の状況等役員の状況監査の状況役員の報酬等株式の保有状況
未来創造の軌跡
前のメニューに戻る
通信の源流をたどる光通信時代を拓いた“光のアンリツ”世界が高速につながる時代を牽引IPネットワークの普及に対応携帯電話新時代に3Gのリーダーとして“つながる”携帯電話サービスのためにモバイルブロードバンドの広がりを牽引IoT/5Gが拓く未来に向けて食の安全安心に応える食品の大量生産時代を支える世界中の暮らしと命のために
研究開発活動
前のメニューに戻る
研究開発体制アンリツテクニカル先端技術開発知識情報応用開発デバイス開発最新通信計測技術研究開発活動お問い合わせフォーム
グループ会社採用情報
前のメニューに戻る
アンリツ株式会社アンリツインフィビス株式会社アンリツネットワークス株式会社アンリツカスタマーサポート株式会社アンリツエンジニアリング株式会社
アンリツ株式会社
前のメニューに戻る
アンリツで働こう募集案内
アンリツで働こう
前のメニューに戻る
会社概要教育・研修制度福利厚生アンリツで活躍する女性社員先輩社員紹介採用情報お問い合わせ
アンリツで活躍する女性社員
前のメニューに戻る
事務系 海外マーケティング（入社2年目）技術系 テクニカルサポート（入社22年目）技術系 エンジニア（入社26年目）
先輩社員紹介
前のメニューに戻る
ソフトウェア開発（入社2年目）ソフトウェア開発（入社4年目）ソフトウェア開発（入社7年目）ソフトウェア開発（入社14年目）ハードウェア開発（入社4年目）ハードウェア開発（入社6年目）ハードウェア開発（入社12年目）海外マーケティング（入社5年目）海外マーケティング（入社9年目）海外マーケティング（入社15年目）国内営業（入社5年目）法務（入社23年目）経理（入社15年目）ITエンジニア（入社11年目）
採用情報お問い合わせ
前のメニューに戻る
採用情報お問い合わせフォーム
募集案内
前のメニューに戻る
募集要項職種と内容求める人財像会社説明会FAQ中途採用情報
投資家のみなさまへ
前のメニューに戻る
IRニュース会社情報財務・業績概要IR資料室株式・債券情報株主・投資家窓口個人投資家のみなさまへ
会社情報
前のメニューに戻る
会社概要トップマネジメントメッセージコーポレートガバナンスディスクロージャーポリシー
IR資料室
前のメニューに戻る
最新IR資料決算関連資料統合レポート有価証券報告書/四半期報告書中期経営計画/事業説明事業報告書サステナビリティ株主総会資料プレゼンテーション/その他適時開示資料
株式・債券情報
前のメニューに戻る
株価情報(日経会社情報へリンク)株式・社債・格付情報電子公告アナリスト一覧IRカレンダー
株主・投資家窓口
前のメニューに戻る
よくあるご質問お問い合わせ窓口注意事項
お問い合わせ窓口
前のメニューに戻る
IR情報お問い合わせフォーム
個人投資家のみなさまへ
前のメニューに戻る
沿革事業セグメントの紹介製品 / ソリューションサステナビリティ環境個人投資家向け説明会
事業セグメントの紹介
前のメニューに戻る
計測事業プロダクツ・クオリティ・アシュアランス事業その他の事業
サステナビリティ
前のメニューに戻る
サステナビリティレポートサステナビリティ・ESG関連の方針トップマネジメントメッセージサステナビリティ マネジメント国連グローバル・コンパクトへの賛同事業を通じて解決する社会課題人権と多様性の尊重人財育成労働安全衛生サプライチェーンマネジメント品質と製品安全社会貢献活動環境内部統制コンプライアンスの定着リスクマネジメントの推進ステークホルダーへの情報提供とコミュニケーションESGインデックスへの組み入れ状況、外部評価サステナビリティ ニュース
環境
前のメニューに戻る
エクセレント エコ製品グリーン調達環境活動の歴史環境情報お問い合わせフォーム
アンリツのブランド
前のメニューに戻る
アンリツグループ今年の漢字
お問い合わせ
ホーム
アンリツ株式会社について電子計測器コンポーネントサービス アシュアランス異物・質量検査、計量機器情報通信機器光デバイス、高速電子デバイス
電子計測器
 検索 お問い合わせ My Anritsu Japan

伝送装置の物理層評価

伝送装置の物理層評価
伝送装置の物理層評価

 

■クロックリカバリ

アイ/パルスパターン機能のクロックリカバリ（オプション055）は、8.56 GHz～12.5 GHz、0.1 GHz～2.7 GHzに対応しているため、多くのアプリケーションのマスク試験を実行できます。

 

■高速マスク試験

高速サンプリングの実現により、約12秒*という短時間でアイマスクテストが実行できるため、測定時間の短縮に貢献します。

*ビットレート：10.3125 Gbit/s、Testパターン：PRBS 31、Back-to-Back時に100万サンプル取得したときの代表値

製品情報
テクノロジーで探す
製品カテゴリから探す
ビデオギャラリー
総合カタログ
製造中止機種
購入情報
見積り請求フォーム
デモ機・再生品の購入
キャンペーン
光フィールド計測器販売店
レンタル会社
購入お問い合わせ窓口
サポート
修理・校正
テクニカルサポート
試験サービス
ダウンロード
製品の輸出について
製品に関する重要なお知らせ
アンリツについて
ニュースリリース
会社紹介
採用情報
投資家のみなさまへ
サステナビリティ
グループ会社
サイトマップ 個人情報保護について サイト利用規約

Copyright 2019
Select a country/region
Australia Brazil Canada China Denmark Finland France Germany Hong Kong India Italy Japan South Korea Mexico Russia Singapore Sweden Taiwan United Arab Emirates United Kingdom United States 一覧を見る
Confirm your country below to see local events, contact information and special offers.