広帯域4ポートベクトルネットワークアナライザ ME7838A4は、とてもコンパクトなミリ波モジュールで、校正において高い安定度を実現します。従来のモデルに比べ、優れた素の方向性を有しています。そのため、優れた校正安定度と測定安定度により、校正の間隔を長くでき、測定精度と生産性を改善します。
ME7838A4は、3743Aミリ波モジュールを搭載することで、新たなレベルの高性能4ポート広帯域測定を実現します。3743Aモジュールは、アンリツが開発した非線形伝送線路(NLTL)テクノロジが組み込まれている、小型でコンパクトな高性能ミリ波モジュールです。
広帯域ベクトルネットワークアナライザ ME7838シリーズ[VectorStar]は、カプラだけでなくブリッジの構造のRF VNAの機能をもち、優れたダイナミックレンジによりDC付近からの解析(40 kHzから設定可)ができます。
AWR Connected™とアンリツVectorStar
アンリツのベクトルネットワークアナライザ(VNA)VectorStarには、AWR社のMicrowave Office®設計ソフトウェアが装置の標準機能として搭載されており、設計と測定の機能が独自の形で統合されています。このソフトウェアは、デスクトップ上の個別のアプリケーションとしても使用できます。
これにより、高周波IC、PCB、およびモジュール設計に不可欠な以下のすべての設計ツールに、VNAから簡単にアクセスできます。
- 線形回路シミュレータ
- 電磁界(EM)解析ツール
- 統合回路図とレイアウト
これまで目標とされてきた高周波設計ツールと高性能VNAの統合を、アンリツとAWR社が実現しました。
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広帯域4ポートベクトルネットワークアナライザ ME7838A4は、単一周波数掃引で70 kHz~110、125、145 GHzを測定でき、最大でミリ波帯1.1 THzの測定に拡張できます。
- 4ポートの70 kHz~110 GHz/125 GHz広帯域システム
- 最大1.1 THzのミリ波帯モジュールの構成が可能
- 優れた校正と測定の安定性:24時間後で0.6 dBから0.1 dBへ改善
- 3744x-Rx受信モジュールによる125 GHzまでの雑音指数測定
- コンパクトで軽量なミリ波モジュール(従来の3.4 kg(7 lb)から0.3 kg(0.6 lb)以下に、体積は1/50に)。より小さなプローブステーションに低コストで搭載可能
Anritsu has partnered with the following industry-leading companies to provide a variety of proven material measurement capabilities that are compatible with the VectorStar and ShockLine vector network analyzer families.
Material Measurements

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Compass Technology
Choose from off-the-shelf or custom-designed RF material measurement systems able to measure material properties from 100 MHz to 90 GHz. These solutions include: focused beam, resonant cavity, waveguides, spot probes, free space measurement systems, and more.
Anritsu and Compass Technology Group Material Measurements Solutions
Compass Technology Group VectorStar Integration [video]
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Keycom Technologies
Select from a variety of material measurement solutions that leverage various methods including: resonator, frequency change, probe type, co-axial tube and waveguide type S-parameter, free space, capacitance, epsilometery, and more.
Anritsu and Keycom Material Measurement Solution
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SWISSto12
Providing hardware and software technology capable of measuring: solid samples; soft sample and foam; liquid samples and powder; thin films; dielectric coatings and multilayer materials; alumina plate; and more.
Anritsu and SWISSto12 Material Measurement Solution
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