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広帯域ベクトルネットワークアナライザ ME7838A


The VectorStar ME7838x Series broadband VNA offers the widest available 2-port single frequency sweep from 70 kHz to 110, 125, 145, and 220 GHz with mmWave bands up to 1.1 THz
広帯域ベクトルネットワークアナライザ ME7838シリーズ[VectorStar]は、とてもコンパクトなミリ波モジュールで、校正において高い安定度を実現します。従来のモデルに比べ、優れた素の方向性を有しています。そのため、優れた校正安定度と測定安定度により、校正の間隔を長くでき、測定精度と生産性を改善します。

ME7838は、ミリ波モジュール MA25300Aにより、新たなレベルの高性能ブロードバンド測定ができます。MA25300Aは、アンリツが開発した0.8 mm同軸コネクタにより、業界で初めて単一掃引でWbandまでの測定を可能にしました。導波管による測定もできます。

広帯域ベクトルネットワークアナライザ ME7838シリーズ[VectorStar]は、カプラだけでなくブリッジの構造のRF VNAの機能をもち、優れたダイナミックレンジによりDC付近からの解析(40 kHzから設定可)ができます。

アンリツ VectStar に添付された AWR™ AWR Microwave Office Connected - View Full Size

アンリツのベクトルネットワークアナライザ (VNA) VectorStar では、独立して機器に標準搭載されているアプリケーション、AWR 社の Mcirowave Office® Design Softwareを使用することで設計と測定を統合することができます。

これにより高周波用 IC、PCB そしてモジュール設計に必要な以下の設計ツールに VNA からアクセスできるようになりました。

  • リニア回路シミュレータ
  • 電磁界 (EM) 解析ツール
  • 総合回路図とレイアウト


アンリツ及び AWR 社にて実現した高周波設計ツールが搭載された高性能 VNA がすぐにご使用頂けます。

広帯域ベクトルネットワークアナライザ ME7838シリーズ[VectorStar]は、単一周波数掃引で70 kHz~110、125、145 GHzを測定でき、最大でミリ波帯1.1 THzの測定に拡張できます。

  • ME7838A/Eを145 GHzにアップグレード可能
  • 最大1.1 THzまでのミリ波モジュールの構成が可能
  • 優れた校正と測定の安定性: 24時間後で0.6 dBから0.1 dBへ改善
  • All versions support the 3744x-Rx receiver for noise figure measurements, including the ability to characterize differential noise figure, to 125 GHz
  • コンパクトで計量なミリ波モジュール(従来の約3.4 kg(7 lb)から0.3 kg(0.6 lb)以下に、体積は1/50に)。

The following are various published works that have utilized the VectorStar vector network analyzer to conduct their measurements. These papers are the property of their authors who have given Anritsu permission to post these.

3D Smith charts scattering parameters frequency-dependent orientation analysis and complex-scalar multi-parameter characterization applied to Peano reconfigurable vanadium dioxide inductors
Mueller, Andrei A. et al; Scientific Reports, 04 Dec 2019

A novel reconfigurable CMOS compatible Ka band bandstop structure using split-ring resonators and Vadandium Dioxide (VO2) phase change switches
Muller, Anrei A. et al; Infoscience EPFL scientific publications, 22 Aug 2019

Radio-Frequency Characteristics of Ge-Doped Vanadium Dioxide Thin Films with Increased Transition Temperature
Muller, Anrei A. et al; ACS Applied Electronic Materials, 16 Apr 2020

Anritsu has partnered with the following industry-leading companies to provide a variety of proven material measurement capabilities that are compatible with the VectorStar and ShockLine vector network analyzer families.

Material Measurements

Compass Technology Group logo
Compass Technology
Choose from off-the-shelf or custom-designed RF material measurement systems able to measure material properties from 100 MHz to 90 GHz. These solutions include: focused beam, resonant cavity, waveguides, spot probes, free space measurement systems, and more.

Anritsu and Compass Technology Group Material Measurements Solutions
Compass Technology Group VectorStar Integration [video]
KEYCOM Characteristic Technologies logo
Keycom Technologies
Select from a variety of material measurement solutions that leverage various methods including: resonator, frequency change, probe type, co-axial tube and waveguide type S-parameter, free space, capacitance, epsilometery, and more.

Anritsu and Keycom Material Measurement Solution
Swiss to 12 logo
Providing hardware and software technology capable of measuring: solid samples; soft sample and foam; liquid samples and powder; thin films; dielectric coatings and multilayer materials; alumina plate; and more.

Anritsu and SWISSto12 Material Measurement Solution


形名 説明
ME7838A 70 kHz~110 GHz、設定可能範囲: 40 kHz~125 GHz、広帯域 VNA、1 mm 同軸出力
ME7838E 70 kHz~110 GHz、広帯域 VNA、1 mm 同軸出力
ME7838D 70 kHz~145 GHz、広帯域 VNA、0.8 mm 同軸出力    NEW

On-wafer Calibration of the VectorStar ME7838G 220 GHz Broadband System

On-wafer Calibration of the VectorStar ME7838G 220 GHz Broadband System
Configure the LRM calibration

VectorStar ME7838G 220 GHz Broadband VNA Installation on Probe Station Including Probes

VectorStar ME7838G 220 GHz Broadband VNA Installation on Probe Station Including Probes
Using an MPI probe station

Demonstration of UFX Option 21 and Its Advantages

Demonstration of UFX Option 21 and Its Advantages
Type-B network extraction

Mixer Conversion Loss Measurement

Mixer Conversion Loss Measurement
Using an external signal generator


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