第18回 光通信技術展 FOE2018に出展

アンリツ株式会社（社長 橋本 裕一）は、2018年4月4日から4月6日まで東京ビッグサイトにて開催される、第18回 光通信技術展 FOE2018に出展いたします。

出展の背景

4K/8K、モバイルサービスやIoTの拡大、クラウドコンピューティングの普及に伴い、データ通信量は驚異的に増大しています。それに伴い、ネットワークの再構築（Network Reshaping）と呼ばれる、基地局のスモールセル化、光インターフェースの利用、データセンタの増設／拡大、それらを結ぶデータ通信網の高速化、高品質化などさまざまなイノベーションがネットワークインフラ構築において推進されています。

出展ソリューション

アンリツ（西2ホール、小間番号W11-28）は、これらのイノベーションが進む光通信ネットワークを支える測定ソリューションを実機展示します。測定ソリューションに加えて、アンリツデバイス社製の光デバイス/高速電子デバイスも展示いたします。

さらに、光通信／映像／モバイルネットワークを支えるデバイスの測定ソリューションを同時展示いたします。

展示ソリューション

① PAM4^※1エンファシス信号発生とジッタトレランステストに対応したBERT^※2 MP1900A（新製品）

② 100 GbE/200 GbE/400 GbE光モジュールの製造に適したAll-in One 4chBERT & サンプリングオシロスコープ MP2110A

③ フィールドでのPTP^※3時刻同期検証に最適なトランスポートテスタ MT1000A

④ 4K/8K映像伝送ネットワークのパケットジッタ評価をサポートする100Gトランスポートテスタ　MT1000A

⑤ あらゆる光回線の障害位置探索を強力にサポートするOTDR^※4　MT1000A

⑥ 手のひらサイズのミリ波帯スペアナ　MS2760A

⑦ ベクトルネットワークアナライザによるE/O、O/E^※5デバイスの低コスト評価システム　MS4640B

⑧ 4K/8Kハイビジョン放送用コンポーネント測定を低価格で実現するベクトルネットワークアナライザ ShockLineVNAシリーズ

これらの測定ソリューションに加えて、アンリツデバイス社製のEDFA/FRA^※6用高出力LD^※7（新製品）など、光デバイス/高速電子デバイスも展示いたします。

[FOE2018のアンリツブースについて詳しくはこちらから]

用語解説

[※1] PAM: Pulse Amplitude Modulation

PAMは、振幅変調により伝送容量を向上させる方式。PAM4は4値での振幅変調方式。

[※2] BERT: Bit Error Rate Tester

BERは、ビット誤り率。ランダムに伝送したデジタルデータを復調した際の誤りデータの比率。

[※3] PTP: Precision Time Protocol

IEEE1588規格で定義された、ネットワーク内のデバイスの時刻を高精度で同期するためのプロトコル。

[※4] OTDR: Optical Time Domain Reflectometer

光ファイバーの伝送損失や距離測定、断線箇所の検出、融着接続やコネクタ接続などの接続損失や反射減衰量などの測定器。

[※5] E/O、O/E: Electrical Optical、Optical Electrical

E/Oは電気から光への変換、O/Eは光から電気への変換を表す。

[※6] EDFA/FRA: Erbium Doped Fiber Amplifier/ Fiber Raman Amplifier

EDFAはエルビウム添加光ファイバー増幅器、FRAはファイバラマン増幅器を表す

[※7] LD: Laser Diode

半導体の再結合発光を利用した半導体レーザー。