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HALT試験とは

HALT試験(Highly Accelerated Limit Test)は、被試験物に対して仕様を超える温度・振動ストレスを印加して稼動限界・破壊限界を見極め、機器に潜在する「故障の芽」を早期に発見し、改善することにより短期間で信頼性を向上させるための試験です。規格に基づいて合否を判定する試験ではありません。

HALT試験とは

試験対象機器

電子計測器、通信装置、ネットワーク機器、医療機器、非常用警報機器、移動体搭載電子機器、防衛電子機器、携帯電話、デジタルカメラ、パソコン、ディスプレイ、プリンタ、コピー機等電気、電子回路を搭載したものはほとんどが対象となります。

HALT試験ストレスパターン

​稼動限界、破壊限界を製品仕様から遠ざけ、稼動、破壊余裕を拡大することにより信頼性向上を図ります。

HALT試験ストレスパターン

加熱ステップスト​レス試験例

稼動限界、破壊限界を製品仕様から遠ざけ、稼動、破壊余裕を拡大することにより信頼性向上を図ります。

加熱ステップスト​レス試験例

稼動限界

機能テストがOKとなる限界負荷(この例では65℃)

破壊限界

負荷を軽くしても機能テストがNGとなる負荷(この例では90℃)

印加ストレス​パターン例

印加ストレス​パターン例

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