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Shockline 2-Port Performance RF VNA MS46522B with monitor

ShockLine™ 高性能 2 埠 向量網路分析儀

MS46522B
此產品已停產
Overview

ShockLine™ MS46522B 2 埠向量網路分析儀系列,具備前所未有的高價值與高性能,可提供同類產品中最佳的動態範圍,降低在多種測試應用 (最高 92 GHz) 中的測試成本並可加快上市速度。這些測試應用包括設計和製造行動網路設備、行動裝置、汽車電纜、高速資料互連與系統整合元件。

MS46522B 配置選項 10、選項 20 及選項 40,可具備射頻微波頻率功能;這些頻率選項搭配強大的 ShockLine 軟體,為被動元件量測提供最具成本效益的解決方案。

選項 82 是 2 埠 MS46522B 的 E-Band 頻率選項,為毫米波量測市場提供前所未有的高性能及經濟效益。MS46500B 系列滿足 E-band 應用需求,提供 55 GHz 至 92 GHz 毫米波選項,使其成為生產 E-band 元件市場的最佳選擇。

MS46522B 系列採用 3U 主機機箱,使用與 ShockLine 系列其他産品相同的 GUI、軟體、命令語法、驅動程式和程式設計環境。

  • 高輸出功率可以測量高衰減裝置
  • 業界領先的動態範圍可以測量超低反射偽像 (reflection artifact)
  • 出色的校正指向性可最小化測量的不確定性
  • SmartCal 自動校準裝置可以減少校準及設定的時間
  • 搭配時間閘控選項的時域功能可輕鬆迅速地識別異常
  • 遠端控制的最新 LAN 介面比 GPIB 更快
  • ShockLine 系列通用 GUI 和 SCPI 介面
  • E-Band 向量網路分析儀
    • 擴充頻率範圍,包含 E-band 及V band 主要頻率
    • 整合式系統避免安裝錯誤、提高可靠度
    • 連線模組直接連接待測物以提升量測穩定性
應用

Mobile

  • UE – 微型同軸 RF 連接器
  • UE – 天線、開關、雙信器、UE 前端模組 (FEM)
  • 5G 網路元件

汽車

  • RF (FAKRA) 連接器
  • 駕駛輔助雷達

General Purpose

  • 被動元件測試
    • 連接器
    • 電纜
    • 機電
    • 開關
    • 衰減器
    • 耦合器
    • 濾波器
    • 隔離器
    • 循環器
    • 移相器
    • 雷達連接器
    • 近場及遠場天線量測

系統整合應用

  • 系統校準
  • 路徑損耗特性
  • 一般 S 參數及時域測量
選項

頻率選項

選項 說明
MS46522B-010 50kHz — 8.5 GHz
MS46522B-020 50 kHz — 20 GHz
MS46522B-040 50 kHz — 43.5 GHz
MS46522B-082 55 GHz — 92 GHz


其他選項


選項 說明
MS46522B-001 機架式安裝,添加把手並去除腳輪,可適用 19 英吋通用機架
MS46522B-002 時域搭配時間閘控選項
資料庫
IMAGES
VIDEOS
E-band dielectric material measurement using a ShockLine Vector Network Analyzer

E-band dielectric constant
E-band dielectric material measurement using a ShockLine Vector Network Analyzer

Antenna radiation pattern measurements using ShockLine Vector Network Analyzer

Antenna Measurements
Measure radiation patterns in the E-band range using ShockLine
Vector Network Analyzers

Demonstrating ShockLine E-band VNA Solution at IMS 2016

E-band VNA Solution
Demonstrating ShockLine E-band VNA solution and Diamond Engineering, during IMS 2016

ShockLine Performance MS46500B series Demo

ShockLine Performance
2 and 4 port solution, all sources sweep at the same time, all s-parameters in a single sweep

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