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安立知 VectorStar 向量網路分析儀新增業界首創的雜訊指數量測功能

2012/6/25
VectorStar 提供射頻 /微波放大器設計者、模組開發商及製造商唯一具備70 kHz 至 125 GHz雜訊指數量測功能的 VNA 平台

Montreal –2012 年6月19安立知(Anritsu Company)(IMS展示攤位#807)針對其VectorStar MS4640AME7838A向量網路分析儀 (VNA)推出業界首創的雜訊指數量測功能,為射頻/微波放大器設計者、模組開發商和製造商提供前所未有的量測功能。選配MS4640A-041將使VectorStar 成為唯一具備70 kHz ~125 GHz雜訊指數量測功能的VNA系列,獨特的接收器設置更使30GHz ~ 125 GHz之量測得以有效進行。透過此一新功能的發表,安立知持續展現其於VNA和毫米波技術之領導地位。 

雜訊指數量測可使測試工程師確定雷達、無線通訊和數位通訊應用中來自零組件的潛在訊號雜訊比衰減。這些工程師往往需要在更高效能的設計要求,及較短的時間及較少預算等相互衝突的需求間取得平衡。安立知的VectorStar系列無異提供了領導技術、高效能、易用性和彈性的獨特結合。

業界首創可使用於VNA的雜訊指數量測接收器(執行於125 GHz)為安立知技術領導地位的一個實例。其著重於提升雜訊效能和降低對源阻抗的敏感性之獨特設計,為廣泛多樣化主動元件之高品質微波和毫米波雜訊指數量測提供了強大功能。 

對於缺乏經驗的測試工程師而言,裝配雜訊指數測試裝置是極具挑戰性的工作。為確保足夠的靈敏度,以達到高品質量測,往往需在量測接收器前加裝前置放大器和濾波器。如果放大不足,可能使儀器的類比/數位轉換器產生過度抖動;但若增加太多電力或放大,壓縮可能影響量測結果。這兩個限制構成了有效雜訊指數量測的範圍,並限縮了使用者在選擇前置放大器和濾波器上的彈性。挾著高效能VectorStar架構的優勢, MS4640A-041 option可提供更廣泛的雜訊指數量測範圍及更高的配置彈性。此外,安立知的領導技術更將簡單、低成本的終端,而非特定的雜訊源,納入成為冷源的雜訊指數量測方法之一,造就了更易於使用、更具彈性的測試系統。 

VectorStar將持續納入雜訊指數量測功能以進行主動元件測試。VectorStar系列已具備如獨特增益壓縮功能之特性,讓使用者可在401頻率範圍內顯示增益壓縮,以在DUT的操作頻寬進行效能特性描述。若需要於晶圓層次進行主動元件測試,可利用VectorStar平台之源的主動和被動調整及負載阻抗,以協助掌握基本和諧波內容,確保測試過程中的最佳DUT效能。

 

關於 Anritsu

Anritsu 集團創建於 1895 年,目前是國際上最主要的量測儀器製造商之一。全球總部設於日本厚木市,研發單位及製造工廠位於日本、美國、英國及丹麥等,Anritsu 產品包括無線通訊測試、微波射頻元件測試、數據通信測試、光元件特性測試等,特別在第三代及第四代行動通訊領域的測試系統占國際領先地位。Anritsu產品包括:頻譜分析儀、網路分析儀、訊號產生器、無線通訊綜合測試儀、通訊協定分析儀、藍牙測試儀、數據品質分析儀、光時域反射儀及各類手持式分析儀,產品跨及商用、民生、國防領域。Anritsu 還提供精密微波/RF元件、光學元件、通訊系統的高速電子元件。Anritsu 的辦事處遍佈全世界,在 90 多個國家銷售產品,擁有大約 4,000 名員工。

安立知股份有限公司為 Anritsu 在台分公司。除了台北總公司之外,新竹也設立辦事處,為客戶提供產品、技術應用及售後服務等全方位服務。

 

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