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歡迎報名-安立知LTE市場趨勢與測試應用研討會

2011/6/15

安立知(Anritsu)將於2011年7月12日及14日分別在新竹科技生活館與台北集思台大會議中心,辦理「LTE市場趨勢與測試應用研討會」,歡迎踴躍報名參加。

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時間

新竹場次-2011 年7月12日(週二) 

台北場次-2011 年7月14日(週四)

地點

新竹場次-科技生活館 202會議室 (新竹市科學園區工業東二路1號) 地圖

台北場次-集思台大會議中心 蘇格拉底廳 (台北市羅斯福路四段85號B1 國立台灣大學第二活動中心內) 地圖

主辦單位:台灣區電機電子工業同業公會(TEEMA)、安立知股份有限公司(ANRITSU)

參加費用:免費

本研討會提供:精美課程講義、精緻餐點,會後將進行抽獎活動。

內容簡介

長程演進計畫(LTE)的發展聲勢日益高漲,是最被看好的行動通訊系統,在3G與4G技術的世代交替之際,正是群雄競逐商機的最佳時機。LTE量測設備領導品牌- 安立知(Anritsu)深知您在測試上的需求,在LTE FDD/TDD上皆推出從RF到Protocol最穩定的解決方案,而承襲MD8470A新品MD8475A訊令測試儀,將首次在台灣亮相;想知道LTE測試是可以多麼簡單容易上手嗎?安立知竭誠邀請您報名參加,每場次僅限120位貴賓,欲報從速!

報名方式:

線上報名,請至http://tinyurl.com/4xy6kal 填妥表格後送出,即可完成報名。

聯絡電話:(02)8792-6666-233鄭先生

議程:

時 間

主 題

講 師

13:10~13:20

報到

 

13:20~13:30

開場

 

13:30~14:00

LTE Requirements for GCF and PTCRB

台灣檢驗科技股份有限公司

電子通訊實驗室行動通訊部門經理 郭金興 Ben Kuo

14:00~14:30

LTE FDD/TDD訊令測試解決方案

台灣安立知 產品技術副理

薛伊良 Petrushka Hsueh

14:30~15:00

All in One 人性化的手機應用測試解決方案

15:00~15:30

Coffee Break

 

15:30~16:10

LTE連網展示- MD8475A

台灣安立知 產品技術副理

薛伊良 Petrushka Hsueh

16:10~16:40

LTE FDD/TDD射頻量測與自動化測試

台灣安立知 技術副理

吳錫坤 Howard Wu

16:40~

Q&A及抽獎活動

 

*主辦單位保留活動議程更動權利,若有變更將另行通知。

*若遇不可抗拒之因素如颱風、地震等,將以氣象局公告為基準,取消或延後本次研討會。

在下面確認您所在國家/地區,以查看當地活動、聯絡資訊和特惠活動。