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MD8430A信令测试仪支持 1 Gbps数据传输率的 LTE-Advanced Pro仿真测试功能

2016/11/7

安立公司(总裁)针对其MD8430A信令测试仪新推出以下6款新选件来支持LTE-Advanced/LTE-A Pro测试。

  • LTE DL 4 Carrier Aggregation Option
  • LTE Licensed Assisted Access (LAA) Option
  • LTE Dual Connectivity Option
  • LTE DL 8x4 MIMO Option
  • LTE 8x4 MIMO Fading Option
  • LTE UL 2x2 MIMO Option
  • MD8430A-088
  • MD8430A-072
  • MD8430A-073
  • MD8430A-076
  • MD8430A-059
  • MD8430A-078

MD8430A信令测试仪是一款可支持LTE-A Pro标准的基站仿真器。通过增加这些新开发的选件,可以模拟LTE-A Pro网络来支持下行8x4 MIMO、下行8x4 MIMO衰落及上行2X2 MIMO、4CA、LAA及Dual Connectivity环境下的LTE-A-Pro终端的通信速度测试与验证。安立公司还在计划在MD8430A上增加更多功能选件来帮助LTE-A Pro业务的进一步开发。

[开发背景]

LTE-A Pro采用了载波聚合(CA)技术来扩展通信带宽,及多天线技术来支持静止状态及低速移动下达到超过3 Gbps数据传输速度,在高速移动下达到1 Gbps数据传输速度。开发LTE-A Pro终端需要以下评估测试:

  • 在支持更高吞吐率的更多子载波环境下进行测试
  • Dual Connectivity测试:从多个基站发送数据来提升数据吞吐率,不依赖于子载波个数即使频率资源有限
  • 辅助授权接入(LAA)测试会使用授权频段及非授权频段上的载波聚合来利用非授权频谱资源来通信
  • 更高阶的MIMO及上行MIMO测试支持更高数据吞吐率
  • 在MIMO衰落环境下测试实际通信速度

安立公司已经通过增加上述测试功能扩展了其MD8430A信令测试仪的测试能力。

[产品概括]

MD8430A信令测试仪是一款可支持LTE-A Pro标准的基站仿真器。通过增加这些新开发的选件,可以模拟LTE-A Pro网络来支持8x4 MIMO、8x4 MIMO衰落及上行MIMO环境下的4CA、LAA及Dual Connectivity技术,测试LTE-A-Pro终端的通信速度。MD8430A衰落功能可以被用于配置衰落环境,实现天线之间的优良相对电平精度的高复现性。另外,它也可以支持芯片开发阶段调试问题所需要的慢时钟测试。

MD8430A可以在同一频段上输出多个信号,以缩减在同一频段上增加子载波数量而对发射信号数量增加的需求导致的MD8430A数量的需求。与RTD开发工具结合,可以利用图形界面来创建测试序列,便于模拟MIMO环境下的基站功能及配置多重测试环境,比如很难在现实网络中复现的环境。衰落也能够与通信测试进行同步,因为衰落功能是在MD8430A上直接支持及被同一接口来控制。

[目标市场与应用]

  • 目标市场:芯片厂商、模块厂商、移动终端厂商、通信运营商
  • 目标应用:芯片、模块与移动终端的开发;运营商终端接受测试
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