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mp2100b

BERTWave™

MP2100B
이 제품은 생산 중단되었습니다
Overview
  • 4ch BER 측정기(BERT)와 샘플링 오실로스코프를 1대에 내장
  • 4ch 동시 비트 에러 레이트 측정(BER 측정)이 가능
  • 고품질 파형의 PPG (지터 1ps (rms))
  • 고수신 감도 ED (최저 수신 감도 10 mVp-p)
  • 최대 150 ksample/s 의 고속 아이 마스크 시험, 아이 패턴 분석을 실현
  • 차동신호의 비트 에러 레이트 (BER 측정), 아이 마스크 시험, 아이 패턴 분석에 대응
  • 다양한 어플리케이션에 대응한 베셀 필터를 최대 6종류까지 탑재 가능
  • 깊이 18 cm 의 콤팩트한 광 모듈 평가용 측정기
  • 지터 및 아이 패턴, 아이 마스크 동시 측정이 1대로 실시 가능
  • 모든 WDP 측정 지원
  • 샘플링과 동시에 이퀄라이저・엠퍼시스의 최적치를 연산하여 아이패턴 표시 가능
  • 시뮬레이션 파형의 아이 패턴, 아이 마스크, 지터의 동시 측정이 가능
BERTWave MP2100B는 BER 측정기 (BERT) 와 샘플링 오실로스코프를 1대에 탑재한 측정기입니다. BERTWave MP2100B는 비트 에러 레이트 (BER 측정), 아이 마스크 시험, 아이 패턴 분석 등의 광모듈 시험을 1대로 실시할 수 있습니다.

BER 측정기 (BERT) 와 샘플링 오실로스코프는 광통신 시스템에서 이용되는 광모듈 시험을 위해 필수적인 측정기입니다. 이제까지 QSFP+나 SFP+로 대표되는 광모듈 시험에서는 BER 측정기 (BERT) 와 샘플링 오실로스코프를 각각 1대씩 갖출 필요가 있었습니다. 그러나 BERTWave MP2100B는 최대 4ch의 BER 측정기 (BERT) 와 샘플링 오실로스코프를 깊이 18 cm의 콤팩트한 1대의 측정기에 집약했습니다. 그로 인해 측정기 설비투자비 절감에 크게 공헌하고 공간 비용 절감에도 공헌합니다. 또한 BERTWave MP2100B는 케이블 연결을 바꾸지 않고 비트 에러 레이트 측정 (BER 측정) 과 아이 마스크 시험, 아이 패턴 분석을 동시에 실시할 수 있으므로 측정 시간을 크게 단축할 수 있습니다. 나아가, BER 측정기 (BERT) 의 채널 수를 최대 4ch까지 확장할 수 있기 때문에 4ch 동시 비트 에러 레이트 측정 (BER 측정) 과 아이 마스크 시험, 아이 패턴 분석을 동시에 실시할 수 있습니다. 또한, SFP+도 탑재 가능해서 광원을 별도 준비할 필요가 없습니다.

BERTWave MP2100B의 BER 측정기 (BERT) 는 최대 125 Mbit/s에서 12.5 Gbit/s까지의 비트 에러 레이트 측정 (BER 측정) 이 가능합니다. 또한 옵션에 따라 4ch의 BER 측정기 (BERT) 를 탑재 가능하므로 QSFP+나 AOC 등의 멀티 채널 광모듈의 테스터를 간편하게 구축할 수 있습니다. 차동신호 또한 비트 에러 레이트 (BER 측정) 뿐만 아니라 아이 마스크 시험이나 아이 패턴 분석을 지원하고 있습니다.

BERTWave MP2100B의 샘플링 오실로스코프는 전기 인터페이스인 경우 25 GHz (대표값), 광 인터페이스인 경우 9 GHz (대표값) 의 대역을 가지고 있습니다. 또 샘플링 오실로스코프로 광신호를 측정하기 위해 필요한 베셀 필터를 최대 6종류까지 탑재할 수 있습니다. 이들 베셀 필터를 사용함으로써 1대로 다양한 어플리케이션을 소광비 측정, 아이 마스크 시험, 아이 패턴 분석을 실시할 수 있습니다. 또한, BERTWave MP2100B의 샘플링 오실로스코프는 측정 속도의 고속화를 꾀하기 위해 Fast Sampling Mode를 표준 탑재하였습니다. 이 Fast Sampling Mode를 사용함으로써 최대 150 ksample/s의 샘플링 스피드 (종래 기종의 약 1.5배 속도) 를 실현했습니다. 그렇기 때문에 고속 아이 마스크 시험, 아이 패턴 분석을 실시할 수 있습니다.

지터 분석 소프트웨어 MX210001A를 사용함으로써 지터 분석, 아이 패턴 및 아이 마스크 측정을 1대로 동시에 측정할 수 있으며, 나아가 150 ksample/s의 고속 샘플링을 실현했기 때문에 측정 시간의 추가적인 효율화를 실현할 수 있습니다. 그리고, MATLAB® 과 조합합으로써 WDP, TWDP, dWDP의 측정에 대응하고 있기 때문에 특정 신호의 파형 분산을 측정할 수 있습니다.

또한, 전송 분석 소프트웨어 MX210002A의 추가에 의해 디바이스의 전송 분석 (S21게인 및 위상), 리니어 이퀄라이저・필터・엠퍼시스 연산을 한 파형 시뮬레이션 기능 (De-Embedded) 을 제공합니다. 파형 샘플링과 동시에 파형 시뮬레이션을 할 수가 있으며, 아이 패턴이나 아이 마스크 측정도 동시에 할 수 있습니다. 더욱이, MX210001A와 조합함으로써 시뮬레이션 후의 파형에서 지터 측정도 동시에 할 수 있습니다.

MATLAB® 은 The MathWoks inc.사의 등록상표입니다.




BERT

동작 비트율 MP2100B-092 탑재 시 MP2100B-092 비탑재 시
PPG, ED 공통:
가변 비트율 범위 (1 kbit/s단계)
   125 Mbit/s~12.5 Gbit/s
PPG, ED 공통:
가변 비트율 범위 (1 kbit/s단계)
   8.5 Gbit/s~11.32 Gbit/s

1/N 비트율 동작 범위
   N=2: 4.25 Gbit/s to 5.66 Gbit/s
   N=4: 2.125 Gbit/s to 2.83 Gbit/s
   N=8: 1.0625 Gbit/s to 1.415 Gbit/s
   N=16: 531.25 Mbit/s to 707.5 Mbit/s
   N=32: 265.625 Mbit/s to 353.75 Mbit/s
   N=64: 132.813 Mbit/s to 176.875 Mbit/s
테스트 패턴 PRBS: 27-1, 29-1, 215-1, 223-1, 231-1 (반전ON/OFF)
사용자 데이터: 1.3 Mbits 프로그래밍 지원 (CJPAT 같은 샘플 패턴 표준 탑재)
전기 데이터 출력 Data, Xdata
진폭 0.1 Vp-p~0.8 Vp-p
전기 데이터 입력 Data, Xdata
O/E 입력 광신호
파장 범위 750 nm~1650 nm
SFP+슬롯(옵션 051) SFP+슬롯

샘플링 오실로스코프

대역폭 (-3 dB)/td> 전기: DC~20 GHz (최소), DC~25 GHz (대표값)
광: DC~9GHz (대표값, 필터가 없을 때의 전기 -3 dB 컷오프 시)
디스플레이 아이 패턴, 펄스 패턴, 코히런트 아이
측정 기능 통계(NRZ), 히스토그램, 마스크 적합성
샘플링 속도 Normal: 100 ksample/s (typ.)
Fast Sampling Mode: 150 ksample/s (max.)
O/E 입력 (옵션 023) 광신호
파장 범위 750 nm~1650 nm
클럭 복구 (옵션 055) 0.1 GHz~2.7 GHz, 8.5 GHz~12.5 GHz

지터 분석 소프트웨어MX210001A

동작 조건 라이선스 정보가 정확한 MP2100B에 설치할 때만 동작함
설치 프로그램이 V3.00.00 이상과 함께 실행됨
기타 사용 조건은 MP2100B 시리즈를 따름
WDP는 MATLAB R2010b SP1에서 실행됨
측정 알고리즘 히스토그램 모드, 패턴 검색 모드
히스토그램 모 측정 항목 TJ (1.0E-12), TJ (사용자 지정), RJ (d-d), DJ (d-d), DDPWS, J2 지터 분석, J9 지터 분석, 아이 오프닝
패턴 검색 모드 측정 항목 TJ (1.0E-12), TJ (사용자 지정), RJ (d-d), RJ (rms), DJ (d-d), PJ (p-p), DDJ (p-p), DCD, ISI (p-p), 아이 오프닝, J2 지터 분석, J9 지터 분석, DDPWS, PJ 주파수
WDP 측정 MathWorks의 MATLAB® 2010b 설치 필요
측정 항목 WDP, dWDP, TWDP, dTWDP, WDPc, dWDPc, TWDPc, dTWDPc

전송 분석 소프트웨어 MX210002A

동작 조건 라이선스 정보가 정확한 MP2100B에 설치할 때만 동작함
V3.00.00 이상 설치 프로그램과 함께 실행됨
기타 사용 조건은 MP2100B 시리즈를 따름
측정 모드 전송 분석, 파형 추정
전송 분석 측정 항목 게인 그래프, 위상 그래프, 그룹 딜레이 그래프 (위상 그래프와 그룹 딜레이 그래프 전환 디스플레이)
파형 추정 이퀄라이저 설정 계산 시 반사판, 무반사판 선택함
엠퍼시스 형식 2Post/1Pre, 3Post, 1Post/1Pre, 2Post, 1Post
장치 특성 S2P 파일 읽음
지터 분석 MX210001A에서 추정한 파형 계산 결과 표시 (MX210001A가 MP2100B에 설치되어 있을 때만 설정 가능)
종류

소프트웨어

 

지터 분석 소프트웨어
지터 분석 소프트웨어 MX210001A를 사용함으로써 지터 분석, 아이 패턴 및 아이 마스크 측정을 1대로 동시에 측정할 수 있고, 또 고속 샘플링을 실현했기 때문에 측정 시간을 더욱 효율화할 수 있습니다.
게다가, MATLAB과 조합함으로써 WDP, TWDP 및 dWDP 측정에 대응하고 있기 때문에 특성 신호의 파형 분산 측정을 할 수 있습니다.

>>>여기를 클릭하면 MX210001A 지터 분석 소프트웨어에 대해 자세히 확인할 수 있습니다

전송 분석 소프트웨어
번송 분석 소프트웨어 MX210002A를 추가하면 전송 분석(S21 게인 및 위상), 리니어 이퀄라이저, 필터 및 엠퍼시스 연산을 실시한 파형 시뮬레이션(비내장)을 제공합니다. 파형 샘플링과 동시에 파형 시뮬레이션을 할 수 있고 아이 패턴과 아이 마스크 측정도 동시에 할 수 있습니다. 또한, MX210001A와 조합함으로써 시뮬레이션 후의 파형에서 지터 측정도 동시에 가능합니다.

>>>여기를 클릭하면 MX210002A 전송 분석 소프트웨어에 대해 자세히 확인할 수 있습니다.

라이브러리
VIDEOS
MP2100B-E-v1.00

BERTWave MP2100B
는 고속화 된 샘플링 속도와 4 채널 동시 BER 측정을 통해 QSFP 플러스 등 멀티 채널 광 모듈의 효율 측정을 제공합니다.

How to Prevent ESD and EOS Damaging Measuring Instruments and DUT

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