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mp2100b

BERTWave™

MP2100B
この製品は製造中止となっております。
Overview
  • 4ch BER 測定器(BERT)とサンプリング・オシロスコープを1台に内蔵
  • 4ch 同時ビットエラーレート測定(BER測定)が可能
  • 高品質波形のPPG(ジッタ 1 ps(rms))
  • 高入力感度ED(最低受信感度 10 mVp-p)
  • 最大150 ksample/sの高速なアイマスク試験、アイパターン解析を実現
  • 差動信号のビットエラーレート(BER測定)、アイマスク試験、アイパターン解析に対応
  • 多様なアプリケーションに対応したベッセルフィルタを最大6種類まで搭載可能
  • 奥行き18 cmのコンパクトな光モジュール評価用測定器
  • ジッタおよびアイパターン、アイマスクの同時測定が1台で実施可能
  • 各種WDP測定に対応
  • サンプリングと同時にイコライザ・エンファシスの最適値を演算、アイを表示可能
  • シミュレーション波形のアイパターン、アイマスク、ジッタの同時測定が可能
BERTWave MP2100Bは、BER測定器(BERT)とサンプリング・オシロスコープを1台に搭載した測定器です。MP2100Bは、ビットエラーレート(BER測定)、アイマスク試験、アイパターン解析などの光モジュール評価を 1台で実施できます。

BER測定器(BERT)とサンプリング・オシロスコープは、光通信システムで用いられる光モジュール評価のために必須の測定器です。これまで、QSFP+やSFP+に代表される光モジュールの評価においては、BER測定器(BERT)とサンプリング・オシロスコープをそれぞれ1台ずつ用意する必要がありました。しかし、BERTWave MP2100Bは、最大4chのBER測定器(BERT)とサンプリング・オシロスコープを奥行き18 cmのコンパクトな1台の測定器に集約しました。これにより、測定器設備投資費削減に大きく貢献し、スペースコスト削減にも貢献します。 またBERTWave MP2100Bは、ケーブルのつなぎ変えをすることなくビットエラーレート測定(BER測定)とアイマスク試験、アイパターン解析を同時に実施可能であるため、測定時間を大きく短縮できます。 さらに、 BER測定器(BERT)のチャネル数を最大4chまで拡張できるため、4ch同時のビットエラーレート測定(BER測定)とアイマスク試験、アイパターン解析が同時に実施できます。 また、SFP+も搭載可能であり、光源を別途準備する必要はありません。

BERTWave MP2100BのBER測定器(BERT)は、最大で125 Mbit/sから12.5 Gbit/sまでのビットエラーレート測定(BER測定)が可能です。また、オプションにより4chのBER測定器(BERT)を搭載可能であるため、QSFP+やAOCなどのマルチチャネル光モジュールの試験系を容易に構築できます。さらに、差動信号はビットエラーレート(BER測定)だけでなく、アイマスク試験やアイパターン解析にも対応しています。

BERTWave MP2100Bのサンプリング・オシロスコープは、電気インタフェースの場合25 GHz(代表値)、光インタフェースの場合9 GHz(代表値)の帯域を持っています。 また、サンプリング・オシロスコープにて光信号を測定するために必要なベッセル・フィルタを最大6種類まで搭載できます。これらのベッセル・フィルタを使用することにより、1台でさまざまなアプリケーションの消光比測定、アイマスク試験、アイパターン解析を実施できます。 さらに、BERTWave MP2100Bのサンプリング・オシロスコープは、測定速度の高速化を図るため、Fast Sampling Modeを標準実装しました。このFast Sampling Modeを使用することにより、最大150 ksample/sのサンプリングスピード(従来機種の約1.5倍高速)を実現しました。そのため、高速なアイマスク試験、アイパターン解析を実施できます。

ジッタ解析ソフトウェア MX210001Aを使用することにより、ジッタ解析、アイパターンおよびアイマスク測定が1台で同時に測定でき、150 ksample/sの高速サンプリングを実現したため、測定時間の更なる効率化を実現できます。さらに、MATLAB®と組み合わせることによりWDP、TWDP、dWDPの測定に対応しているため、特定の信号の波形分散の測定ができます。

また、伝送解析ソフトウェア MX210002Aの追加により、デバイスの伝送解析(S21ゲインおよび位相)、リニアイコライザ・フィルタ・エンファシス演算を施した波形シミュレーション機能(De-Embedded)を提供します。波形サンプリングと同時に波形シミュレーションができ、アイパターンやアイマスク測定も同時にできます。さらに、MX210001Aと組み合わせることにより、シミュレーション後の波形においてジッタ測定も同時にできます。

MATLAB®は、The MathWoks Inc.社の登録商標です。

 

BERT

対応ビットレート MP2100B-092搭載時 MP2100B-092非搭載時
PPG、ED共通:可変ビットレート範囲(1 kbit/sステップ)
   125 Mbit/s~12.5 Gbit/s
PPG、ED共通:可変ビットレート範囲(1 kbit/sステップ)
   8.5 Gbit/s~11.32 Gbit/s

1/N ビットレート動作範囲
   N=2:4.25 Gbit/s~5.66 Gbit/s
   N=4:2.125 Gbit/s~2.83 Gbit/s
   N=8:1.0625 Gbit/s~1.415 Gbit/s
   N=16:531.25 Mbit/s~707.5 Mbit/s
   N=32:265.625 Mbit/s~353.75 Mbit/s
   N=64:132.813 Mbit/s~176.875 Mbit/s
テストパターン PRBS:27-1、29-1、215-1、223-1、231-1(インバートON/OFF)
ユーザデータ:1.3 Mbits プログラマブル(CJPATなどサンプルパターン標準装備)
電気信号出力 Data、Xdata
振幅 0.1 Vp-p~0.8 Vp-p
電気信号入力 Data、Xdata
O/E 入力(オプション003) 光信号
波長帯域 750 nm~1650 nm

 

サンプリングオシロスコープ

帯域(-3 dB) 電気:DC~20 GHz(最小)、DC~25 GHz(代表値)
光:DC~9 GHz(代表値、フィルタなしでの電気-3 dBカットオフ時)
表示 アイパターン、パルスパターン、コヒーレントアイ
測定機能 スタティスカル(NRZ)、ヒストグラム、マスクコンプライアンス
サンプリング速度 通常時:100 ksamples/s (代表値)
Fast Sampling Mode使用時:150 ksample/s(最大)
O/E入力(オプション023) 光信号
波長帯域 750 nm~1650 nm
クロックリカバリ(オプション055) 0.1 GHz~2.7 GHz、8.5 GHz~12.5 GHz

 

ジッタ解析ソフトウェア MX210001A

動作条件 MP2100Bにインストールし、正しいライセンス情報を書き込んだ場合のみ動作可能
インストーラに関してはV3.00.00以降のみ動作可能
他使用条件は MP2100B シリーズに準拠
MATLAB R2010b SP1においてWDP等の動作可能
測定アルゴリズム ヒストグラム法、パターンサーチ法
ヒストグラム法 測定項目 TJ(1.0E-12)、TJ(ユーザデファイン)、RJ(d-d)、DJ(d-d)、DDPWS、J2ジッタ、J9ジッタ、アイ開口
パターンサーチ法 測定項目 TJ(1.0E-12)、TJ(ユーザデファイン)、RJ(d-d)、RJ(rms)、DJ(d-d)、PJ(p-p)、DDJ(p-p)、DCD、ISI(p-p)、アイ開口、J2ジッタ、J9ジッタ、DDPWS、PJ周波数
WDP測定 WDP測定にはMath Works社製MATLAB® 2010bのインストールが必要
測定項目 WDP、dWDP、TWDP、dTWDP、WDPc、dWDPc、TWDPc、dTWDPc

 

伝送解析ソフトウェア MX210002A

動作条件 MP2100Bにインストールし、正しいライセンス情報を書き込んだ場合のみ動作可能
インストーラに関してはV3.00.00以降のみ動作可能
他使用条件はMP2100Bシリーズに準拠
測定モード トランスミッションアナリシス/ウェーブフォームエスティメイションから選択
トランスミッションアナリシス 測定項目 ゲイングラフ、位相グラフ、グループディレイグラフ
(位相グラフとグループディレイグラフは切替表示)
ウェーブフォーム
エスティメイション
イコライザ設定 計算への反映・無反映を選択可能
エンファシスフォーマット 2Post/1Pre、3Post、1Post/1Pre、2Post、1Post
デバイス特性 拡張子 S2Pファイルを読み出し可能
ジッタ解析 波形予測演算結果をMX210001Aに表示する機能
(MX210001Aがインストールされている場合のみ設定可能)
ラインナップ

ソフトウェア

ジッタ解析ソフトウェア

ジッタ解析ソフトウェア MX210001Aを使用することにより、ジッタ解析、アイパターンおよびアイマスク測定が1台で同時に測定でき、さらに高速サンプリングを実現したため、測定時間の更なる効率化を実現できます。
さらに、MATLAB®と組み合わせることによりWDP、TWDP、dWDPの測定に対応しているため、特定の信号の波形分散の測定ができます。

>>>ジッタ解析ソフトウェア MX210001Aの詳細はこちら

伝送解析ソフトウェア

伝送解析ソフトウェア MX210002Aの追加より、伝送解析(S21ゲインおよび位相)、リニアイコライザ・フィルタ・エンファシス演算を施した波形シミュレーション機能(デエンベデッド)を提供します。波形サンプリングと同時に波形シミュレーションできアイパターンやアイマスク測定も同時にできます。
さらに、MX210001Aと組み合わせる事により、シミュレーション後の波形においてジッタ測定も同時にできます。

>>>伝送解析ソフトウェア MX210002Aの詳細はこちら

ライブラリ
ビデオ
BERTWave MP2100B

BERTWave MP2100B
このビデオでは、4チャネルBERTとサンプリングオシロスコープを一体化したAll in One測定器を紹介します。

光通信技術展 FOE2011 出展者技術セミナー

技術セミナー 「40G/100G測定ソリューション」
光通信技術展 FOE2011 で開催したアンリツの技術セミナーです。

ESD、EOSによる被測定物、測定器の故障を防ぐために

ESD、EOSによる被測定物、測定器の故障を防ぐために
このビデオでは、ESD、およびEOSによる被測定物、もしくは測定器の故障を防ぐために注意すべき内容を紹介します。

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