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SEMICON Japan 2015に出展

2015/12/16

SEMICON Japanで、半導体デバイス測定ソリューションを展示

アンリツは、12月16日から12月18日まで東京ビッグサイトにて開催される、SEMICON Japan 2015に出展します。
東2ホールの当社ブース(小間番号2234)では「Sパラメータからジッタ耐力まで~半導体デバイスの真の実力を把握できるアンリツの測定ソリューション~」をテーマに、プローブステーションを使用したオンウェハ測定ソリューション、ハイビットレートBER測定ソリューション、低価格BER測定ソリューションを展示いたします。

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