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1台の計測器で、BER測定とアイパターン解析を同時に実現

2010/01/20
光アクティブデバイス測定ソリューション強化
MP2100A BERTWaveシリーズの販売を開始

BERTWave (BERT、サンプリング・オシロスコープ) MP2100A

 

アンリツ株式会社(社長:戸田 博道)は、光アクティブデバイス[※1]の評価用計測器として、新たに、MP2100A BERTWaveシリーズを開発。2月17日から販売を開始いたします。

MP2100Aは、光通信システムで用いられる光アクティブデバイスの評価で必須のBER[※2]測定とアイパターン[※3]解析を同時に実行できる計測器です。

従来、光アクティブデバイスのBER測定とアイパターン解析を行う場合、それぞれ専用の計測器が必要でした。

今回アンリツは、これまで蓄積してきたBER測定技術とアイパターンアナライザ解析技術のワンボックス化を図り、1台の計測器で上記測定を同時に実行できるMP2100Aを開発いたしました。

MP2100Aを使用することで、これまでの光アクティブデバイス評価に比べ、計測器の導入コストと測定時間を各々約50%削減でき、製造コスト低減に貢献いたします。

なお、本MP2100Aは、光通信技術展(1月20日~1月22日 東京ビッグサイト)に出展いたします。

[ この製品をもっと詳しく ]

[開発の背景]

光通信システムでは、光トランシーバや光増幅器など各種光アクティブデバイスを組み込んでデータを伝送しています。光アクティブデバイスの評価では、BER測定とアイパターン解析が必須となっています。

アンリツは従来からBER測定用計測器とアイパターン解析用計測器を提供してまいりました。

光通信システムが拡大している今日、光デバイスメーカーでは、競争力強化のために、製造コスト削減に注力していることから、今回、この2つの機能のワンボックス化を図り、MP2100A BERTWaveシリーズを開発いたしました。

MP2100Aを使用することにより、1台の計測器でBER測定とアイパターン解析を同時に実行可能。計測器の導入コストと測定時間を約50%削減でき、製造コスト低減に貢献いたします。


[製品概要]

MP2100A BERTWaveシリーズは、光アクティブデバイスの評価で必須のBER測定とアイパターン解析を可能とする計測器です。BER測定とアイパターン解析を同時に実行できることから、BER測定、アイパターン解析用測定器を個別に用意する必要がなく、製造コスト削減に貢献いたします。

また、BER測定機能のみのMP2101A、アイパターン解析機能のみのMP2102Aもラインアップしており、用途に応じた設備投資が行えます。


[主な特長]

BER測定とアイパターン解析を1台で同時測定

 

MP2100Aは、1台の計測器でBER測定とアイパターン解析を同時に実行できます。BER測定用計測器とアイパターン解析用計測器を個別に用意する必要がなく、計測器の導入コストと測定時間を半減できます。

高速リモート測定

 

光アクティブデバイスの製造評価では、リモートコマンド[※4]を用いて外部PCから計測器を遠隔操作し、自動で測定しています。MP2100Aは、複数の測定コマンドを一括処理できるミックスリモート機能を搭載するなど、コマンド測定の高速化を図り、従来機種の約2/3の時間で、BER測定が行えます。

高速マスク試験

 

MP2100Aは、高速サンプリング[※5]を実現しています。これにより、マスク[※6]試験などのアイパターン解析に要する時間を短縮できます。

高精度な消光比測定

 

光信号のパワー測定は、消光比[※7]のアイパターン解析により行われます。MP2100Aは本消光比測定で必要とされる独自開発の高精度ベッセルフィルタ[※8]、校正機能を搭載しており、理論値に極めて近い消光比を測定できます。


[対象市場・用途]

対象市場

光デバイス、光モジュールメーカー

用途

光アクティブデバイスの製造・開発


[ ※用語解説 ]

[※1] 光アクティブデバイス
光信号を変調したり、電気信号に変換したりする光デバイス。

[※2] BER
ビット誤り率。受信されたデジタルデータのビット列中に含まれる誤ったビットの比率。

[※3] アイパターン
光信号の伝送部品や伝送経路(光ファイバなど)の品質尺度となる波形。計測器の画面上に何回か波形を重ね合わせて描くと波形が目のように見えることからアイパターンと呼ばれる。得られた波形が同じ位置で重なり合っていれば品質が良いが、波形の位置がずれていた場合は波形品質が悪く、信号が正しく伝送されていないと判断する。

[※4] リモートコマンド
外部PCから遠隔操作するための制御コマンド。本コマンドを使用することで、製造ラインで自動検査が可能になる。

[※5] サンプリング
特定かつ等間隔の時間で信号データを取り込む手法。アイパターン解析をするために必要な技術。

[※6] マスク
IEEE(電子電気学会)やITU-T(国際電気通信連合 電気通信標準化部門)などが策定している規格であり、信号品質を判断するための条件。光アクティブデバイスのアイパターンがこのマスクに適合する必要がある。

[※7] 消光比
光信号のハイレベル"1"の平均パワーとローレベル"0"の平均パワーの比。光アクティブデバイスの消光比が各規格に適合する必要がある。

[※8] ベッセルフィルタ
光信号をアイパターン解析する場合に必要なフィルタ。本フィルタを使用することで、規格で要求されているマスクに準拠しているか確認することができる。

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