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パルスパターン発生器/ビットエラーレートテスタ(BERT)

デバイス&コンポーネント測定器 パルスパターン発生器/ビットエラーレートテスタ(BERT)
ビットエラーレート測定(BER測定)には、光モジュールや高速デバイスの品質の評価・管理を目的とした幅広い測定需要が存在します。アンリツのパルスパターン発生器/エラーディテクタ(BERT)は、100 Mbpsから56 Gbpsまでの動作周波数に対応し、さまざまなアプリケーションの測定をサポートすることにより、これらの測定需要に応えます。
また、アンリツは、光モジュールや高速デバイスの高確度なBER測定のために豊富なラインアップをそろえています。この多彩なラインアップの中から、ニーズに合ったBERTをお選びいただけます。
Model Number
対応規格
ビットレート
インタフェース
mp2100b-small
MP2100B
BERTWave™
SDH/SONET
OTN
イーサネット
ファイバチャネル
BERT:125 Mbit/s — 12.5 Gbit/s
スコープ帯域(-3 dB):25 GHz
BERT:4ch 差動電気
スコープ:差動電気/光
シグナル クオリティ アナライザ MP1800A
MP1800A
シグナル クオリティ アナライザ
CEI-28G
PCI express
InfiniBand
100Gイーサネット
100 Mbit/s — 32.1 Gbit/s 差動電気/
56G/64G bit/s MUX MP1861A
MP1861A
56G/64G bit/s MUX
CEI-56G
Infiniband
400Gイーサネット
ファイバチャネル
8 Gbit/s — 56.2 Gbit/s
8 Gbit/s — 64.2 Gbit/s (Opt. x01)
差動電気
56G/64G bit/s DEMUX MP1862A
MP1862A
56G/64G bit/s DEMUX
CEI-56G
Infiniband
400Gイーサネット
ファイバチャネル
8 Gbit/s — 56.2 Gbit/s
8 Gbit/s — 64.2 Gbit/s (Opt. x01)
差動電気
4タップ エンファシス MP1825B
MP1825B
4タップ エンファシス
CEI-28G
PCI express
InfiniBand
100 GbE
1 Gbit/s — 14.1 Gbit/s (MP1825B-001, 005)
1 Gbit/s — 32.1 Gbit/s (MP1825B-002, 006)
差動電気
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